Измерение кварцевых резонаторов

в «AVR transistortester»

Pieter-Tjerk де Бур, PA3FWM pa3fwm@amsat.org

Перевод на русский язык - indman, март 2018г

(Это небольшой отрывок из статьи, которую я написал для голландского радиолюбительского

журнала Electron, август 2016 г.)

Ранее [12] я объяснил, как модифицировал прошивку микропроцессора для тестера AVR,
чтобы измерять малые индуктивности. Подключив их параллельно известной ёмкости и
возбуждая эту LC-цепь импульсом можно измерить резонансную частоту. Возможно ли этим
методом измерить резонансную частоту кварцевого кристалла? В итоге мне удалось сделать
такое измерение, но это оказалось намного сложнее, чем первоначально предполагалось ...

Цепи LC могут возбуждаться одним импульсом , затем хорошо резонировать и

измеряться, но кварцы этого не делают. Чтобы получить резонанс достаточной амплитуды с
кристаллом, мы должны его возбуждать не одним импульсом, а несколькими импульсами,
синхронизированными так, чтобы фронт каждого следующего импульса находился в фазе с
фронтом предыдущего импульса, что немного увеличит амплитуду. Но, если вы не знаете
резонансную частоту, вы также не знаете, какова соответствующая длительность для импульсов.
Единственный выход - попробовать множество разных частот - на каждой частоте генерировать
несколько десятков импульсов и проверять, резонирует ли кристалл.

Как только кристалл резонирует, мы можем измерить переменное напряжение на нём,

используя трюк выборки, который я описал ранее, и таким образом измеряем частоту.
Следующая проблема заключается в том, что микроконтроллер синхронизируется «только» на
частоте 16 МГц. Поэтому наши тестовые сигналы имеют паузу по меньшей мере 1/16 мкс, что
означает сглаживание около 8 МГц для сигналов и кристаллов. Частоту 7 и 9 МГц трудно
отличить. Для этого я придумал следующее решение, которое имеет приятную
дополнительную особенность - можно измерить подвижную емкость кристалла а также
разницу между её параллельным и последовательным резонансом (см. объяснения ).

Если мы просто возбудим кристалл с помощью последовательности импульсов, он будет

резонировать на своей параллельной резонансной частоте, которая определяется Lm
параллельно с последовательной схемой Cm и Cp. Но, если мы сделаем короткое замыкание
для кварца, Cp больше не участвует и кристалл возбуждается на своей последовательной
резонансной частоте, которая несколько ниже. Мы не можем измерить её напрямую, потому
что из-за короткого замыкания на кварце нет напряжения. Но, если между возбуждением
кристалла и измерением его частоты без короткого замыкания мы замыкаем его на
некоторое время (несколько микросекунд), тогда измеренная частота будет равна частоте
параллельного резонанса а его фаза будет сдвинута - чем дольше кристалл был
короткозамкнутым и чем больше разница между последовательным и параллельным
резонансами, тем больше будет этот фазовый сдвиг. Поэтому, повторяя это измерение
несколько раз, каждый раз с другой длительностью короткого замыкания, мы можем
измерить разницу между последовательными и параллельными резонансными частотами.
Если мы также определим Cp (измерив кристалл, как если бы он был простым
конденсатором), то из разности частот можно вычислить также Cm. Практически, мы делаем
это короткое замыкание, программируя оба микроконтроллерных порта(к которым подключен
кристалл) как выходы и устанавливая их в 0. Другими словами, устанавливаем
«переключатели» на первую цифру [12] в положение «20 Ом на землю». Кроме того, мы знаем,
что последовательная резонансная частота должна быть ниже частоты параллельного
резонанса. Это позволяет решить проблему сглаживания - направление фазового сдвига из-за
короткого замыкания говорит нам, находимся ли мы выше или ниже 8 МГц.

Я надеялся также иметь возможность определить Q и, соответственно, последовательное

сопротивление Rm, измеряя, насколько быстро амплитуда уменьшается. С LC-цепями это
работает отлично, как описано ранее [12]. Но с кварцами никакого значимого результата не
получилось - видимо вибрация затухает в основном по другим причинам, не из-за кристалла,
оказывает влияние внутреннее сопротивление микроконтроллера.

Таким образом, тестер может измерять параллельную резонансную частоту, обнаруживать

сглаживание и компенсировать его, измерять последовательную резонансную частоту и
вычислять Cm из разности.

Однако есть некоторые недостатки - кристаллы ровно на 8 МГц не могут быть хорошо
измерены из-за сглаживания. На частоте примерно 13 МГц и выше измерение не работает
должным образом, поскольку входная схема АЦП имеет слишком сильное затухание (зато
позволяет избежать неприятностей из-за следующего наложения на 16 МГц). Некоторые
кристаллы показывают ложную резонансную частоту, а не основной резонанс или
(таинственно) обрываются около 1,4 МГц. С довольно низкочастотными (<2 МГц) кварцами
трюк короткого замыкания оказывается менее точным и разрешения частотного измерения
просто недостаточно , например, выбор кварца для фильтра (это вызвано затуханием
резонанса). Но всё равно приятно, что такое простое оборудование, которое никогда не
предназначалось для этого, может выполнить тесты резонаторов с помощью «всего лишь»
программного обеспечения. Мой код для тестирования был встроен в официальное
программное обеспечение на сервере SVN [3].

Если нужно очень хорошо измерить параметры кварца, например, для создания кварцевого
фильтра, лучше использовать другой способ. Используйте сетевой анализатор, который
отображает всю кривую импеданса. Или используйте метод измерения от G3UUR, о котором
можно найти много информации в Интернете - собрать генератор с кварцем, измерить
частоту и повторить это с помощью известного конденсатора последовательно с кристаллом,
затем вычислить компоненты в эквивалентной схеме. G3OTK даже автоматизировал весь этот
процесс [4] - просто вставьте кварц в его тестер и параметры появятся на дисплее.

Ссылки:
[3] https://www.mikrocontroller.net/articles/AVR_Transistortester
[4] G3OTK: Автоматический метод измерения кристаллов кварца, Qex 11/2013.
[12] PA3FWM: Измерение малых индуктивностей и емкости с "AVR transistortester". Electron,
декабрь 2015; и на этом сайте .