Измерение малых индуктивностей и емкостей

в «AVR transistortester»

Pieter-Tjerk de Boer, PA3FWM pa3fwm@amsat.org

Перевод на русский язык - indman, март 2018г

(Это небольшой отрывок из статьи, которую я написал для голландского радиолюбительского

журнала Electron, декабрь 2015)

"AVR transistortester"

Так называемый "AVR transistortester" является удобным и популярным тестером для

многих видов компонентов, о которых, к моему удивлению, мало было написано в любительских
журналах радио. Он состоит из одного AVR микроконтроллера, ЖК-дисплея и нескольких
пассивных элементов. Как следует из названия, тестер может проверять транзисторы, но кроме
того , он также может тестировать диоды, тиристоры, симисторы, резисторы, конденсаторы и
катушки индуктивности, поэтому , возможно , его следует назвать «тестер компонентов AVR».
Тестер автоматически определяет, какой компонент и к какому контакту к нему подсоединен.
Кроме того, он измеряет некоторые ключевые характеристики устройства, например, такие как
коэффициент усиления по току для транзистора. Первоначально он был разработан Markus
Frejek, в настоящее время дальнейшее развитие проект получил благодаря Karl-Heinz Kübbeler
(см. здесь ). Тестер может быть легко изготовлен самостоятельно, но он также продается
готовыми наборами, в частности на Ebay и радиорынках.

Левая часть рисунка объясняет суть принципиальной схемы тестера. Мы видим, что
каждый контакт тестируемого устройства (DUT) подключен к трем портам ввода/вывода (I/O)
микроконтроллера - напрямую к одному из портов, через резистор 680 Ом ко второму и через
резистор 470 кОм к третьему порту. Также мы должны знать, что каждый порт ввода/вывода
микроконтроллера может быть запрограммирован как на ввод (тогда он переходит в состояние
с высоким сопротивлением),так и на вывод сигнала . В последнем случае он будет
подключаться через низкое внутреннее сопротивление (около 20 Ом) к 0 вольт (логические 0)
или к +5 вольт (логическая 1).В результате, каждый контакт проверяемой детали может либо
"плавать", либо через 20 Ом, 700 Ом или 470K Ом подключаться к 0 или к +5 вольт. Кроме того,
три порта ввода/вывода, к которым подключено тестируемое устройство без резисторов,
также являются входами встроенного аналого-цифрового преобразователя (A/D)
микроконтроллера, поэтому можно измерить напряжение на каждом из контактов DUT и
компаратора. Всё это приводит к эквивалентной схеме, показанной справа, где все
переключатели управляются программным обеспечением микроконтроллера.
Как можно тестировать компоненты? Это показано на следующем рисунке. Используется
несколько примеров, которые могут быть реализованы с помощью программного обеспечения
при установке переключателей в соответствующие положения.

Слева направо мы видим измерение сопротивления - неизвестный резистор (красный)

образует делитель напряжения с известным сопротивлением в тестере, проверка диодов -
измеряется падение напряжения на диоде ( 0,6 В для прямого подключения кремниевого диода,
5 В - в обратном направлении), коэффициент усиления по току транзистора (базовый ток
подается через 470 к и измеряется результирующий ток коллектора), проверка емкости (после
включения питания измеряется время заряда конденсатора до напряжения 1,1 В).
Автоматическое определение типа и структуры транзистора осуществляется путем простого
перебора всех возможностей и выбора того варианта, который дает наибольший
коэффициент усиления по току.
Таким образом, это очень удобное устройство, которое заслуживает большего внимания в
литературе для радиолюбителей. Тем не менее, оно имеет некоторые ограничения, которые
являются неудобными именно для радиолюбителей - тестер не может измерять индуктивность
лучше, чем с разрешением 10 мкГн, что довольно велико для ВЧ, измерение малых емкостей
ограничено разрешением в 1 пФ.

Измерение малых индуктивностей и емкостей

Проблема с измерением малых емкостей и индуктивностей этим тестером заключается в

том, что всё происходит слишком быстро. Просто вспомните математику - 1 пФ с
сопротивлением 470 кОм (самый большой доступный испытательный резистор) даёт
постоянную времени RC -цепи около 0,5 мкс, а 10 мкГн с 20 Ом (самый маленький доступный
испытательный резистор) даёт для LR -цепи такой же порядок величины. Для аналого-
цифрового преобразователя в микроконтроллере требуется время около 100 мкс для одного
преобразования - это слишком медленно. В качестве альтернативы, компаратор
микроконтроллера может использоваться для измерения времени ,которое требуется для
достижения (фиксированного) порога 1,1 вольт с точностью порядка тактовой частоты. Но это
тоже не очень хорошо, поэтому есть ограничения при измерении малых C и L. Я хотел бы
улучшить это и применил идею использования схемы выборки и удержания, которая
находится в микроконтроллере перед преобразователем A/D. Эта схема гарантирует, что
несмотря на то, что преобразование A/D занимает около 100 мкс, измеряемый сигнал не
должен быть доступен в течение всего этого времени - он «отбирается», то есть хранится в
аналоговой форме, и это значение преобразуется в цифровой вид.
 При таком варианте, несмотря на медленный аналого-цифровой преобразователь, всё-таки
можно очень быстро измерять высокоскоростные сигналы, если они повторяются. Выборка
делается каждый раз, когда сигнал повторяется, но с некоторым смещением, как показано на
рисунке. Вместе данные всё еще представляют собой исходный сигнал. Этот трюк уже
использовался полвека назад в осциллографах - схема выборки и удержания на его входе
может использоваться для сигналов на гораздо более высоких частотах, чем может
обрабатывать остальная часть электроники . Используя этот метод, измерение емкости может
быть улучшено путем измерения большего количества точек на кривой (dis) заряда, а не
только одной, как это делается с компаратором. Теоретически эти точки должны лежать на
экспоненциальной кривой - путём «подгонки» такой кривой через измеренные точки, можно
найти постоянную времени при усреднении ошибок в отдельных измерениях.
Для измерения индуктивности этого недостаточно, потому что для малых величин
индуктивности ток просто быстро возрастает - уже в течение 1 такта процессора
окончательное значение почти достигнуто и оно практически не измеряется. Чтобы по-
прежнему измерять малые индуктивности, я подключаю конденсатор с ёмкостью примерно
22 нФ параллельно, образуя LC - цепь. Если прикладывать напряжение к этому контуру в
течение короткого времени (через один из выводов I/O микроконтроллера), то LC - цепь
«возбуждается» - с этого момента напряжение на ней представляет собой затухающую
синусоидальную волну, которая может быть измерена с помощью трюка выборки.

На рисунке показан пример такого измерения. Мы видим 256 последовательных

измерений напряжения, выполненных микроконтроллером с использованием схемы выборки,
со смещением 62,5 нс (то есть 1 период тактовой частоты 16 МГц микроконтроллера) от начала
импульса. Мы видим только положительную половину затухающей синусоиды. Отрицательная
половина невидима, потому что АЦП не может обрабатывать отрицательные напряжения. Но,
даже с положительными значениями легко определить длительность периода и путём
интерполяции можно достичь разрешения, которое намного лучше периода времени
микроконтроллера. С момента, когда частота определена, вместе с известной емкостью
вычисляется индуктивность. Кроме того, коэффициент добротности (Q) схемы можно
определить по быстрому уменьшению амплитуды и это будет хорошим показателем
добротности индуктивности (если не используется низкокачественный конденсатор). На
практике этот принцип оказывается пригодным для индуктивности приблизительно до 100
нГн, если используется тестовый конденсатор 22 нФ. При меньшей индуктивности,
результирующая частота становится слишком высокой, чтобы быть измеренной, учитывая
тактовую частоту 16 МГц микроконтроллера. Кажется, что использование конденсатора с
большей емкостью может решить эту проблему, но в реальности резонанс становится
настолько слабым (низкий Q) ,что измерение не удается.

Этот новый метод измерения малых емкостей и индуктивностей, которые я разработал,

ещё не интегрирован в стандартное программное обеспечение для этих тестеров. Тем не
менее, теперь я работаю с автором Karl-Heinz Kübbeler для интеграции моих расширений в
проект - они уже доступны на SVN - сервере (см. здесь ).