0% нашли этот документ полезным
Загрузка
Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Документ
7.uncertainty of VNA S-Parameter Measurement Due To Nonideal TRL Calibration Items
Добавлено Panda lin
Документ
Dielectric Material Characterization Up To Terahertz Frequencies Using Planar Transmission Lines
Добавлено Panda lin
Документ
On-Wafer Microwave Measurements and De-Embedding (Errikos Lourandakis)
Добавлено Panda lin
Документ
Characterization and Design of CMOS Components For Microwave and Millimeter Wave Applications.
Добавлено Panda lin