0% нашли этот документ полезным
Загрузка
Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Документ
Delft University of Technology: 10.1109/JESTPE.2019.2947645
Добавлено Sayed Sadat
Документ
A Brief Review of Single Event Burnout Failure Mechanisms and Design Tolerances of Silicon Carbide Mosfets
Добавлено Sayed Sadat
Документ
Overview of Silicon Carbide Technology: Device, Converter, System, and Application
Добавлено Sayed Sadat
Документ
DRM 2021 COURET Submission
Добавлено Sayed Sadat
Документ
Reliability Concerns For Flying Sic Power Mosfets in Space
Добавлено Sayed Sadat