0% нашли этот документ полезным
Загрузка
Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Документ
Proceedings of Spie: Determination of Residual Stress in Low-Temperature PECVD Silicon Nitride Thin Films
Добавлено behzadjazi
Документ
Proceedings of Spie
Добавлено behzadjazi
Документ
Dissertation Voor Bib
Добавлено behzadjazi
Документ
Silicon Nitride Cantilevers With Oxidation-Sharpen
Добавлено behzadjazi
Документ
Financial Model
Добавлено behzadjazi
Документ
Background Information
Добавлено behzadjazi
Документ
Silicon Nitride Films Deposited by RF Sputtering For Microstructure Fabrication in MEMS
Добавлено behzadjazi
Документ
Thesis Proposal
Добавлено behzadjazi
Документ
Pump Term - Behzad Karimi
Добавлено behzadjazi
Документ
AlN Matrix
Добавлено behzadjazi