Группа ИУ4-41М________________________________
Оценка __________________
2020г.
Содержание
1. Введение
2. Описание деятельности организации прохождения практики
3. Индивидуальное задание
4. Выводы
5. Литература
Введение
В последние годы электронная аппаратура широко применяется при
решении различных задач космической программы РФ. Использование
микросхем обусловлено минимизацией веса устройств, проектируемых для
космических приложений. Однако при проектировании бортовой
электронной аппаратуры для работы в таких условиях необходимо
обеспечивать ее защиту от радиационных воздействий.
При попадании космического аппарата через пояс Ван Аллена бортовая
электронная аппаратура подвергается воздействию тяжелых заряженных
частиц (ТЗЧ), электронов и т. п. В результате микросхемы могут
накапливать заряд, полученный при воздействии ТЗЧ. В частности, под
воздействием ТЗЧ могут меняться биты данных в памяти микросхемы, что
может привести к сбоям и некорректной работе бортовой электронной
аппаратуры. При этом наибольшей проникающей способностью в
материал обладают протоны. В связи с этим возникает необходимость
проектирования экранов радиационной защиты для обеспечения
необходимого уровня защиты бортовой электронной аппаратуры от
протонов.
При определении допустимой толщины экрана для защиты от
воздействия высокоэнергетичных ионов программа SRIM (The Stopping
and Range of Ions in Matter)/TRIM (the Transport of Ions in Matter) позволяет
оценить воздействие ионов на различные материалы. В работе эта
методика была расширена для расчета параметров многослойных экранов
радиационной защиты.
Одним из серьезных недостатков применения программы SRIM/TRIM
для таких расчетов является сложность конфигурирования для выполнения
расчета и сложность анализа полученных данных, что требует
значительных временных затрат инженера-проектировщика для анализа
различных альтернативных проектных решений. Также недостатком
SRIM/TRIM является необходимость ручного ввода: для расчета каждого
альтернативного проектного решения требуется подготовить файл с
входными параметрами или воспользоваться генератором входного файла.
Оба метода выполняются для каждого расчета индивидуально, являются
нетривиальными и требуют определенных знаний по использованию
программы SRIM/TRIM.
Необходимость разработки программного модуля автоматизации
расчетов экранов радиационной защиты объясняется большим
количеством альтернативных проектных решений. На проверку различных
проектных решений тратится много времени, при этом задача может быть
формализуема.
В данной работе описано разработанное программное обеспечение для
автоматизации расчетов параметров многослойных экранов защиты
электронной аппаратуры от воздействия ТЗЧ.
Характеристика НУК ИУ-4
● факультет «ИУ»;
● научно-исследовательский институт – НИИ ИСУ;
● вычислительный центр;
● специальные научно-учебные центры.
Рис. 4. iMag
Рис. 5. Оборудование лаборатории схемотехники
За время прохождения практики и выполнения
индивидуального задания была освоена конструкторско-
технологическая документация, используемая при разработке
изделий микроэлектронной и приборостроительной отрасли
промышленности, в том числе:
- ГОСТ 2.104-206 «Единая система конструкторской документации.
Основные надписи»;
- ГОСТ 2.106-96 «Единая система конструкторской документации.
Текстовый документ»;
- ГОСТ 2.109-73 «Единая система конструкторской документации.
Основные требования к чертежам»;
- ГОСТ 2.301-68 «Единая система конструкторской документации.
Форматы»; Схемы. Виды и типы. Общие требования к
выполнению»;
- ГОСТ 2.305-2008 «Единая система конструкторской
документации. Изображение – виды, разрезы, сечение»;
- ГОСТ 2.307-2011 «Единая система конструкторской
документации. Нанесение размеров и предельных отклонений»;
- ГОСТ 2.304-81 «Единая система конструкторской документации.
Шрифты чертежные»;
- ГОСТ 2.316-2008 «Единая система конструкторской
документации. Правила нанесения надписей, технических
требований и таблиц на графических документах. Общие
положения»;
- ГОСТ 2.321-84 «Единая система конструкторской документации.
Обозначения буквенные»;
- ГОСТ 3.1105-2011 «Единая система технологической
документации. Формы и правила оформления документов общего
назначения».
Заключение
В статье рассмотрены особенности реализации разработанного
программного модуля автоматизации расчетов параметров многослойных
экранов защиты электронной аппаратуры от воздействия тяжелых
заряженных частиц. Выбранная клиент-серверная архитектура позволяет
обеспечить удаленный доступ к параметрам уже рассчитанных экранов, а
также расчет альтернативных проектных решений с использованием
распределенных вычислений. Таким образом, реализованное программное
обеспечение позволяет производить скоростную обработку информации и
моделирование параметров экранов защиты в автоматизированном
режиме.
Литература
1. Shakhnov V., Zinchenko L., Kosolapov I., Filippov I. Modeling and
Optimization of Radiation Tolerant Microsystems // EMS '14 Proceedings of the
2014 European Modelling Symposium. 2014. P. 484-489.
2. Глушко А.А., Зинченко Л.А., Шахнов В.А. Моделирование
воздействия тяжелых заряженных частиц на характеристики полевых
транзисторов структуры “кремний на изоляторе” // Радиотехника и
электроника. 2015. №7.
3. Кузнецов Н.В. Радиационная опасность на околоземных орбитах и
межпланетных траекториях космических аппаратов. Электронный ресурс.
URL: http://nuclphys.sinp.msu.ru/crd/index.html (дата обращения: 30.01.2020)
4. Новиков Л. С., Милеев В. Н., Воронина Е. Н., Галанина Л. И.,
Маклецов А. А., Синолиц В. В. Радиационные воздействия на материалы
космической техники. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и
нейтронные исследования, №3, с. 32-48, 2009.
5. ХаффнерДж. Ядерное излучение и защита в космосе. М.: Атомиздат,
1971 г.
6. Александров П.А., Жук В.И., Литвинов В.Л. Способы построения
отказоустойчивых цифровых микросхем и оценки вероятности их отказа,
вызванного облучением. М., 2019.
7. J. P. Biersack and L. Haggmark, Nucl. Instr. and Meth., vol. 174, 257,
1980.
8. J. F. Ziegler, J. P. Biersack and U. Littmark. The Stopping and Range of
Ions in Solids (1st ed.), 1985.
9. J. F. Ziegler. "RBS/ERD simulation problems: Stopping powers, nuclear
reactions and detector resolution". Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 136-
138 (1–4): 141, 1998.
10. A. Galdikas. Interaction of ions with condensed matter. Nova Publishers.
p. 15., 2000.
11 J. F. Ziegler. "SRIM-2003". Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 219-
220: 1027, 2004.
12 Ziegler J. F. et al. SRIM - The Stopping and Range of Ions in Matter.
SRIM Co., 2008.
13. SRIM-CODE. URL: http://www.ujfi.fei.stuba.sk/srim_support/ (дата
обращения: 30.01.2020)
14. Шахнов В.А., Зинченко Л.А., Глушко А.А., Никитин И.В. Методика
определения толщины экрана из многослойного материала для защиты
микроэлектромеханических систем от воздействия протонов. Материалы
12-й международной научно-технической конференции ПТСПИ, 2017, С.
91-93.
15. Bootstrap documentation. Framework for development web user
interfaces. URL: https://getbootstrap.com/docs/4.4/getting-started/introduction/
(Дата обращения: 30.01.2020)