Вы находитесь на странице: 1из 64

© www.phys.nsu.

ru
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Оглавление
НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
I. Проводимость твердых тел. ............................................................ 6
Основные обозначения................................................................... 6
1. Классификация твердых тел: металлы, полупроводники,
диэлектрики..................................................................................... 7
Физический факультет 2. Элементы зонной теории твердого тела ................................... 8
3. Примесная и собственная проводимость полупроводников 12
Кафедра общей физики 4. Подвижность и коэффициент диффузии носителей заряда в
полупроводниках .......................................................................... 17
5. Движение носителей заряда в полупроводниках,
помещенных в магнитное поле. Эффект Холла......................... 19
6. Приложение 1. Эффект Холла в сильном магнитном поле
(для дополнительного чтения)..................................................... 28
Лабораторный практикум 7. Приложение 2. Собственная концентрация электронов ....... 29
Работа 4.1......................................................................................... 31
Определение ширины запрещенной зоны полупроводника . 31
“ЭЛЕКТРИЧЕСТВО И МАГНЕТИЗМ” Работа 4.2......................................................................................... 37
Движение носителей заряда в полупроводниках, помещенных
в магнитное поле. Эффект Холла............................................... 37
Учебно-методическое пособие Библиографический список ......................................................... 42
II. Сегнетоэлектричество .................................................................. 43
Электрические и магнитные свойства твердых тел Основные обозначения................................................................. 43
1. Основные свойства и характеристические параметры
сегнетоэлектриков ........................................................................ 44
2. Классификация сегнетоэлектрических кристаллов по типу
ВЫПУСК 4 фазового перехода ........................................................................ 45
3. Условие перехода сегнетоэлектрика типа «смещение» в
полярное состояние ...................................................................... 47
4. Поведение спонтанной поляризации и диэлектрической
А. Г. Костюрина, С.А. Бордзиловский, В.В. Макси- проницаемости вблизи точки фазового перехода...................... 49
мов, О. Е. Терещенко 5. Домены и гистерезис зависимости поля-ризации от
напряженности электрического поля.......................................... 52
6. Сегнетоэлектрические керамики............................................. 56
Работа 4.3......................................................................................... 59
Изучение свойств сегнетоэлектрика.......................................... 59
1. Регистрация петли гистерезиса ............................................... 59
2. Измерение температуры .......................................................... 61

3 4
© www.phys.nsu.ru
3. Задания ...................................................................................... 62
4. Контрольные вопросы.............................................................. 68
5. Содержание отчета ................................................................... 69 I. Проводимость твердых тел.
Библиографический список............................................................ 70
III. Магнитные свойства твердых тел ............................................ 71 Основные обозначения
Основные обозначения ................................................................... 71
σ – электропроводность,
1. Магнетизм микрочастиц и атомов ............................................. 72
E – энергия связи электрона ядром,
2. Магнитное поле в веществе........................................................ 75
I – энергия ионизации,
3. Классификация магнетиков........................................................ 77
d – расстояние между атомами,
4. Поведение спонтанной намагниченности и магнитной
T – температура,
восприимчивости при фазовых переходах.................................... 94
mn*, mp* – эффективная масса электрона, дырки,
5. Приложение. .............................................................................. 100
k – постоянная Больцмана,
Работа 4.4....................................................................................... 105
е – заряд электрона,
Изучение свойств магнитоупорядоченных веществ ............ 105
ni, np – концентрация электронов, дырок,
Работа 4.5....................................................................................... 115
u – подвижность,
Изучение магнитной восприимчивости гадолиния вблизи
v – дрейфовая скорость,
точки Кюри................................................................................... 115
τ – время свободного пробега электрона,
1. Краткая теория ........................................................................ 115
E – напряженность электрического поля,
2. Эксперимент............................................................................ 118
λ – длина свободного пробега,
Библиографический список.......................................................... 125
In – диффузионный ток,
Приложение. Виртуальный осциллограф в программе LabView
D – коэффициент диффузии,
......................................................................................................... 126
φ – электростатический потенциал,
Библиографический список.......................................................... 129
q – заряд частицы,
v – скорость движения частицы,
c – скорость света,
B – магнитное поле,
ω с – циклотронная частота,
ρL – ларморовский радиус,
Θ – угол Холла
Ř – постоянная Холла,
Ef – электрохимический потенциал,

5 6
© www.phys.nsu.ru
1. Классификация твердых тел: металлы, полупро- сколь угодно низких температурах отрываются от своих атомов и
водники, диэлектрики начинают свободно перемещаться по всему объёму металла. Эти
хаотически блуждающие электроны уже не принадлежат отдельно-
В зависимости от величины электрического сопротивления все му атому и становятся, следовательно, коллективизированными.
твердые вещества обычно разделяют на три группы: проводники
(металлы), полупроводники и изоляторы (диэлектрики). 2. Элементы зонной теории твердого тела
Проводники имеют удельное сопротивление 10-6÷10-3 Ом⋅см, Рассмотрим теперь, как изменяется характер движения и энерге-
удельное сопротивление полупроводников гораздо больше и меня- тический спектр электронов при переходе от изолированных атомов
ется в больших пределах 10-2÷108 Ом⋅см, ещё большее сопротивле- к твердому телу. Электроны изолированного атома энергетически
ние имеют изоляторы 109÷1020 Ом⋅см. Между металлами с одной связаны с ядром, и, чтобы удалить электрон из атома, ему нужно
стороны и полупроводниками и изоляторами с другой, существуют сообщить дополнительную энергию. В соответствии с квантовой
и принципиальные различия с точки зрения механизма электропро- теорией энергии электронов в атоме могут принимать лишь некото-
водности. Эти различия состоят в следующем. рые дискретные значения (уровни), строго определенные для каждо-
го химического элемента. Если атом находится в основном (невоз-
1. Разный характер температурной зависимости электропровод-
бужденном) состоянии, то внешние (валентные) электроны атома
ности: у металлов она слабо уменьшается ( σ ∝ 1/ α T ), а у полупро- имеют минимальную энергию связи с ядром, которая обозначена
водников сильно увеличивается при нагревании кристалла
как “основной уровень” E0 на
( σ ∝ e − β /T ). На рис. 1 приведена температурная зависимость элек-
рис. 2. Под этим уровнем располо-
тропроводности металлов и полупроводников.
жены заполненные уровни внутрен-
2. Разный характер зависимости сопротивления от примесей: в
них оболочек атома E k . Над уров-
металлах увеличение количества примесей приводит к возрастанию
сопротивления, в полупроводниках и изоляторах – к уменьшению нем E0 расположен ряд разрешен-
сопротивления. ных значений энергии электронов
3. Зависимость сопротив- (уровней), обозначенных пункти-
ления полупроводников и ром. Эти значения могут принимать
изоляторов от различного электроны возбужденного атома,
рода облучений (световых и которому сообщена дополнительная
корпускулярных) и незави- энергия ∆E = Ei − E0 , соответст-
симость у металлов. вующая переходу с основного уров-
Причина высокой элек- Рис. 2. Энергетический ня E0 на вышележащий уровень
тропроводности металлов спектр свободного атома
кроется в специфических ус- Ei . Если энергия, сообщенная ато-
ловиях связи валентных элек- му, превышает некоторое значение I , называемое энергией иониза-
тронов атомов в металле с его ции, то электрон покидает атом и становится свободным. Энергия
Рис. 1. Температурная зави- атомным остовом. В метал- ионизации (сродство к электрону) определяется как энергия перехо-
cимость электропроводности лических кристаллах эта да с основного уровня E0 на уровень вакуума Evac , на котором ки-
металлов и полупроводников связь настолько слаба, что
валентные электроны при нетическая энергия электрона равна нулю.

7 8
© www.phys.nsu.ru
При образовании твердого тела соседние атомы настолько сбли- щества величину d 0 , то естественно рассматривать структуру зон
жаются друг с другом, что внешние электронные оболочки не толь- именно для этого расстояния между атомами.
ко соприкасаются, но даже перекрываются. В результате этого ха-
рактер движения электронов резко изменяется: электроны, находя- Таким образом, строго определенные значения энергии, соответ-
щиеся на определенном энергетическом уровне одного атома, полу- ствующие отдельным уровням в изолированном атоме, заменяются
чают возможность переходить без затраты энергии на соответст- в кристалле целым интервалом энергий – это означает, что энерге-
вующий уровень соседнего атома и таким образом свободно пере- тические уровни атомов в кристалле под влиянием взаимодействия
мещаться вдоль всего твердого тела. Вместо индивидуальных атом- объединяются в зоны. Число электронов, которые могут разместить-
ных орбит образуются коллективные, и подоболочки отдельных ся в данной зоне, равно общему числу мест на уровнях изолирован-
атомов превращаются в сплошные полосы, называемые зонами. На ных атомов, из которых она образовалась. Так как внутренние обо-
рис. 3 представлена зависимость энергетического спектра лочки в изолированных атомах целиком заполнены, то эти же усло-
вия должны сохраняться в соответствующих зонах кристалла. От-
сюда следует, что электроны внутренних оболочек не могут перено-
сить электрический ток. Иначе может обстоять дело в самой верхней
зоне, образовавшейся из уровней, на которых располагались валент-
ные электроны; электропроводность кристаллов в основном и опре-
деляется степенью заполнения валентной зоны и ее расстоянием до
следующей пустой зоны. Рассмотрим случаи, которые определяют
разделение твердых тел на диэлектрики, полупроводники и металлы
исходя из строения зонной структуры кристаллов.
Валентная зона заполнена це-
ликом, имеется запрещенная зона
энергий до следующей пустой зо-
ны – полупроводники, диэлек-
трики. Наличие определенной
энергии возбуждения в идеальном
Рис. 3 Образование энергетических зон в кристалле из беспримесном полупроводнике
энергетических уровней атомов при их сближении: можно изобразить с помощью энер-
d – расстояние между соседними атомами; гетической диаграммы рис. 4, где по
d0 – равновесное расстояние между соседними атома- вертикали снизу вверх отложены
ми в кристалле значения полной энергии электро-
нов в кристалле. Нижняя заштрихо-
электрона от расстояния между атомами: справа нанесены три энер- Рис. 4 Зонная энерге- ванная полоса, или зона энергий,
гетических уровня, соответствующие изолированному атому, левее тическая диаграмма содержит различные уровни энер-
показано, как уровни смещаются и расширяются по мере сближения для внешних (валентных) гии валентных электронов, связан-
атомов. Так как расстояние между атомами в твердом теле не явля- электронов полупровод- ных с решеткой и не участвующих в
ется произвольным, а имеет вполне определенную для данного ве- ников и диэлектриков электропроводности. Наивысшая
возможная энергия связанных элек-

9 10
© www.phys.nsu.ru
тронов изображается верхним краем валентной зоны Ev . Верхняя лентная зона заполнена частично, либо перекрывается со следую-
зона (зона проводимости) содержит различные возможные значения щей свободной зоной. Поэтому в металлах энергия возбуждения
энергии электронных уровней, или электронов проводимости, обу- равна нулю и металлы проводят ток даже при Т = 0 К.
словливающих электропроводность. Наинизшее значение их полной
Таблица 1.
энергии изображается нижним краем зоны проводимости Ec . В этой
Подвиж- Подвиж-
зоне электрон приобретает возможность изменять свою энергию под ность ность
действием сил электрического поля, т. е. в зоне про-водимости элек-

E g (эВ) mn m p ∗
σI
электро- дырок,
трон становится свободным носителем заряда. Наименьшая энергия, Кристалл m0 m0 (Ом⋅см)-1
при нов, см2/(В⋅с)
необходимая для возбуждения электрона из валентной зоны в зону
300 К см2/(В с)
проводимости, равна Eg = Ec − Ev . Промежуточные значения энер-
Кремний 1.14 0.26 0.49 1300 500 5⋅10-6
гии, лежащие между Ec и Ev , не соответствуют никаким возмож-
(Si)
ным состояниям электрона – “запрещенная зона” энергий. Энергия 0.67 0.12 0.3 3900 1900 2⋅10-2
Германий
возбуждения (минимальная энергия, необходимая для перехода
(Ge)
электрона из заполненной зоны в пустую) составляет от нескольких
сотых до нескольких электрон-вольт для полупроводников и свыше Антимонид 0.18 0,013 0.5 77000 750 2⋅102
3 эВ для изоляторов. индия (InSb)
Полупроводники при низких температурах имеют весьма боль- Как отмечалось ранее, движение электронов в кристалле проис-
шое удельное сопротивление и практически являются изоляторами. ходит в периодическом потенциале атомных остовов. Оказывается,
На языке зонной структуры это означает, что все энергетические что в первом приближении, поведение частиц можно описать анало-
уровни в валентной зоне заполнены, а в зоне проводимости соответ- гично их движению в свободном пространстве, с той лишь разни-
ственно пусты. При этом низкие температуры означают Eg >> kT . цей, что в кинетическую энергию частицы E ( p ) = p 2 / 2m* входит
При повышении температуры энергия валентных электронов увели- эффективная масса электрона, которая отличается от массы свобод-
чивается и часть электронов, получивших энергию ≥ Eg , переходят ного электрона вследствие взаимодействия частицы с периодиче-
в зону проводимости. На энергетической диаграмме (см. рис. 4) та- ским потенциалом кристалла. Эффективную массу частицы m*
кой процесс может быть представлен как переход электрона из свя- обычно выражают в единицах массы свободного электрона. Эффек-
занного состояния в валентной зоне в свободное состояние в зоне тивные массы электронов ( mn* ) и дырок ( m*p ) некоторых полупро-
проводимости через энергетический барьер Eg . Образовавшиеся водников приведены выше в таблице.
при этом “вакантные” места c недостающими электронами получи-
ли название дырок. Переход электрона в зону проводимости может 3. Примесная и собственная проводимость полупро-
быть вызван также поглощением кристаллом фотона с энергией водников
hν ≥ Eg или взаимодействием полупроводника, например, с элек- Проводимость чистых полупроводников, обусловленная движе-
тронным пучком. нием одинакового количества электронов и дырок, возникающих за
счет нарушения валентных связей, называется собственной. При
Металлы так же имеют зонную структуру. Основное отличие комнатной температуре в чистых полупроводниках ионизуется
зонной структуры металлов заключается в том, что у металлов ва-
11 12
© www.phys.nsu.ru
очень небольшое число атомов, так как энергия возбуждения (энер- дырка. При наличии поля E в образце такой процесс будет повто-
гия перехода из валентной зоны в зону проводимости) намного пре- ряться многократно, образуя дырочную проводимость.
3
восходит среднюю энергию частиц, равную kT (при T = 300 K , Рассмотрим теперь, как зависит концентрация свободных носи-
2 телей примесного полупроводника от температуры. На рис. 5 приве-
3
kT составляет всего 0.04 эВ). Но кинетическая энергия частиц дена зависимость натурального логарифма равновесной концентра-
2 ции свободных электронов в полупроводнике от обратной темпера-
3 туры. При низких температурах концентрация электронов в полу-
(электроны, атомы в твердом теле) только в среднем равна kT . проводнике определяется концентрацией примесных центров.
2
Мгновенные же скорости распределяются по закону Максвелла; С ростом температуры примесная концентрация растет, а следова-
всегда имеется некоторое число частиц, скорости которых намного тельно, возрастает и проводимость. При некоторой температуре
больше и значительно меньше средних; вероятность того, что элек- концентрация электронов перестает зависеть от температуры. Это
− E / kT область примесного истощения. Все атомы примеси уже ионизова-
трон имеет энергию Eg , пропорциональна e g . Отсюда следует, ны, а собственная концентрация все еще гораздо меньше чем при-
что число свободных электронов в таком полупроводнике гораздо месная. И, наконец, в области еще более высоких температур начи-
меньше свободных электронов в металле и это число сильно зависит нается резкий рост концентрации с дальнейшим повышением тем-
от температуры. Поэтому проводимость полупроводника сильно пературы. Это область собственной проводимости, где концентра-
зависит от примесей, т. е. введение небольшого числа примесных, ция свободных носителей определяется зависимостью e g . Так
− E / kT

легко ионизуемых атомов в полупроводник резко меняет число сво- как величина проводимости прямо пропорциональна концентрации
бодных носителей. В полупроводниках с примесной проводимостью − E / kT
некоторые атомы основного кристалла заменены атомами с другой носителей, то σ ∝ e g . Отсюда видно, что из температурной за-
валентностью. При этом, если валентность атомов примеси больше, висимости проводимости можно извлечь важную характеристику
чем у основного кри- полупроводника – ширину запрещенной зоны.
сталла, полупроводник Рассмотрим теперь количественно температурную зависимость
обладает так называемой проводимости. В общем случае проводимость полупроводника рав-
n-проводи-мостью (элек- на сумме собственной ( σ i ) и примесной ( σ np ) электропроводно-
тронной). При обратном стей:
соотношении валентно-
стей основных и примес- σ = σ i + σ np . (1)
ных атомов реализуется p- При низкой концентрации примеси и высоких температурах
проводи-мость (дыроч-
ная). При наличии дырок
σ i > σ np . Именно этот случай будет интересовать нас в данной ра-
электрон одного из сосед- боте. Тогда электропроводность собственного полупроводника
Рис. 5. Зависимость логарифма кон- них атомов может занять (беспримесного) можно выразить формулой
центрации электронов от обратной вакантное место, где будет σ i = ni eun + pi eu p , (2)
температуры восстановлена обычная
где e – заряд электрона, ni , pi , un , u p – собственные концентрации и
связь, но зато на его
прежнем месте появится подвижности электронов и дырок соответственно. Индекс i обозна-

13 14
© www.phys.nsu.ru
чает, что данное значение концентрации носителей получено для где τ n , p – время свободного пробега электрона (дырки). Время сво-
собственного (intrinsic) полупроводника, в котором ni = pi .
бодного пробега τ n , p равно отношению длины свободного пробега
Входящие в формулу (2) концентрация и подвижность являются
функциями от температуры. Как было рассмотрено ранее, качест- λn, p к скорости теплового движения частицы ϑT n, p :
венно температурная зависимость концентрации определяется зави- λ
− E / kT
симостью n ~ e g . Для чистых (собственных) полупроводников τ n, p = n, p . (8)
ϑT n , p
количественная зависимость концентрации носителей от температу-
ры определяется выражением (см. приложение) Подвижность носителей в собственном полупроводнике в облас-
ти используемых температур определяется рассеянием носителей
Eg
− заряда на колебаниях решетки. В этом случае длина свободного
ni = pi = A(T ) ⋅ e 2 kT , (3) пробега электрона (дырки) обратно пропорциональна температуре
где температурная зависимость предэкспоненциального множителя (чем ниже температура, тем меньше амплитуда колебаний атомов и
имеет вид тем больше длина свободного пробега):
Constn , p
2(2π mn* m*p kT )3 2 λn , p = ; (9)
A(T ) = . (4) T
h3
3kT
Рассмотрим теперь температурную зависимость подвижности ϑT n , p = . (10)
свободных носителей. По определению, подвижность равна отно- mn*, p
шению дрейфовой скорости ϑ к напряженности электрического Из формул (8), (9), (10) получаем выражение для подвижности элек-
поля E : тронов и дырок:
ϑn , p e ⋅ Constn , p −3 2
un , p = . (5) un , p = T . (11)
Ε 3kmn*, p
Иными словами, подвижность – это скорость дрейфа электронов Подставляя выражения для концентраций (3), (4) и подвижностей
(дырок) в поле напряженностью 1 В/см. Средняя скорость направ- (11) в формулу (2), получаем выражение для температурной зависи-
_
ленного движения ϑ (дрейфовая скорость) равняется произведе- мости электропроводности собственного (беспримесного) полупро-
нию ускорения на среднее время между столкновениями τ (время водника:
свободного пробега, время релаксации):
_
eτ σ i = σ 0e− Eg / 2 kT , (12)
ϑ= E. (6)
m где предэкспоненциальный множитель σ 0 не зависит от температу-
Тогда для подвижности электронов и дырок получаем ры и определяется свойствами полупроводника.
ϑn , p eτ n , p
un , p = = , (7)
Ε mn*, p

15 16
© www.phys.nsu.ru
4. Подвижность и коэффициент диффузии носителей ние должно иметь место также между диффузионным током ды-
заряда в полупроводниках рок и дырочным током проводимости. В равновесном состоянии
jn , p = 0 . Приравнивая правую часть выражения (16) к нулю, в
Ток в твердых телах может быть вызван не только наличием
электрического поля. Если в полупроводнике создать область не- общем виде получаем
равновесных носителей, например неоднородным легированием, то dn
в нем возникнет диффузионный поток из-за наличия градиента кон- un nEst = − Dn . (17)
центрации носителей. Его можно описать уравнением вида dx
Если учесть, что в полупроводнике имеется электростатическое
dn поле E st , то электроны, находящиеся в этом поле, будут обла-
I n = − Dn , (13)
dx дать потенциальной энергией U = −eϕ . Поэтому концентрация
где Dn – коэффициент диффузии электронов. Аналогичное вы- электронов в зоне проводимости будет удовлетворять соотноше-
ражение имеет место для дырок. Диффузионным потокам носи- нию Больцмана вида
телей заряда соответствуют диффузионные токи
n = n0 eeϕ / kT , (18)
dn
jn = eDn . (14) где n0 – равновесная концентрация электронов; ϕ – электро-
dx
Диффузионный ток – это самый настоящий ток, ничем не усту- статический потенциал.
пающий дрейфовому току, возникающему под действием элек- dϕ
трического поля E . При прохождении диффузионного тока, так Учитывая, что Est = − , и подставляя значения n и
dx
же как и прохождении дрейфового тока, выделяется джоулево
dn / dx в уравнение (17), получаем
тепло. Наличие в полупроводнике диффузионного тока приводит
к пространственному разделению зарядов. В свою очередь, раз- dϕ e dϕ
деление зарядов порождает статическое электрическое поле Est , −un n0 eeϕ / kT = − Dn n0 eeϕ / kT , (19)
dx kT dx
которое создает дрейфовые токи носителей зарядов. Дрейфовая откуда для электронов будем иметь
составляющая плотности тока записывается на основании закона
Ома в виде un e
= . (20)
Dn kT
jn = enun Est . (15)
Аналогично для дырок
Полный ток складывается из диффузионного и дрейфового то-
ков. Для электронов он будет равен up e
= . (21)
dn Dp kT
jn = enun Est + eDn . (16)
dx Соотношение, связывающее коэффициент диффузии носителей за-
Так как плотность тока в изолированном полупроводнике должна ряда и их подвижность в условиях термодинамического равновесия,
быть равна нулю, то очевидно, что в равновесном состоянии носит название соотношение Эйнштейна.
диффузионный ток электронов должен быть уравновешен током Связь между подвижностью и коэффициентом диффузии можно
дрейфа электронов в поле Est . Аналогичное равновесное состоя- установить и другим способом. Как видно из формулы (9), подвиж-

17 18
© www.phys.nsu.ru
ность носителей прямо пропорциональна времени релаксации носи- Если пренебречь столкновениями движущейся частицы, то тра-
телей. Но и коэффициент диффузии частиц определяется аналогич- екторию движения ее в электрическом и магнитном полях под дей-
ной зависимостью от среднего времени свободного пробега: ствием силы Лоренца можно найти по уравнению (24)/
Рассмотрим кратко характер движения свободного носителя за-
1
D = ϑT2τ . (22) ряда при наличии электрического и магнитного полей.
3 Под действием электрической составляющей поля частица полу-
Поэтому между обеими величинами существует связь. Подставляя чает дополнительную скорость, совпадающую с направлением век-
значение тепловой скорости из выражения (10) и учитывая формулу тора E . В общем случае при любой ориентации скорости v и маг-
(7), легко получить известное соотношение Эйнштейна, связываю- нитного поля B скорость электрона можно разложить на две со-
щее коэффициент диффузии с подвижностью:
ставляющие: параллельную ( v& ) и перпендикулярную ( v ⊥ ) полю
kT
D= u. (23) B:
e
Связь между подвижностью и коэффициентом диффузии справед- v = v& + v ⊥ ; (25)
лива не только для электронов и дырок, но и для любых частиц, за- тогда сила, действующая на частицу в магнитном поле,
ряженных и незаряженных, движущихся в поле силы тяжести или в qv B
электрическом поле. Эта связь является наглядным отражением того FB = ⊥ (26)
c
обстоятельства, что и направленному движению частиц под дейст- Сила FB все время изменяет направление скорости v ⊥ , тогда как v &
вием силы, и процессу диффузии мешает один и тот же процесс:
столкновения частиц, происходящие через средний промежуток остается постоянной и заставляет двигаться заряженную частицу по
винтовой линии вдоль магнитного поля. При v & = 0 заряженная час-
времени τ при средней тепловой скорости ϑT .
тица будет вращаться по окружности радиуса
5. Движение носителей заряда в полупроводниках, m* ⋅ v ⊥
r=c (27)
помещенных в магнитное поле. Эффект Холла. q⋅B
На заряженную частицу (электрон, дырку), движущуюся в элек- с угловой скоростью
трическом E и магнитном B полях, действует сила Лоренца q⋅B
ω= * (28)
mc
q
F =m*
r = qE + [ v ⋅ B ] (СГС), Если электрическое и магнитное поля параллельны, то заряжен-
c ная частица движется по винтовой линии с непрерывно возрастаю-
щим шагом, поскольку электрическое поле меняет скорость v & и не
r = qE+q [ v ⋅ B ] (СИ),
F =m* (24) влияет на v ⊥ .
Если электрическое и магнитное поля перпендикулярны (скре-
где m* - эффективная масса заряженной частицы, учитывающая щенные поля), то при начальной скорости движения заряженной
влияние периодического поля на движение частицы в веществе, частицы, равной нулю, решение уравнения (24) дает уравнение цик-
c - скорость света, q – заряд частицы, v - скорость частицы, r - лоиды: частица вращается по окружности радиуса r (27), а центр
окружности движется равномерно в направлении, перпендикуляр-
ускорение частицы. ном электрическому и магнитному полю со скоростью дрейфа

19 20
© www.phys.nsu.ru
v Д = c ⋅ [ EЧB ] B2 (СГС), v Д = [ EЧB ] B2 . (СИ) (29) скорость пропорциональна напряжённости электрического поля
v d =u ⋅ E , где коэффициент пропорциональности u называется
Амплитуда периодического движения совпадает с Ларморовским подвижностью носителей заряда, в СИ подвижность имеет размер-
v
радиусом ρ L = ⊥ (27). Отметим, что это справедливо для свобод- ность м2/В·с, но часто измеряется в несистемных единицах см2/В·с.
ωc Рассмотрим однородный изотропный полупроводник в форме
ной частицы, которая не сталкивается с другими частицами и с ка- параллелепипеда (рис.6). Контакты 1 и 2 будем называть токовыми
кими-либо другими объектами. контактами, контакты 3 и 4 - потенциальными контактами. В отсут-
ствие магнитного поля, если образец однороден и изотропен, кон-
Рассмотрим поведение частицы с учётом столкновений частиц. такты 3 и 4 находятся на эквипотенциальной поверхности и при
Из курса молекулярной физики известно, что все частицы соверша- пропускании тока через образец, падение напряжения между кон-
ют хаотическое тепловое движение. Важной характеристикой такого тактами 3 и 4 равно нулю. Поместим наш образец в однородное
движения является средняя длина свободного пролёта – 〈 l〉 . Зная магнитное поле, вектор магнитного поля В перпендикулярен векто-
среднюю (по модулю) тепловую скорость, можно определить сред- ру j (см. рис.6). Скорость движения заряженных частиц состоит из
хаотической (тепловой) и дрейфовой составляющих. Дрейфовая
нее время между столкновениями частиц τ= 〈 l〉 / 〈 v 〉 . Если на час- скорость возникает вследствие действия на заряженную частицу
тицы не действует внешняя сила, то средняя проекция тепловой внешних сил (в нашем случае из-за приложенных внешних электри-
скорости на любое направление равна нулю. При наложении внеш- ческого и магнитного полей E и B ). В силу линейности зависимо-
него постоянного электрического поля на частицу будет действовать сти силы Лоренца от скорости имеем:
постоянная сила. Следовательно, в промежутках между столкнове-
q q
ниями её движение является равноускоренным, и она приобретает F =qE + [ v T ЧB ] + [ v d ЧB ] (СГС)
дополнительный импульс и, следовательно, дополнительную ско- c c
рость в направлении действия силы. Если добавка к скорости, кото- F =qE +q [ v T ЧB ] +q [ v d ЧB ] (СИ) (30)
рую частица приобретает вследствие действия электрического поля,
за время τ много меньше её средней по модулю тепловой скорости,
то такое поле называется слабым. После столкновения частица рав-
новероятно рассеивается в любом направлении, значит в среднем,
проекция её скорости на любое направление равна нулю. Двигаясь
далее, она опять испытывает ускорение, приобретает дополнитель-
ную скорость и так далее. Таким образом, частица кроме хаотиче-
ского теплового движения совершает дрейф с некоторой средней
скоростью v d .
В приближении слабого поля, дрейфовая скорость v d много
меньше средней по модулю тепловой скорости и время τ не зави-
сит от дрейфовой скорости, и, соответственно, от внешней силы.
Приобретаемый частицей дополнительный импульс и скорость про-
порциональны как внешней силе FE , так и времени действия этой Рис. 6. Возникновение ЭДС Холла в проводнике с током в магнитном
силы τ . Таким образом, в слабом электрическом поле дрейфовая поле.

21 22
© www.phys.nsu.ru
Так как средняя проекция тепловой скорости на любую ось равна не будет совпадать по величине и направлению с первоначальным,
нулю, то, при усреднении второе слагаемое в формуле (30) стано- (когда В = 0) между ними будет угол ϕH , получивший название
вится равным нулю, и средняя сила зависит только от дрейфовой «угол Холла». Для тангенса этого угла можно записать:
скорости. Видно, что магнитная составляющая силы Лоренца от- tg ϕH = E y / E x или
клоняет как положительно, так и отрицательно заряженные частицы
tg ϕH = - σ B / (e n) = - u n B (34)
в одну и ту же сторону, поскольку изменение знака заряда компен-
сируется изменением направления дрейфовой скорости на противо- На практике удобнее измерять не напряженность электрического
положную (рис. 6). поля, а соответствующую разность потенциалов (между гранями 3 и
Предположим, что ток в образце определяется движением заря- 4 на рис.6), которая называется эдс Холла:
женных частиц одного типа, например, электронов (иначе придётся U H =E H ⋅ d=-jx Bd/(en) (35)
учитывать вклад в ток движение заряженных частиц всех типов). В Если выразить полный ток через плотность тока,
отсутствие магнитного поля ток течёт слева направо. После вклю- I=jx d ⋅ h , то U H = − IB/(enh)=R H IB/h , (36)
чения магнитного поля, на электроны начинает действовать магнит- где R H = −1/(en) - постоянная Холла.
ная составляющая силы Лоренца, которая отклоняет их в направле-
В случае полупроводника р-типа проводимости в уравнении (33)
нии к грани 3. Таким образом, некоторое время после включения
следует изменить знак носителей заряда с «-е» на «+е». Тогда будем
магнитного поля происходит движение электронов от грани 4 к гра-
иметь:
ни 3. Электроны, создают на грани 3 отрицательный, а на грани 4
положительный заряды, то есть между этими гранями возникнет E H = jx B / (e p) = jx R H B ,
дополнительное электрическое поле E H . Заряд на гранях 3 и 4 бу- tg ϕ H = - σ B / (e p) = - up B , (37)
дет расти до тех пор, пока магнитная составляющая силы Лоренца U H = − IB/(eph)=R H IB/h ,
не уравновесится этим дополнительным электрическим полем: где р - концентрация дырок, up - их подвижность, RH = 1/ (e p ) - по-
стоянная Холла для дырочного полупроводника. Сопоставляя (35) и
e ⋅ E y +e [ v d ЧB ] =0 (СИ). (31) (37), можно видеть, что по знаку эдс Холла можно определить в
В этой ситуации, очевидно, имеем: эксперименте тип носителей заряда, а по величине RH - их концен-
E y =v d B . (32) трацию. Кроме того, если возможно измерение и проводимости, и
постоянной Холла, то по ним определяют подвижность носителей:
Так как мы рассматриваем движение электрона за время свободного u n(p) = σ R H . (38)
пробега, то ясно, что в (32) стоит средняя скорость дрейфа, опреде-
ляемая средним по ансамблю электронов временем свободного про- Исследование эффекта Холла в полупроводниках осложняется
бега < τ > (средним временем релаксации). Поскольку тем, что в них существует несколько типов носителей зарядов. Про-
jx =-envd , то водимость, обусловленная движением одинакового количества
электронов и дырок, называется собственной. Обычно полупровод-
E y =E H =-jx B/en . (33) ники обладают примесной проводимостью. В полупроводниках та-
Величина E H называется полем Холла. Таким образом, электри- кого типа некоторые атомы основного кристалла заменены атомами
ческое поле (для нашей ориентации векторов) имеет компоненты другой валентности. Если валентность атомов примеси больше, чем
E x и E y , следовательно, полный вектор электрического поля у основного кристалла, у атома примеси есть «лишний» электрон,
слабо связанный с атомным остовом, который он может легко от-
E=iE x +kE y дать в зону проводимости. В таком полупроводнике больше свобод-

23 24
© www.phys.nsu.ru
ных электронов, чем дырок, он называется полупроводником n – где b = un/up. Согласно (45) RH < 0 при b > 1 (т.е. un> up) и RH > 0 при
типа, и обладает электронной проводимостью. При обратном соот- b < 1 (т.е. un< up).
ношении валентностей основных и примесных атомов реализуется Выше мы полагали, что все носители заряда имеют одно и то же
p – проводимость (дырочная). В полупроводниках могут также при- время релаксации, иными словами - мы считали вероятность рас-
сутствовать оба типа носителей заряда. сеяния независящей от скорости движения. При строгом рассмотре-
Теперь рассмотрим ситуацию, когда в полупроводнике есть и нии необходимо учитывать распределение носителей по скоростям;
электроны, и дырки. Запишем общий вид уравнений движения для следствием этого будет зависимость времени релаксации электро-
электронов и дырок в электрическом и магнитном полях: нов (дырок) от их кинетической энергии. Описание кинетических
m dvn /dt = -e E - e [vn B] – для электронов явлений в ансамбле частиц при учете их распределения по энергии
m dvp /dt = -e E - e [vp B] – для дырок. (39) обычно выполняют с помощью кинетического уравнения Больцма-
на. Следствием рассмотрения эффекта Холла с помощью этого
Проинтегрировав уравнения (39), и используя соотношение для уравнения будет появление множителя r
подвижности un =e < τ >/mn , получим: r = <τ 2 >/<τ > 2 (46)
vn = - u n E - u 2n [E B] в выражении для постоянной Холла:
v p = - u p E - u 2p [E B] (40) R H = − r/(en) - для электронов
Помножив первое уравнение на «en», а второе на «ep», получим R H = − r/(ep) - для дырок
уравнения для электронного и дырочного токов: R H = (r/e)(pu 2p -nu n2 )/(nu n +pu p ) 2 – для биполярной проводимости.
jn = - enu n E - enu n2 [E B] 2
Здесь <τ > - среднее время релаксации, <τ > - средний квадрат вре-
j p = - epu p E - epu 2p [E B] (41) мени релаксации. Соответственно, все полученные выше формулы,
Таким образом, полный ток: где есть множители 1/(en) или 1/(ep), верны с точностью до множи-
j = e(nu n + pu p ) E +e(pu 2p +nu 2n )[E B] (42) теля r; в частности, для подвижности:
или в скалярной форме: u nH = rσ/en=ru n
jx = e(nu n + pu p )E x +e(pu 2p +nu 2n )E y Bz =j u Hp = rσ/en=ru p (47)
Поэтому подвижность, определяемую с помощью эффекта Холла,
jy = e(nu n + pu p )E y +e(pu 2 +nu n2 )E x Bz =0 (43) называют холловской, в отличие от истинной (дрейфовой). Множи-
p
Поскольку магнитное поле слабое, то второе слагаемое в первом тель r получил название фактора Холла.
уравнении системы (43) много меньше первого. С учетом этого, ре- Поскольку r определяется временем релаксации τ, то его величи-
шив систему (43) относительно Ey , получим: на будет зависеть от механизмов рассеяния носителей заряда. Под-
E H = R H jB считано, что при рассеянии на акустических колебаниях кристалли-
ческой решетки r=3π/8=1.18, а при рассеянии на примесных ионах
R H = (1/e)(pu 2p -nu n2 )/(nu n +pu p ) 2 (44)
r=1.93. При низких температурах (для Ge T<250 K, для Si T<100 K)
Из (44) видно, что при n>>p RH = 1/ (en), а при p>>n RH = 1/ (ep). В обычно доминирует рассеяние носителей на ионах примесей, а при
случае собственного полупроводника, где n = p = ni , высоких температурах (для Ge и Si – в том числе и при комнатной
R H = (1/en i ) ( u p - u n ) / ( u n + u p ) = (1/en i ) (1 -b) / (1+ b) (45) температуре) преобладает рассеяние на колебаниях решетки.
Как отмечалось выше, полученные нами результаты справедливы
для случая “слабого” магнитного поля. Поскольку τ = < λ >/<v> , то
25 26
© www.phys.nsu.ru
соотношение между длиной свободного пробега < λ > носителя за-
6. Приложение 1. Эффект Холла в сильном магнит-
ряда и радиусом его круговой орбиты в магнитном поле можно за-
менить на следующее: ном поле (для дополнительного чтения)
τ<<T=2π/ωc - для слабого поля, Рассмотрим случай, когда за время свободного пробега τ заря-
τ>>T=2π/ωc для сильного поля, (48) женная частица пролетает расстояние много больше Ларморовского
радиуса ρL (пункт 1.1). Попробуйте самостоятельно убедиться, что
где T-период вращения частицы, ωc - циклотронная частота (часто-
та вращения носителя заряда по круговой траектории в магнитном это требование аналогично требованию ωc ⋅ τ >> 1 ( ω c - цикло-
q⋅B тронная частота, пункт 1.1). Такое магнитное поле называют силь-
поле с индукцией В). Поскольку ω= * , подставив ωc в (48), полу-
m ным. В сильных магнитных полях носители заряда вращаются по
чим: орбитам, совершив много оборотов, прежде чем испытают рассея-
τωc /2π=uB/2π<<1 - для слабого поля, ние. Значит, движение заряженных частиц ограничено по двум ко-
ординатам, они «заквантованы» в магнитном поле. Расстояние меж-
τωc /2π=uB/2π>>1 - для сильного поля. (49) ду уровнями их квантования в магнитном поле (уровнями Ландау)
Приведенное определение «сильного» и «слабого» полей являет-
составляет = ⋅ ω c , здесь = - постоянная Планка. Энергетический
ся классическим. Здесь не учитывается изменение энергетического
спектра электрона в магнитном поле. спектр электронов и дырок в магнитном поле будет отличаться от
спектра свободных электронов и дырок. Особенно ярко эффекты
квантования будут проявляться, если = ⋅ ω c >> k ⋅ T , k – постоян-
ная Больцмана. Особенно интересен случай, когда носители заряда
«заквантованы» ещё и в направлении параллельном магнитному по-
лю. Известно (пункт 1), что если бы не было рассеяния носителей
заряда, действие магнитного поля привело бы к тому, что потенциал
в образце (рис. 7) перераспределился бы таким образом, что падение
напряжения между контактами 1-2 не было, а напряжение между
контактами 3-4 было бы пропорционально току I. Нечто похожее
обнаружили в 1980 году первооткрыватели квантового эффекта
Холла фон Клитцинг с коллегами. Они увидели падение до нуля на-
пряжения между контактами 1-2, Холловское напряжение при этом
выходило на плато и не менялось при изменении магнитного поля.
При этом соотношение Холловского напряжения к току было крат-
но кванту сопротивления h (25813 Ом). Такой режим называется
e2
целочисленным квантовым эффектом Холла. За открытие этого эф-
фекта в 1985 году фон Клитцингу была присуждена Нобелевская
премия по физике.

27 28
© www.phys.nsu.ru
7. Приложение 2. Собственная концентрация элек-
тронов
Концентрация электронов в зоне проводимости определяется
следующим выражением:
∞⎛ ⎞ ⎛
⎟ ⋅ ⎜ 4π (2mn ) E1/2 dE ⎞⎟ ,
∞ * 1/2
1
ni = ∫ f n ⋅ dz = ∫ ⎜ E − EF (50)
⎜ ⎟ h3
0 0
⎝ e kT + 1 ⎠ ⎝ ⎠

где dz – число разрешенных состояний в интервале энергий dE ;


E F – электрохимический потенциал, или уровень Ферми;
1
fn = E − EF
– функция Ферми, характеризующая вероятность
Рис. 7. Вероятность заполнения ( f n ) или освобождения ( f p )
e kT
+1 уровней в чистом полупроводнике:
того, что состояние с энергией E при данной температуре T занято а) положение уровня Ферми; b) положение функции Ферми для
электроном (см. рис. 9, b); mn* – эффективная масса электрона, двух значений температуры.
k , h – постоянные Больцмана и Планка соответственно.
Аналогично для концентрации дырок:
В собственных полупроводниках уровень Ферми располагается
E − EF 2(2π m*p kT )3 2

E g + EF

вблизи середины запрещенной зоны. В этом случае >> 1 и pi = e kT


. (53)
kT h3
функция Ферми переходит в функцию Больцмана
В собственном полупроводнике ni = pi Тогда из соотношений (52)
EF E
− и (53) получаем искомую зависимость ni от температуры:
fF = fБ = e e kT kT
. (51)

Заменяя f F в (1) и интегрируя, получаем 2(2π mn* m *p kT ) 3 2



Eg

ni = ni pi = e 2 kT
h3
2(2πm kT )
* 3 2 EF

ni = n
3
e kT
. (52)
h

29 30
© www.phys.nsu.ru
2. Измерение проводимости полупроводника при комнат-
Работа 4.1 ной температуре
Определение ширины запрещенной зоны Схема установки для определения проводимости полупроводни-
полупроводника ка при комнатной температуре показана на рис. 9 и включает: ис-
следуемый образец, генератор низкой частоты двуполярных сигна-
Выполняемый в данной работе эксперимент состоит из двух час- лов, сопротивление R, блок регистрации, персональный компьютер
тей. В первой записывается вольт - амперная характеристика образ- ПК.
ца, из которой определяется проводимость исследуемого полупро-
водника при комнатной температуре. Во второй части изучается
температурная зависимость проводимости, из которой можно рас-
считать ширину запрещенной зоны, концентрацию носителей и их
подвижность.
1. Оборудование и образец
Генератор низкой частоты, сопротивление, исследуемый образец,
источник питания образца стабилизированный по току, термопара,
нагреватель (проволочное сопротивление), источник питания нагре-
вателя, блок регистрации, персональный компьютер, цифровой уни-
версальный вольтметр (GDM).
Исследуемый полупроводниковый образец, имеющий форму
прямоугольного параллелепипеда (рис. 8) смонтирован на пластине
из гетинакса. Рядом с образцом расположена термопара (рис. 10).
Образец с термопарой жестко укреплены в держателе, из которого
выведены токовые (1, Рис. 9. Схема измерения вольтамперной
характеристики полупроводника
2), потенциальные (3, 4)
контакты образца, а так- При протекании в цепи образца тока I на сопротивлении R про-
же провода термопары исходит падение напряжения, пропорциональное току U = I ⋅ R ,
(рис. 9, 10). Геометриче- которое подается в канал I блока регистрации. Разность потенциа-
ские размеры образца, лов между контактами (3, 4) образца подается в канал U. Получив
расстояние между кон- вольт - амперную характеристику, зная геометрические размеры
тактами и чувствитель- образца и его сопротивление, можно по формуле j = σE рассчитать
Рис. 8. Образец
ность термопары приве-
дены в паспортных данных. проводимость полупроводника.
Контрольные вопросы
Блок регистрации состоит из АЦП с тремя измерительными ка-
налами, один из которых предназначен для измерения температуры 1. Нарисуйте ожидаемый вид зависимости σ (T) .
с помощью термопары, два других – для измерения тока и напряже-
ния. Блок имеет цифровую связь по последовательному каналу с 2. Чем определяется выбор частоты генератора?
персональным компьютером.
31 32
© www.phys.nsu.ru
3. По каким характерным признакам твердые тела делятся на ме- При необходимости возможна замена предельного значения тока I, напря-
таллы, полупроводники и диэлектрики? жения U, а также шага оцифровки.
5. Используя экспериментальные данные, рассчитайте проводи-
4. Выведите формулу (2), связывающую электропроводность с мость σ полупроводника при комнатной температуре. Оцените
подвижностью. ошибку и сравните с табличным значением.
5. Используя табличные данные электропроводности полупро- 3. Изучение температурной зависимости проводимости
водниковых материалов, вычислите и постройте график зависи- полупроводника
мости электропроводности от температуры.
Схема установки для измерения температурной зависимости
6. Что называется зоной проводимости, запрещенной зоной, ва- проводимости показана на рис. 10 и включает исследуемый образец,
лентной зоной? источник питания образца, стабилизированный по току, термопару,
7. Что такое “дырки”? нагреватель, источник питания нагревателя (на схеме не показан),
8. Что понимается под собственной и примесной электропровод- блок регистрации, персональный компьютер ПК.
ностью?
9. Может ли температурная зависимость электропроводности
быть представленной графически в виде прямой линии? Если да,
то в каких координатах?
10. Что определяет угловой коэффициент α на рис. 5 ?
Задание 1
1. Используя цифровой универсальный вольтметр, измерьте со-
противление образца между точками 1, 2 (R 12) и 3, 4 (R 34).
Зная величину сопротивления R12 и максимально допустимый
ток через образец (2 мА), рассчитайте соответствующую величину
напряжения, которую необходимо выставить на выходе генератора.
2. Подключите к выходу генератора дополнительную нагрузку и
цифровой вольтметр. Установите частоту ~100 Гц. Включите гене-
ратор и подберите выходное напряжение не более раcчетного.
3. Соберите схему рис. 9. Включите сетевые тумблеры генерато-
ра, блока регистрации, компьютера. Установите частоту генератора Рис. 10. Схема измерения температурной зависимости
~10 –-2 Гц. электропроводности полупроводника
Найдите на рабочем столе иконку с подписью "Volt_amp" и от-
кройте программу измерения вольтамперной характеристики.
Запуск программы осуществляется кнопкой "⇒". Контрольные вопросы
4. Запишите вольтамперную характеристику. Нажмите кнопку 1. Как согласно теории должно зависеть напряжение на контак-
STOP&Write и сохраните файл под своим именем с расширением тах (3, 4) от температуры?
.dat, который можно найти в директории: С:/LabWork/<имя>.dat.

33 34
© www.phys.nsu.ru
3. Зная сопротивление образца и величину тока (1 мА), рассчи- 2. Какой энергии пропорционален угловой коэффициент β на
тайте напряжение источника тока. рис. 5?
4. Какова должна быть скорость нагрева образца? 3. Какова связь между коэффициентом диффузии и подвижно-
стью для частиц, не обладающих электрическим зарядом?
Задание 2
1. Соберите схему рис. 10. Установите на источнике ток равный 5. Содержание отчета
1 мА. Включите сетевые тумблеры приборов.
2. Откройте программу измерения зависимости напряжения от Отчет должен содержать следующие измеренные данные и ре-
температуры "Temp_Vol", зультаты их обработки и анализа.
3. Поместите образец в нагреватель, установите на источнике пи-
тания нагревателя величину тока, равную 500 мА, напряжение – К первому заданию:
20 В, и включите сетевой тумблер. – расчетные формулы;
Кнопкой "⇒" запустите программу. – схему измерительной установки;
Запишите зависимость напряжения на контактах (3, 4) от темпе- – вольт - амперную характеристику;
ратуры образца. (Скорость нагрева образца ~ 10 В/10 мин.). При – значение проводимости σ при комнатной температуре с указа-
достижении температуры ~ 100°С, что соответствует ~ 60 В, выньте нием погрешности.
образец из нагревателя и запишите температурную зависимость при
естественном охлаждении образца до комнатной температуры. Со- Ко второму заданию:
храните экспериментальные данные. – расчетные формулы;
Обратите внимание, что максимальное число точек записи равно – схему измерительной установки;
1000. – график температурной зависимости проводимости;
4. Постройте график зависимости ln σ = f(1/Т), Методом наи- – график зависимости ln σ = f(1/Т)
меньших квадратов (см. Выпуск 1) определите ширину запре- – значение ширины запрещенной зоны Еg, концентрации, сум-
щенной зоны E g полупроводника и вычислите погрешность [6]. марную подвижность и коэффициент диффузии носителей и срав-
нение с их теоретическими значениями.
5. Сравните полученный результат с табличными данными и оп-
ределите материал исследуемого полупроводника.
6. Вычислите собственную концентрацию носителей и суммар-
ную подвижность при комнатной температуре как u=u n +u p . По со-
отношению Эйнштейна вычислите коэффициент диффузии. Оцени-
те время диффузии частицы на характерном размере полупроводни-
кового элемента порядка 1 мкм.
4. Дополнительные вопросы
1. Как изменится график ln σ = f(1/Т), если концентрация приме-
си превышает собственную концентрацию полупроводника?

35 36
© www.phys.nsu.ru
UH c ⋅ l UH l
Работа 4.2 u= ⋅ (СГС), u= ⋅ (СИ) (56)
U1-2 B ⋅ d U1-2 B ⋅ d
Движение носителей заряда в полупровод-
никах, помещенных в магнитное поле. Таким образом, измеряя ЭДС Холла в образце с известной гео-
метрией можно определить подвижность носителей заряда. Дрей-
Эффект Холла фовую скорость можно выразить, зная плотность тока и концентра-
Цель работы: Изучить движение носителей заряда в полупро- цию носителей заряда n:
воднике, помещенном в магнитное поле. Определить тип проводи- I I
мости, концентрацию и подвижность носителей заряда. j= =env d , где v d = , (57)
hd hden
При измерении ЭДС Холла важно правильно выбрать геометрию
образца и контактов, а в случае использования 4-х контактной схе- h ⋅ d - площадь сечения образца (рис. 8).
мы (рис. 8) убедиться в омичности контактов 1 и 2 (т.е. ток через Определив подвижность (по формуле 56) и проводимость (по
образец должен быть пропорционален напряжению между контак- формуле 54), используя связь удельной проводимости и подвижно-
тами 1 и 2 - U 1− 2 ). Если угол θh мал, то эквипотенциальные плоско- сти σ = q ⋅ n ⋅ u (попробуйте самостоятельно вывести это выра-
сти практически параллельны граням 1 и 2 и сопротивление образца жение) можно определить связь между концентрацией носителей
между контактами 1 и 2 равно сопротивлению прямоугольного па- заряда и ЭДС Холла:
раллелепипеда с размерами, показанными на рисунке 8:
I⋅B 1 I⋅B
1 l
R1-2 = ⋅
U
= 1-2 , тогда, можно найти удельную проводимость UH = ⋅ =R⋅ (СГС);
σ h ⋅d I e⋅c⋅h n h
образца:
I⋅B 1 IB
I l 1 l UH = ⋅ =R⋅
σ= ⋅ = ⋅ (54) e⋅h n h
(СИ) (58)
U 1− 2 h ⋅ d R1− 2 h ⋅ d
Из формул 29 и 36, ЭДС Холла равна: Знак ЭДС Холла задаётся направлением магнитного поля и зна-
ком носителей заряда.
u⋅B u ⋅ B U1-2
U H =E H ⋅ d= ⋅ E ⋅ d= ⋅ ⋅ d (СГС), 1. Оборудование и образец
c c l В предлагаемой работе изучается движение носителей заряда в
U1-2 полупроводнике, помещенном в магнитное поле. Определяются тип
U H =u ⋅ B ⋅ ⋅ d (СИ) (55) проводимости, концентрация и подвижность носителей заряда.
l
Характер проводимости полупроводников, концентрацию и под-
Отсюда можно определить подвижность носителей заряда: вижность носителей можно определить на установке, схема которой
приведена на рис.11. Исследуемый образец полупроводника, изго-
товленный в виде прямоугольной пластинки с размерами l×d×h, ука-

37 38
© www.phys.nsu.ru
занными на держателе, помещается в постоянное магнитное поле, ± 5В, поэтому для сигналов большей амплитуды используются де-
создаваемое электромагнитом. Величина поля между полюсами N, S лители, которые уменьшают сигналы до регистрируемого диапазо-
пропорциональна току в катушках, коэффициент пропорционально- на. Сигналы амплитудой выше 42 В приводят к выходу платы
сти K указан на магните. из строя.
Измеренная разность потенциалов является суммой холловской,
контактной, термо-ЭДС, а также ЭДС за счет расположения контак-
тов (3), (4) на неэквипотенциальных поверхностях. Для исключения
указанных сторонних ЭДС можно воспользоваться тем, что они не
меняют знак при изменении направления магнитного поля. Поэтому
нужно измерить значения разности потенциалов U34 при двух про-
тивоположных направлениях магнитного поля и отделить ЭДС Хол-
ла от дополнительных Uдоп с помощью соотношений:
1
U1 = U 34 + U доп , U1 = −U 34 + U доп , U H = (U1 − U 2 ) (59)
2
Изменение направления поля через образец можно осуществить
поворотом образца на 180° или изменением направления тока, про-
текающего через катушки электромагнита. Подумайте, какой метод
предпочтительнее в данной установке и обоснуйте свой выбор.
Контрольные вопросы и задания
(допуск к эксперименту)
Рис. 11. Схема установки для измерения зависимости 1. В чём заключается эффект Холла?
ЭДС Холла от тока через образец. 2. Какова природа носителей тока в полупроводниках?
3. Как создаются полупроводники p –типа и n –типа?
Направленное движение носителей происходит под действием 4. Что такое дрейфовая скорость носителей тока?
ЭДС источника линейно меняющегося напряжения. Падение на- 5. Как определяется физическая величина, называемая «подвиж-
пряжения на сопротивлении R, пропорциональное току через обра- ность носителей тока»?
зец, и возникающая в точках (3), (4) разность потенциалов подаются 6. Что такое собственная проводимость и примесная проводи-
на входы X и Y переходного модуля, содержащего соединительный мость полупроводников?
блок NI CB-37F-LP. Специальным многожильным кабелем (SH37F- 7. Коэффициент Холла у полупроводников на несколько поряд-
37M) блок соединён непосредственно с платой аналого-цифрового ков больше, чем у металлов. Чем это объясняется?
преобразователя многофункциональной платы сбора данных Na- 8. Можно ли по измеренной постоянной Холла (не имея другой
tional Instruments NI 6010, которая позволяет регистрировать осцил- информации о данном образце) определить концентрацию носите-
лограммы сигналов на экранах виртуального осциллографа в YT и лей тока в примесном полупроводнике?
XY режимах средствами программного комплекса LabView /см. 9. Наблюдается ли эффект Холла в собственных полупроводни-
приложение Х/. Плата NI 6010 установлена в слот расширения ком- ках?
пьютера типа PCI. Максимальный диапазон принимаемых сигналов 10. Зависит ли эффект Холла от температуры?

39 40
© www.phys.nsu.ru
11. Можно ли с помощью датчика Холла измерить магнитное по- - графики зависимости напряжения U34 от тока I через образец
ля Земли? Чувствительность датчиков Холла ≈0,1 В/Тл. при различных направлениях тока и различных положениях образца,
12. Почему для измерения эффекта Холла используется измере- зависимости снять при различных (не менее трех) значениях маг-
ние ЭДС Холла, а не тока? нитного поля и для остаточного магнитного поля (ток через катушки
электромагнита равен нулю);
2. Задание - из полученных зависимостей напряжения U34(I), используя со-
1. Соберите схему рис. 3. Задав направление тока через образец отношение 14 построить при различных значениях магнитного поля
(выводы 1,2) и направление магнитного поля, по знаку ЭДС зависимости U H (I) (график 2 в приложении);
Холла (выводы 3, 4) определите тип проводимости полупровод-
ника. Изменив направление тока или положение образца, убеди- - график зависимости U H (I) от магнитного поля (график 3 в при-
тесь, что U 34 > U доп и Ваш вывод верен. ложении), оцените ошибки измерений;

2. Запишите зависимость U34(I) при различных (не менее трех) зна- - значение концентрации носителей заряда;
чениях магнитного поля. Постройте графики зависимости U34(I), - значение подвижности носителей заряда;
отделив U34 от Uдоп во всех измерениях.
3. Используя полученные графики и уравнение (58), определите - сравните полученное значение подвижности с табличными зна-
концентрацию носителей заряда. чениями и определите материал образца.
4. Рассчитайте подвижность µ носителей заряда, определив пред-
варительно σ по одной из формул:
Библиографический список
1
l
j =σE, σ= = 1. Бонч-Бруевич В. Л., Калашников С. Г., Физика полупроводни-
ρ RS
ков. М.: Наука, 1990.
5. Укажите источник ошибок и оцените их величину. 2. Левинштейн М. Е. , Симин Г. С. , Барьеры. М.: Наука, 1987.
6. Сравните полученные результаты с табличными (табл.1, стр. 11) 3. Киттель Ч., Введение в физику твердого тела. М.: Нау-
и определите материал изучаемого полупроводника. ка,1978.
4. Сивухин Д. В., Общий курс физики. Т. 3: Электричество. М:
Дополнительные вопросы
Наука, 2002.
1. Предложите методы измерения магнитного поля. 5. Князев Б. А., Черкасский В. С., Начала обработки эксперимен-
2. Оцените влияние остаточной намагниченности сердечника тальных данных. Новосибирск: НГУ, 2004.
электромагнита на результаты эксперимента. 6. Батурина Т. И., Физика полупроводников. Учеб.-метод. посо-
3. Получите выражение для подвижности u, если известно бие. Новосибирск: НГУ, 2000.
среднее время между соударениями носителей заряда.
3. Содержание отчёта
Отчёт должен содержать следующие измеренные данные и ре-
зультаты их обработки и анализа.
- тип проводимости полупроводника;

41 42
© www.phys.nsu.ru

II. Сегнетоэлектричество 1. Основные свойства и характеристические пара-


метры сегнетоэлектриков
Основные обозначения
К сегнетоэлектрикам относятся кристаллические диэлектрики,
обладающие следующими свойствами [1–5].
E –электрическе поле,
Eloc – локальное электрическое поле • В сегнетоэлектрических кристаллах существует спонтанная
Eс – коэрцитивное поле, поляризация ( Ps ) в отсутствие внешнего поля. Такое состояние кри-
P – поляризация, Ps, Pr – спонтанная и остаточная поляризация, сталла называется полярным (или сегнетоэлектрическим) состоя-
D – электрическая индукция, нием. Величина спонтанной поляризации для различных сегнето-
pмол – дипольный момент атома, электриков лежит в интервале 10-7 ÷ 10-5 Кл/см2. В обычных щелоч-
Т – температура, но-галоидных кристаллах столь большие значения индуцированной
v – объем, занимаемый атомом, поляризации могут быть достигнуты в полях 107 ÷ 108 В/м.
α – поляризуемость атома, • При нагреве кристалла выше точки Кюри (Tc) кристалл из
χ – диэлектрическая восприимчивость, полярного состояния переходит в неполярное (или параэлектриче-
γ – фактор Лоренца,
ε – диэлектрическая проницаемость, ское) состояние, в котором PS = 0 . Некоторые кристаллы находятся
Tc – температура Кюри, в полярном состоянии в определенной области температур, поэтому
T0 – температура Кюри–Вейса, они характеризуются также нижней точкой Кюри. Кристалл в непо-
d – толщина образца, лярном состоянии является обычным диэлектриком, в котором при
S – площадь образца, приложении внешнего поля возникает обычная индуцированная по-
C – конденсатор (емкость), ляризация (электронная, ионная и ориентационная).
Cx – сегнетоэлектрический конденсатор, • В области фазового перехода происходит резкое изменение
C0 – эталонный линейный конденсатор, величины спонтанной поляризации и диэлектрической восприимчи-
Q – заряд, вости, а также некоторых других оптических, механических и теп-
U – напряжение, ловых свойств. Сегнетоэлектрики характеризуются высоким значе-
R – сопротивление, нием диэлектрической проницаемости, сильно зависящей от темпе-
f – частота, ратуры. В области выше фазового перехода температурная зависи-
Z – импеданс мость диэлектрической проницаемости аппроксимируется полуэм-
пирическим законом Кюри–Вейсса
C
ε≈ , (1)
T − T0
где С – константа Кюри; T0 – температура Кюри–Вейсса (Tc ≈ T0 ,
поэтому в дальнейшем мы будем использовать обозначение Tc для
температуры фазового перехода).
• В полярном состоянии кристалл сегнетоэлектрика имеет до-
менную структуру. В пределах каждого домена дипольные момен-

43 44
© www.phys.nsu.ru
ты всех элементарных ячеек кристалла, образующие Ps , ориентиро- типа «смещения». При таком фазовом переходе Ps возникает за
ваны одинаково, в соседних же доменах векторы Ps направлены в счет смещения ионов одной подрешетки относительно другой. Ти-
произвольных направлениях. Следствием доменной структуры яв- пичный представитель этой группы – титанат бария – BaTiO3.
ляется гистерезисная зависимость между электрической индукцией На рис. 1 показана схема элементарной ячейки BaTiO3. У титана-
и полем D(E) и между поляризацией кристалла и полем P (E) . та бария в неполярной фазе (т. е. при T > Tc , Tc = 393 K ) ион Ti4+
В настоящее время известно более ста веществ, обладающих сег-
нетоэлектрическими свойствами. Наиболее широко известны кри-
сталлы сегнетовой соли, дигидрофосфата калия и титаната бария,
характеристические параметры для которых приведены в табл. 1 (Tc
– температура Кюри, Ps – спонтанная поляризация (при указанной в
скобках температуре), C – константа Кюри).
Таблица 1
Сегнетоэлектрические кристаллы

Химическая Ps ,
Наименование Tc , K C, K
формула 10-6 Кл/см2
297
Сегнетова соль NaKC4H4O6·4H2 0,25 (268 K) 2,2·103
(верхняя)
O
255
(нижняя)
Рис. 1. Структура титаната бария: а − кубическая ячейка неполярной фа-
Дигидрофосфат KH2PO4 123 4,75 (96 K) 3,3·10 3 зы; б − перестройка структуры BaTiO3 при фазовом переходе из неполяр-
калия ной в полярную фазу при Tc = 393K , смещения атомов d1 = – 0.09·10-8
см, d2 = + 0.05·10-8 см, d3 = – 0.05·10-8 см; в − кубическая элементарная
Титанат бария BaTiO3 393 26,0 (296 K) 1,5·10 5
ячейка, стабильная при T > Tc ; г − деформация кубической ячейки при
переходе в тетрагональную фазу при T < 393K .
2. Классификация сегнетоэлектрических кристаллов
по типу фазового перехода
Возникновение Ps в сегнетоэлектрическом состоянии тесно свя- находится в центре кубической ячейки, ионы Ba2+ занимают верши-
зано со структурными изменениями кристаллической решетки при ны ячейки. Размер элементарной ячейки a = 4·10–8 см. Ионы O2– рас-
переходе через точку Кюри. По типу фазового перехода сегнето- положены в центрах граней куба, т. е. образуют кислородный окта-
электрические кристаллы можно подразделить на две группы. К эдр с ионом Ti4+ в центре; октаэдры соединены друг с другом вер-
первой группе относятся кристаллы, которые претерпевают переход шинами, а в пустотах между ними находятся ионы Ba2+.

45 46
© www.phys.nsu.ru
Деформация структуры при фазовом переходе ниже Tc заключа- входит в уравнения Максвелла для среды, и локальным электриче-
ется в том, что ион Ti4+ слегка смещается из центра кислородного ским полем Eloc , которое включает в себя действие на отдельный
октаэдра так, что кубическая ячейка становится тетрагональной с атом всех остальных дипольных моментов внутри образца. В случае
отношением осей c/a = 1,01. Ячейка растягивается в направлении,
которое называется осью с и укорачивается в направлении, которое кубического кристалла Eloc и E связаны соотношением, которое
называется осью а (рис. 1, г). При смещении возникает электриче- называется формулой Лоренца:
ский диполь и, следовательно, спонтанная поляризация. Направле- 4π P
ние спонтанной поляризации может быть параллельным любому из Eloc = E + P, Eloc = E + , (2)
3 3ε 0
шести эквивалентных направлений. При дальнейшем понижении
где P – поляризация диэлектрика. Здесь и далее формулы продуб-
температуры до ≈ 273 K титанат бария испытывает второе фазовое
лированы в гауссовой системе единиц (левая колонка) и в системе
превращение в ромбическую фазу, а при 193 K происходит третье
СИ (правая колонка).
фазовое превращение в ромбоэдриче скую фазу. Обе эти фазы яв-
Однако в большинстве сегнетоэлектриков расположение ионов
ляются сегнетоэлектрическими. Со структурными искажениями при
не обладает кубической симметрией, поэтому обычно используют
этих переходах можно ознакомиться в работе [3]. Такие фазовые
формулу Лоренца более общего вида:
переходы называются переходами типа «смещения».
Ко второй группе относятся сегнетоэлектрики с фазовым перехо- Eloc = E + γ P , (3)
дом типа «порядок – беспорядок». В этом случае спонтанная поля- где γ – фактор Лоренца, который зависит от конкретной атомной
ризация возникает в результате упорядочивания водородных связей 1 4π 1
в группах ионов либо самих ионных групп в элементарной ячейке структуры и по порядку величины равен ( в системе СИ).
3 3ε 0
кристалла. К этой группе можно отнести дигидрофосфат калия и
сегнетову соль. Поляризуемость α молекулы определяется как отношение сред-
него дипольного момента молекулы к действующему на нее полю
3. Условие перехода сегнетоэлектрика типа «смеще- p мол = α Eloc . (4)
ние» в полярное состояние Кроме того, следует учесть, что поляризация P представляет собой
Механизм возникновения полярного состояния в титанате бария средний дипольный момент, приходящийся на единицу объема об-
можно объяснить характером взаимодействия ионов решетки с ло- разца, поэтому можно записать
кальным электрическим полем Eloc [1, с. 185; 2, с. 222]. Существует p мол = vP = α Eloc , (5)
различие между макроскопическим полем E внутри образца, кото- где v – объем, занимаемый поляризованным атомом.
рое является результатом усреднения микроскопических полей и
Уравнения (3), (4) и (5)показывают, что между Eloc и P существует

1
обратная связь, а именно: увеличение Eloc приводит к увеличению
Водородная связь – это слабая связь, возникающая между электроотрицательны-
ми атомами (атомами, обладающими большим сродством к электрону, например: p мол и P которые, в свою очередь, усиливают Eloc . Поляризуемость
O, N, F) молекулы и электроположительным ядром водорода Н, который, в свою
α характеризует «податливость» атома в электрическом поле. При
очередь, ковалентно связан с другим электроотрицательным атомом той же или
соседней молекулы. В случае когда атом H связан с двумя атомами одного сорта, некотором критическом значении поляризуемости процесс увели-
например O, водородная связь может иметь две конфигурации, т. е. атом водорода чения P и Eloc начинает разгоняться. В учебнике Ч. Киттеля такой
может смещаться вдоль направления связи O ― H ···· O (либо O ···· H ― O). Здесь
символ ― обозначает ковалентную, а символ ···· водородную связь. механизм называется поляризационной «катастрофой» [1, с. 219].

47 48
© www.phys.nsu.ru
Процесс увеличения P и Eloc останавливается из-за нелинейных лишь качественно. Для этого воспользуемся формулой Клаузиуса–
упругих сил, возникающих при смещении ионов, что приводит к Мосcотти [1, c. 191]:
нарушению линейной зависимости в выражении (3). Разрешая (3), ε − 1 4π α
= , (7)
(5) относительно P , получим ε +2 3 ν
α где α – поляризуемость атома (предполагаем один сорт атомов), v –
E
P= ν . (6) объем, занимаемый атомом. Формула Клаузиуса–Мосcотти связы-
αγ вает макроскопическую характеристику диэлектрика ε с микроско-
1−
ν пической характеристикой атома α и справедлива для кристаллов с

ν кубической симметрией (фактор Лоренца γ = ). Перепишем (7) в
Из этого уравнения следует, что при α < величина P конечна, 3
γ виде:
что физически соответствует индуцированной поляризации и непо- 8π α
ν 1+
лярному (параэлектрическому) состоянию кристалла. При α = ε= 3 v . (8)
γ 4π α
1−
правая часть уравнения (6) расходится. Физически это означает, что 3 v
устанавливается конечная поляризация при нулевом внешнем поле,
т. е. кристалл приобретает спонтанную поляризацию и переходит в Из последнего выражения видно, что диэлектрическая прони-
4π α
ν цаемость имеет особенность в точке = 1 , которая соответству-
полярное (сегнетоэлектрическое) состояние. Условие α = может 3 v
γ ет фазовому переходу. Заметим, что v увеличивается с повышением
быть выбрано в качестве критерия для оценки величины критиче- температуры вследствие теплового расширения. Поскольку расши-
ской поляризуемости. рение мало, то для определения температурной зависимости ε(T)
Кратко суммируя результаты этого параграфа: переход в поляр- выше точки фазового перехода (в неполярной фазе) мы можем раз-
ную фазу кристалла типа «смещения» происходит за счет достаточ- ложить знаменатель уравнения (8) в ряд Тэйлора в окрестности точ-
но большой величины поляризуемости атомов или ионов, которая ки перехода Tc по степеням (T–Tc):
G G
вызывает самопроизвольный рост Eloc и P кристалла. Этот процесс 4π α 4π ⎡ ∂ ⎛ 1 ⎞ ⎤
1− ≈ − α c ⎢ ⎜ ⎟ ⎥ (T − Tc ) , (9)
останавливается за счет нелинейных упругих сил, которые уравно- 3 v 3 ⎣ ∂T ⎝ v ⎠ ⎦Tc
вешивают электрические силы при некотором смещении ионов.
Смещение ионов решетки обнаруживается в полярной фазе, напри- где индексом c снабжены параметры в точке T = Tc. Здесь мы огра-
мер в BaTiO3, при рентгеноструктурном анализе (Рис. 1). ничились случаем электронной поляризуемости, для которой
⎛ ∂α ⎞
4. Поведение спонтанной поляризации и диэлектри- ⎜ ⎟ = 0 [1, с. 195]]. Кроме того, учтем, что величина
⎝ ∂T ⎠Tc
ческой проницаемости вблизи точки фазового пере-
1 ⎛ ∂v ⎞
хода β= ⎜ ⎟ представляет собой коэффициент объемного расшире-
v ⎝ ∂T ⎠
В рамках молекулярной теории температурную зависимость ди-
электрической постоянной выше точки Кюри можно обосновать ния, который по порядку величины равен 10–5 K–1. Тогда из формул

49 50
© www.phys.nsu.ru
(8), (9) получим закон Кюри–Вейсса для диэлектрической прони- кристаллографических направлений. Заметим, что зависимость ε(T)
цаемости подчиняется закону Кюри–Вейсса (с другим значением константы)
3 и ниже точки Tс = 120 °C.
β C
ε (T ) ≈ = , (10) Обоснование температурной зависимости ε(T) и PS(T) в полярной
(T − Tc ) (T − Tc ) фазе проводится в рамках феноменологической теории сегнетоэлек-
3 тричества В. Л. Гинзбурга [5, с. 170], где показано, что температур-
где коэффициент ≅ 105 K имеет смысл константы Кюри C в эм- ная зависимость спонтанной поляризации имеет вид
β
PS ≈ (T0 − T ) .
1/ 2
пирическом законе Кюри–Вейсса (1). Такой порядок значения кон- (11)
станты характерен для BaTiO3 (см. табл. 2).
На рис. 2, а показана экспериментальная температурная зависи- Экспериментальная кривая PS (T ) для титаната бария приведена на
мость ε для кристаллов титаната бария, измеренная вдоль различных рис. 2, б.

5. Домены и гистерезис зависимости поля-ризации


от напряженности электрического поля

В устойчивом термодинамическом состоянии сегнетоэлектрик


разбит на домены – области, в которых направление элементарных
диполей, образующих Ps , одинаково и не совпадает с направлением
Ps в соседних доменах. Разбиение сегнетоэлектрика на домены
уменьшает энергию внешнего поля, но увеличивает энергию границ
раздела доменов. Устойчивая (либо метастабильная) конфигурация
является результатом компромисса между этими двумя процессами

Рис. 3. Распределение направлений


Ps в многодоменном кристалле BaTiO3

Рис. 2. а – температурная зависимость диэлектрической проницаемо-


сти кристаллов BaTiO3, измеренная параллельно (εc) и перпендику- и достигается при минимуме полной энергии кристалла.
лярно (εa ) к направлению PS ; б – температурная зависимость спон- После травления образца доменная структура наблюдается в
танной поляризации кристалла BaTiO3 [3] микроскопе в поляризованном либо в обычном свете. Структура
зависит от числа возможных направлений Ps при переходе кри-

51 52
© www.phys.nsu.ru
сталла из неполярной в полярную фазу. Кристалл BaTiO3 в непо- поля, толщина и качество кристалла. Величина поляризации Pr на
лярной фазе имеет кубическую ячейку, поэтому при переходе в тет- обратной кривой при E = 0 называется остаточной поляризацией.
рагональную фазу любое из трех направлений ребра куба может
стать направлением Ps . Следовательно, в тетрагональной фазе по-
является шесть возможных направлений Ps . Доменная структура
показана на рис. 3. Характерный размер доменов в BaTiO3 равен
10–4 ÷ 10–2 см.
Следствием доменной структуры сегнетоэлектрика является гис-
терезисная зависимость P ( E ) . Полный дипольный момент кри-
сталла определяется суммой моментов доменов. Поэтому в отсутст-
вие внешнего поля поляризация доменов скомпенсирована и для
образца в целом равна нулю. При включении поля E , достаточно
слабого для того, чтобы переориентировать диполи, направленные
против поля, кристалл ведет себя как линейный диэлектрик (рис. 4,
участок oa). При дальнейшем увеличении напряженности E пол-
ный момент образца меняется за счет смещения доменных границ, а
также зарождения и роста новых доменов. В результате действия
этих механизмов скорость роста P ( E ) увеличится (рис. 4, участок
ab) и, наконец, когда весь кристалл перейдет в состояние с направ-
лением поляризации вдоль E , наступает участок насыщения (bc),
на котором рост P ( E ) происходит за счет индуцированной поляри-
зации. Экстраполяция прямолинейного участка bc по линейному
закону
P ( E ) = Ps + χ E , (12)
Рис. 4. Петли гистерезиса предельного (cdfghc) и частного (внут-
где Pi = χ E − индуцированная поляризация, а χ – диэлектрическая
ренняя кривая) циклов сегнетоэлектрика. Линейная экстраполяция
восприимчивость, до пересечения с осью ординат дает величину участка насыщения (bc) до пересечения с осью OP дает Ps ; точка d
спонтанной поляризации образца Ps . При уменьшении поля и даль-
соответствует остаточной поляризации Pr ; точка f ― коэрцитив-
нейшем увеличении обратного поля изменение P ( E ) идет по кри-
вой bdfg, лежащей выше начального участка кривой, так как смеще- ному полю Ec
ние доменных границ и рост новых доменов задерживается. При
полном цикле изменения поля в прямом и обратном направлении
кривая описывает замкнутую петлю гистерезиса. Поле Ec , которое
надо приложить для того, чтобы уменьшить P до нуля, называется
коэрцитивным полем. Величина коэрцитивного поля в сегнетоэлек-
триках (табл.2) зависит от таких факторов, как температура, частота
53 54
© www.phys.nsu.ru
Последнюю можно также определить как диэлектрическую прони-
Таблица 2
цаемость, измеряемую в слабом переменном поле, т. е. в поле, ин-
Некоторые параметры сегнетоэлектриков (Eс − коэрцитивное
тенсивность которого недостаточна для переориентации доменов.
поле при низких ( ≈ 60 Гц) частотах, ε − диэлектрическая проницае-
мость в слабом поле. В скобках указана температура, при которой 6. Сегнетоэлектрические керамики
проведены измерения) Широкое применение в технике имеет поликристаллическая ке-
рамика на основе BaTiO3 с добавками BaZrO3, SrTiO3, CaTiO3 и др.
Сегнетоэлектрик Eс , 105 В/м ε Керамика изготавливается спеканием при высоких температурах
≈ 1400 °С. Образцы керамики представляют собой совокупность
Титанат бария 0.5÷2 (293 K) (8 ÷ 10)·103 (393 K) кристаллитов, которые, в свою очередь, состоят из большого коли-
160 ÷ 4000 (293 K) чества доменов. Свойства керамики являются результатом усредне-
ния свойств образующих их кристаллитов. Свойствами керамики
Дигидрофосфат ка- 2 (100 K) ≈ 105 (123 K) можно управлять посредством изменения состава твердых раство-
лия ров.
50 (293 K)

Сегнетова соль 0.2 (278 K) ≈ 103 (295 K)


10 (173 K)

Вектор электрической индукции D определяется соотношением


D = E + 4π P , D = ε 0E + P , (13)
поэтому зависимость D ( E ) также имеет вид петли гистерезиса. Для
случая сегнетоэлектриков 4π P  E ( P  ε 0 E в системе СИ), по-
этому зависимости P ( E ) и D( E ) различаются только масштабом.
Кривая oabc, которую описывает точка вершины частного цикла
при плавном увеличении поля, называется основной кривой поляри-
зации Doabc ( E ) . Из-за нелинейной зависимости Doabc ( E ) следует
различать дифференциальную диэлектрическую проницаемость Рис. 5. Зависимость диэлектрической проницаемости растворов
dD dD BaTiO3 – SrTiO3 от температуры. Числовые метки над кривыми
ε dif = oabc , ε dif = oabc (14) указывают содержание SrTiO3 в % [6, с. 333].
dE ε 0 dE

и диэлектрическую проницаемость, определяемую как угловой ко-


эффициент D ( E ) в начале координат
⎛ dD ⎞ ⎛ dDoabc ⎞
ε = ⎜ oabc ⎟ , ε =⎜ ⎟ . (15)
⎝ dE ⎠ E =0 ε
⎝ 0 dE ⎠ E =0
55 56
© www.phys.nsu.ru
Влияние процентного содержания добавки на температурную за- зиции нескольких кривых со слегка смещенными по температуре
висимость диэлектрической проницаемости твердых растворов Ba- пиками, результирующая кривая становится более пологой. Так, на-
TiO3 –– SrTiO3 и BaTiO3 – CaTiO3 иллюстрируется графиками, пока- пример, пик диэлектрической проницаемости кристалла чистого
занными на Рис.2.5 и 2.6. Из Рис. 5 видно, что замещение титана титаната бария при 120 °С смещается при внесении добавок строн-
стронцием уменьшает температуру фазового перехода этого твердо- ция и кальция до 30 °С, причем пик сильно сглаживается: ε умень-
шается лишь вдвое при изменении температуры на ± 50 °С.
Эти свойства сегнетоэлектрических керамик используются при
создании различных типов малогабаритных конденсаторов большой
емкости. Некоторые из них обладают уникальными свойствами, на-
пример: вариконд – конденсатор, заполненный сегнетокерамикой,
емкость которого нелинейно зависит от приложенного напряжения
и компенсирующий конденсатор, емкость которого изменяется при
нагреве. Сегнетэлектрическая керамика для варикондов изготовлена
на основе твердых растворов Ba(Ti,Sn)O3 или Pb(Ni,Zr,Sn)O3. Не-
которые сегнетоэлектрические свойства варикондов приведены в
табл. 3.
Таблица 3.
Свойства сегнетокерамики для варикондов.
Материал Tc, °C ε при 20°C
ВК–1 75 2300 – 2500
ВК–2 75 2000 – 2500
ВК–3 25 10000 – 20000
ВК–4 105 1800 – 2000
ВК–5 25 2000 – 3000
ВК–6 200 400 – 500

Рис. 6. Зависимость диэлектрической проницаемости твер- Приведенные здесь сведения необходимо учитывать при интер-
дых растворов BaTiO3 – CaTiO3 от температуры. Числа – претации результатов измерений, т.к. образцы для лабораторной
содержание CaTiO3 в % [6, с. 333]. работы обычно изготавливаются из конденсаторной сегнетоэлек-
трической керамики.

го раствора от 120 °С до – 150 °С (при 80 % SrTiO3). Рис. 6 иллюст-


рирует «сглаживание» пиков диэлектрической проницаемости, ко-
торое происходит при увеличении содержания CaTiO3 в растворе.
Для создания сегнетоэлектрических керамик используются также
твердые растворы с несколькими компонентами. Если в керамике
созданы неоднородные внутренние напряжения, то, из-за суперпо-
57 58
© www.phys.nsu.ru
из которых – это исследуемый образец сегнетоэлектрика (Cx), а вто-
Работа 4.3 рой – эталонный линейный конденсатор (C0). В схеме выполняется
условие C0  C x , благодаря которому можно считать, что практи-
Изучение свойств сегнетоэлектрика
чески все напряжение с генератора падает на конденсаторе Cx, и
Цель работы – изучение зависимости спонтанной поляризации и следовательно напряжение Ux , снимаемое с этого конденсатора,
диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрика от температуры является синусоидальным. Напряжение Ux через пробник 10X пода-
и измерение характеристических параметров образца из сегнето- ется на вход канала 1 осциллографа (К1). Это напряжение пропор-
электрической керамики. ционально напряженности электрического поля в сегнетоэлектрике
1. Регистрация петли гистерезиса U
E= x. (16)
d
Исследуемый образец представляет собой плоскопараллельную
пластинку сегнетоэлектрической конденсаторной керамики толщи- Второй канал осциллографа (К2) через пробник 1X подключен к
ной d и площадью S с посеребренными плоскостями, к которым линейному конденсатору C0. Если измерительная цепь (пробники
припаяны электрические выводы. Данные для d и S приведены в подсоединенные к осциллографу) не оказывает сильного влияния на
спецификации к работе. тестируемую схему, то можно приближенно полагать равенство за-
Классическая схема для записи петли гистерезиса (Сойер и Тау- рядов на двух последовательно соединенных конденсаторах:
эр, 1930) показана на рис. 7. К выходу генератора синусоидальных Q = U x C x = U y C0 , где Uy – напряжение на линейном конденсаторе.
колебаний присоединены последовательно два конденсатора, один
Кроме того, из граничных условий на поверхности раздела металли-
ческая обкладка – сегнетоэлектрик следует, что в сегнетоэлектрике
Q Q
D = 4π (D= в системе СИ). Комбинируя две последние фор-
S S
мулы, получим
U y C0 U y C0
D = 4π , D= . (17)
S S
Напряжение на линейном конденсаторе оказывается пропорцио-
нальным электрической индукции в сегнетоэлектрике. Если, кроме
того, выполняется условие 4π P  E ( P  ε 0 E в системе СИ), то
можно записать для поляризации
Рис. 7. Схема для записи петли гистерезиса: Cx – U y C0
сегнетоэлектрический конденсатор; C0 – линейный P= . (18)
S
конденсатор; T – термопара; 10X – пробник с коэф-
фициентом ослабления 10; 1X – пробник с коэффи- Петля гистерезиса наблюдается в экранном режиме XY: напря-
циентом ослабления 1; K1, K2 – первый и второй жение канала 1 определяет координату точки на оси X (горизон-
каналы осциллографа, соответственно. тальная ось), а напряжение на канале 2 – координату Y (вертикаль-
ная ось). Таким образом, по известным параметрам C0, S и d можно

59 60
© www.phys.nsu.ru
построить гистерезисную кривую в виде зависимости P ( E ) или 3. Задания
D( E ) . Задание 1. Запись петли гистерезиса предельного цик-
Любое измерение оказывает влияние на исследуемый процесс. ла. Определение коэрцитивного поля Ec , остаточной Pr и
Поэтому следует определить параметры измерительной схемы, при спонтанной поляризации Ps. Определение потерь энергии
которых этим влиянием можно пренебречь. Емкость исследуемого на переполяризацию образца.
сегнетоэлектрического конденсатора достаточно мала и составляет Исходя из данных по величине коэрцитивного поля для различ-
по порядку величины Cx ≈ 1 нФ, что соответствует импедансу ных сегнетоэлектриков (табл. 2) и толщины исследуемого образца
1 сегнетоэлектрика d, определите примерный диапазон рабочего на-
Z Cx = ≅ 0.3 МОм при частоте f = 500 Гц.
2π fC x пряжения генератора. С помощью пробника 10X и осциллографа
Для того чтобы обеспечить малость амплитудных и фазовых ис- проверьте, обеспечивает ли выходное напряжение генератора этот
кажений вносимых измерительной цепью должно выполняться ус- диапазон. Напряжение генератора не должно превышать 300 В ср.
ловие Z Cx  Rвх , где Rвх − входное сопротивление пробника под- кв.
соединенного к осциллографу. В работе применяется пассивный 1. Перед началом работы проверьте работоспособность схемы
пробник P2200 с Rвх ≅ 10 МОм в положении переключателя коэф- (см. рис. 7). Для этого вместо исследуемой емкости Cx включите в
схему обычный линейный конденсатор типа СГМ (диэлектрик –
фициента ослабления 10X, и Rвх ≅ 1 МОм в положении переключа- слюда). В экранном формате YT подберите уровень выходного на-
теля коэффициента ослабления 1X. пряжения и частоту генератора, чувствительность каналов осцилло-
В схеме рис. 7 сигнал Ux ослабляется пробником 10 раз, поэтому графа, скорость развертки, тип, наклон и уровень синхронизации
для отображения истинного напряжения на сегнетоэлектрическом для получения на экране устойчивой картинки с двумя синусоида-
конденсаторе в меню К1 следует установить значение параметра ми. Уменьшите выходное напряжение до нуля и убедитесь, что уро-
Probe 10X. вень помех позволяет работать при выбранной чувствительности
каналов.
Предостережение. Максимальное напряжение на входе при исполь- Переключите экран в формат XY. Так как вы соединили два ли-
зовании пробника в положении 10X для синусоидального сигнала не нейных конденсатора, то на экране должен наблюдаться эллипс, с
должно превышать 300 В (среднеквадратичное значение) и 150 В в помощью которого можно определить сдвиг фаз между двумя сину-
положении пробника 1X. Превышение этих значений может при- соидами [6]. При низкой частоте генератора f ≈ 20 Гц импеданс ис-
вести к повреждению осциллографа. следуемого конденсатора Z Cx ≅ 7.5 МОм примерно совпадает с
2. Измерение температуры входным импедансом пробника, поэтому наблюдается заметный
фазовый сдвиг между двумя синусоидами U x (t ) и U y (t ) . Плавно
При исследовании зависимости свойств сегнетоэлектрика от тем-
пературы схема (см. рис. 7) дополняется устройством для подогрева увеличивайте частоту до тех пор, пока эллипс не выродится в пря-
образца и измерения его температуры. Образец нагревается в печке, мую линию, наклоненную под некоторым углом к оси OX. Эту час-
представляющей собой проволочное сопротивление, на которое по- тоту можно выбрать в качестве рабочей. (Рекомендуется
дается регулируемое напряжение от источника. Температура кон- f ≅ ( 0.5 ÷ 1) кГц ).
тролируется термопарой либо полупроводниковым датчиком темпе- 2. После проверки уровня помех и сдвига фаз замените в схеме
ратуры. Датчик температуры находится в тепловом контакте с од- линейный конденсатор на конденсатор, заполненный сегнетоэлек-
ной из пластин сегнетоэлектрического конденсатора. триком Cx. Переведите экран в формат XY. Плавно увеличивайте
61 62
© www.phys.nsu.ru
уровень выходного напряжения генератора до получения петли гис- При переполяризации сегнетоэлектрика переменным электриче-
терезиса с выраженным участком насыщения – петли предельного ским полем часть энергии поля преобразуется в теплоту. Это связа-
цикла. Установите петлю симметрично относительно осей OX и OY. но с тем, что колебания электронов, атомов и ионов решетки всегда
Последующую обработку петли гистерезиса можно проводить связаны с диссипацией части энергии, которую они приобретают в
двумя методами: графически или с помощью электронной таблицы поле. В сегнетоэлектриках механизмы диссипации усложняются
Excel. В первом методе вы должны сохранить файл снимка экрана в кооперативным эффектом при взаимодействии ионов решетки, а
формате .bmp, распечатать его на принтере и определить коэрци- также перераспределением энергии между доменами и доменными
тивное поле Ec, остаточную Pr и спонтанную Ps поляризации графи- стенками. Вследствие всех этих механизмов потери в сегнетоэлек-
чески, как это показано на рис. 4. При цифровом методе (например, триках зависят как от частоты, так и от амплитуды приложенного
с помощью Excel) вы должны перевести экран осциллографа в фор- поля.
мат YT и сохранить осциллограммы обоих каналов в меню Save Исходя из данных по величине коэрцитивного поля для различ-
Waveform (сохр./вызов Ö Action = Save waveform) в формате ных сегнетоэлектриков (табл. 2) и толщины исследуемого образца
.csv с разделением запятыми, что позволит импортировать эти фай- сегнетоэлектрика d, определите примерный диапазон рабочего на-
лы в Excel. Дальнейшая обработка производится средствами Excel пряжения генератора. С помощью пробника 10X и осциллографа
или любой из математических программ: Mathcad, Matlab, Origin. проверьте, обеспечивает ли выходное напряжение генератора этот
Постройте график P(E) . На диаграмме петли определите участок диапазон. Напряжение генератора не должно превышать 300 В ср.
насыщения (bc на рис. 4). Экстраполируйте участок насыщения до кв.
пересечения с осью E = 0 . Определите координаты точек, соответ- 4. Перед началом работы проверьте работоспособность схемы
ствующих коэрцитивному полю Ec, остаточной Pr и спонтанной по- (см. рис. 7). Для этого вместо исследуемой емкости Cx включите в
ляризации и Ps. Оцените погрешности измерения этих параметров. схему обычный линейный конденсатор типа СГМ (диэлектрик –
слюда). В экранном формате YT подберите уровень выходного на-
3. Определите потери энергии на переполяризацию образца и
пряжения и частоту генератора, чувствительность каналов осцилло-
среднюю за период мощность потерь. Для этого следует воспользо-
графа, скорость развертки, тип, наклон и уровень синхронизации
ваться общим выражением для объемной плотности энергии в ди-
для получения на экране устойчивой картинки с двумя синусоида-
электрике w = 1 ∫ EdD [5, Стр. 118]. Если рассмотреть графиче- ми. Уменьшите выходное напряжение до нуля и убедитесь, что уро-

скую интерпретацию работы на диаграмме D ( E ) для сегнетоэлек- вень помех позволяет работать при выбранной чувствительности
каналов.
триков (рис. 4), а также учесть, что 4π P  E ( P  ε 0 E в системе Переключите экран в формат XY. Так как вы соединили два ли-
СИ) и поэтому D ≈ 4π P ( D ≈ P в системе СИ), то можно опреде- нейных конденсатора, то на экране должен наблюдаться эллипс, с
лить, что диссипация энергии за период в единице объема равна помощью которого можно определить сдвиг фаз между двумя сину-
площади петли гистерезиса соидами [6]. При низкой частоте генератора f ≈ 20 Гц импеданс ис-
∆W ≈ v∫ EdP , (19) следуемого конденсатора Z Cx ≅ 7.5 МОм примерно совпадает с

а средняя за период мощность потерь равна площади петли, умно- входным импедансом пробника, поэтому наблюдается заметный
женной на частоту фазовый сдвиг между двумя синусоидами U x (t ) и U y (t ) . Плавно
∆N ≈ f v∫ EdP . (20) увеличивайте частоту до тех пор, пока эллипс не выродится в пря-
мую линию, наклоненную под некоторым углом к оси OX. Эту час-

63 64
© www.phys.nsu.ru
тоту можно выбрать в качестве рабочей. (Рекомендуется ∆W ≈ v∫ EdP , (19)
f ≅ ( 0.5 ÷ 1) кГц ).
а средняя за период мощность потерь равна площади петли, умно-
5. После проверки уровня помех и сдвига фаз замените в схеме женной на частоту
линейный конденсатор на конденсатор, заполненный сегнетоэлек-
∆N ≈ f v∫ EdP . (20)
триком Cx. Переведите экран в формат XY. Плавно увеличивайте
уровень выходного напряжения генератора до получения петли гис-
При переполяризации сегнетоэлектрика переменным электриче-
терезиса с выраженным участком насыщения – петли предельного
ским полем часть энергии поля преобразуется в теплоту. Это связа-
цикла. Установите петлю симметрично относительно осей OX и OY.
но с тем, что колебания электронов, атомов и ионов решетки всегда
Последующую обработку петли гистерезиса можно проводить
связаны с диссипацией части энергии, которую они приобретают в
двумя методами: графически или с помощью электронной таблицы
поле. В сегнетоэлектриках механизмы диссипации усложняются
Excel. В первом методе вы должны сохранить файл снимка экрана в
кооперативным эффектом при взаимодействии ионов решетки, а
формате .bmp, распечатать его на принтере и определить коэрци-
также перераспределением энергии между доменами и доменными
тивное поле Ec, остаточную Pr и спонтанную Ps поляризации графи-
стенками. Вследствие всех этих механизмов потери в сегнетоэлек-
чески, как это показано на рис. 4. При цифровом методе (например,
триках зависят как от частоты, так и от амплитуды приложенного
с помощью Excel) вы должны перевести экран осциллографа в фор-
поля.
мат YT и сохранить осциллограммы обоих каналов в меню Save
Waveform (сохр./вызов Ö Action = Save waveform) в формате
Задание 2. Построение зависимости εdif(E) и определе-
.csv с разделением запятыми, что позволит импортировать эти фай-
ние ε
лы в Excel. Дальнейшая обработка производится средствами Excel
или любой из математических программ: Mathcad, Matlab, Origin. 4. Постройте основную кривую поляризации Dоавс ( E ) . Основная
Постройте график P(E) . На диаграмме петли определите участок кривая поляризации является геометрическим местом точек вершин
насыщения (bc на рис. 4). Экстраполируйте участок насыщения до частных циклов (рис. 4), которые получены при различных ампли-
пересечения с осью E = 0 . Определите координаты точек, соответ- тудах переменного поля в образце. Достаточно измерить макси-
ствующих коэрцитивному полю Ec, остаточной Pr и спонтанной по- мальные амплитуды периодических сигналов Umx и Umy при различ-
ляризации и Ps. Оцените погрешности измерения этих параметров. ных значениях напряжения с генератора и по формулам (16), (18)
рассчитать соответствующие координаты вершин частных циклов.
6. Определите потери энергии на переполяризацию образца и Напряжение генератора следует плавно увеличивать, начиная с ну-
среднюю за период мощность потерь. Для этого следует воспользо- левого значения. Измерения амплитуд проводить в формате экрана
ваться общим выражением для объемной плотности энергии в ди- YT. Экспериментальные точки аппроксимируются с помощью по-
4π ∫
электрике w = 1 EdD [5, Стр. 118]. Если рассмотреть графиче- линома. Зависимость εdif(E) строится численным дифференцирова-
нием кривой Dоавс ( E ) (14), а ε определяется из выражения (15).
скую интерпретацию работы на диаграмме D( E ) для сегнетоэлек-
Оценить погрешность определения ε.
триков (рис. 4), а также учесть, что 4π P  E ( P  ε 0 E в системе
СИ) и поэтому D ≈ 4π P ( D ≈ P в системе СИ), то можно опреде- Задание 3. Определение температурной зависимости
лить, что диссипация энергии за период в единице объема равна спонтанной поляризации Ps(T) и температуры перехода Tc
площади петли гистерезиса 5. Поместить конденсатор, заполненный сегнетоэлектриком, в
нагреватель. Измерить Ps методом, описанным в задании 1, при уве-
65 66
© www.phys.nsu.ru
личении температуры образца от комнатной до T ≅ 80 °C. Темпера- где n – показатель степени при температуре. В координатах
турный интервал между отсчетами следует сокращать в области фа- 1 1
ln( − ) от ln (T − TC ) имеем прямую линию
зового перехода. С увеличением температуры Ps уменьшается и при ε εC
температуре перехода Tc становится близкой к нулю. Петля гистере-
⎛1 1 ⎞
зиса с ростом температуры плавно трансформируется в прямую ли- ln ⎜ − ⎟ = n ln ( T − T ) − ln C (22)
⎝ε ε ⎠
C
нию, наклоненную под углом к оси OX, либо в эллипс с некоторым C

остаточным сдвигом фаз между Ux и Uy. Постройте график Ps(T) и


с тангенсом угла наклона n к оси абсцисс, которая пересекает ось
определите по нему Tc. Нанесите на график флажок ошибок для ка-
ждой точки. Оцените ошибку определения Tc. ординат в точке – lnC.
7. Обработайте экспериментальные точки в координатах
Задание 4. Определение температурной зависимости 1 1
диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрика ε(T). ln( − ) от ln ( T − T ) методом линейной регрессии (метод наи-
ε εC
C

Проверка закона Кюри-Вейсса в области фазового пере-


хода меньших квадратов). Сравните полученные значения n и C со зна-
чениями, предсказываемыми законом Кюри − Вейсса.
6. Снимите зависимость емкости конденсатора, заполненного
сегнетоэлектриком, от температуры Cx(T) в диапазоне температур от 4. Контрольные вопросы
комнатной до температуры, превышающей Tc примерно на 20 %.
Для того чтобы построить график зависимости ε(T), используйте 4.1. Природа сегнетоэлектричества
C (T ) S 1. Опишите основные механизмы поляризуемости атомов и
соотношение ε (T ) = x , где С = ε 0 – емкость конденсатора ионов в диэлектрике.
C d
без сегнетоэлектрика. В области фазового перехода, в которой ди- 2. Какова роль локального поля в механизме возникновения
электрическая проницаемость быстро меняется, отсчеты делайте спонтанной поляризации в диэлектрике.
более часто, чем на гладком участке зависимости ε(T). Выключите 3. Задача из [1]. Критерий сегнетоэлектричества для нейтраль-
нагрев конденсатора после достижения максимальной температуры ных атомов. Рассмотреть систему из двух нейтральных ато-
и снимите зависимость ε(T) при остывании образца. Определите мов, находящихся на фиксированном расстоянии r. Пусть
точку Кюри по кривой ε(T) и сравните ее с Tc , полученной в зада- поляризуемость каждого атома равна α. Найти соотношение
нии 3 по кривой Ps(T). Сравните значение ε при нормальной темпе- между α и r, при выполнении которого эта система будет
ратуре со значением проницаемости, полученной в задании 2, мето- сегнетоэлектрической.
дом дифференцирования основной кривой поляризации. 4. Каковы основные характеристики диэлектрика, которые по-
Для того чтобы применить уравнение (1) к описанию экспери- зволяют отнести его к классу сегнетоэлектриков.
ментальной зависимости ε(T), следует учесть, что в точке перехода 5. Какие изменения в доменной структуре ответственны за раз-
личные участки основной кривой поляризации.
Tc наблюдается высокое, но конечное значение ε. Пусть ε (TC ) = ε C .
4.2. Эксперимент
Тогда уравнение (1) обобщается в виде
1. Рассчитайте коэффициент деления переменного напряжения
(T − Tc )
n
1 1
на емкостях C0, Cx.
− = , (.21)
ε εC C

67 68
© www.phys.nsu.ru
2. Каков уровень помех и величина сдвига фаз в контрольном 5) График зависимости εdif(E) и значение ε в слабом поле.
эксперименте с линейной емкостью, и какова связанная с
ними величина систематической ошибки. 6) График температурной зависимости спонтанной поляриза-
3. Измерьте отклонение температуры образца от комнатной ции Ps(T) и значение Tc
при рабочей частоте напряжения с генератора. Объясните 7) График температурной зависимости диэлектрической про-
различие, если оно наблюдается. ницаемости сегнетоэлектрика ε(T). Значение точки Кюри,
4. Задача из [1]. Влияние воздушного зазора. Если при измере- определенной по кривой ε(T), и сравнение с Tc, которая
нии диэлектрической постоянной сегнетоэлектрика с боль- следует из кривой Ps(T).
шой величиной ε методом измерения емкости конденсатора
1 1
между пластинкой диэлектрика и обкладками конденсатора 8) График зависимости ln( − ) от ln (T − TC ) и сравнение
существует воздушный зазор толщиной δ, то какова будет ε εC
ошибка измерения. определенных по графику параметров n и C со значения-
4.3. Интерпретация полученных данных ми, предсказываемыми законом Кюри − Вейсса.
1. Сравните диэлектрическую проницаемость, определенную
двумя методами: по углу наклона основной поляризацион- Библиографический список
ной кривой в нулевой точке и методом измерения емкости 1. Киттель Ч. Введение в физику твердого тела. М.: Наука, 1978.
конденсатора в слабом переменном поле. Объясните разли- 2. Фейнмановские лекции по физике / Р. Фейнман, З. Лейтон, М.
чие, если оно наблюдается. Сэндс. Вып. 5: Электричество и магнетизм. М.: Мир, 1966.
2. Наблюдается ли различие температурных зависимостей ε(T) 3. Иона Ф., Ширане Д. Сегнетоэлектрические кристаллы. М.:
при нагревании и охлаждении образца. Если да, то с чем это Мир, 1965.
может быть связано. 4. Желудев И. С. Электрические кристаллы. М.: Наука, 1969.
3. По измеренной в работе величине спонтанной поляризации 5. Сивухин Д. В. Общий курс физики. Т. 3: Электричество. М.:
Ps оцените сдвиг центра тяжести отрицательных зарядов в Наука, 1983.
элементарной ячейке кристалла относительно центра тяже- 6. Методы физических измерений / Под ред. Р. И. Солоухина.
сти положительных зарядов, исходя из структуры типа тита- Новосибирск: Наука. Сиб. отд-ние, 1975.
ната бария (рис. 1). 7. Таблицы физических величин, под ред. Кикоина И.К. М.:
Атомиздат, 1976
5. Содержание отчета
1) Схема эксперимента с обозначением номиналов конден-
саторов и входных сопротивлений пробников.
2) Основные формулы для расчета E , D, P в сегнетоэлектри-
ке.
3) График петли гистерезиса предельного цикла при комнат-
ной температуре в координатах E[В/м] – P[Кл/см2].
4) Значения величин Ps , Ec , Pr с анализом эксперименталь-
ной ошибки.

69 70
© www.phys.nsu.ru
Магнетизм – одно из основных и во многом до сих пор загадоч-
III. Магнитные свойства твердых тел ных явлений окружающего нас мира. Например, объяснения, поче-
му кусок магнитного железняка в земле оказался намагниченным,
Основные обозначения откуда взялось магнитное поле Земли, почему происходит смеще-
М – намагниченность среды, ние магнитных полюсов Земли, или почему отсутствуют магнитные
Н – вектор Н, заряды (монополи) до сих пор остаются гипотетическими.
В – магнитное поле, Всем веществам без исключения присущи магнитные свойства,
χ – магнитная восприимчивость, т. е. при внесении в магнитное поле тело намагничивается – стано-
µ – магнитная проницаемость, вится магнетиком. Разнообразие типов магнетиков обусловлено
е – абсолютная величина заряда электрона, различием микрочастиц, входящих в состав атомов и молекул веще-
me – масса покоя электрона, ства, характером взаимодействий их между собой и внешним маг-
r – радиус электронной орбиты, нитным полем, фазовым состоянием и т. д. Для полного описания
S – площадь орбиты магнитных явлений необходимо использование законов квантовой
I – ток, механики, которые достаточно сложны. Однако макротела состоят
v – скорость вращения электрона, из столь большого числа атомов, что квантовые характеристики ус-
T – период обращения электрона по орбите, редняются и для качественного рассмотрения магнитных свойств
ms , ps – спиновый магнитный и механический момент, некоторых веществ достаточно усредненных параметров, например,
ml, pl – орбитальный магнитный и механический момент, намагниченности (средний магнитный момент единицы объема ве-
γ – гиромагнитное отношение для электрона, щества). Однако объяснить природу ферромагнетизма без использо-
ħ – постоянная Планка, деленная на 2π, вания квантовых представлений не удается.
md - дополнительный магнитный момент атома,
Z – число электронов в оболочке атома, 1. Магнетизм микрочастиц и атомов
N – среднее число атомов в единице объема, Магнитные свойства твердого тела определяются поведением
U – магнитная энергия атома, микрочастиц, входящих в состав атомов и молекул, из которых со-
Tc – температура Кюри, стоят эти макротела. Поэтому вначале необходимо рассмотреть
k – постоянная Больцмана, магнитные свойства свободного атома. Для качественного описания
W – обменная энергия, природы магнетизма атомов используем простейшую планетарную
S – спиновые моменты, модель атома, согласно которой электроны вращаются вокруг по-
Ms – спонтанная намагниченность, ложительно заряженного ядра по круговым орбитам.
Mr – остаточная намагниченность,
Движущийся по круговой орбите радиуса r электрон (рис. 1), эк-
Hc – коэрцитивное поле,
Q – потери энергии на перемагничивание, e
вивалентен кольцевому току I = , где e – абсолютная величина
ј, јm, јсм – плотность тока: внешнего, молекулярного и смещения, T
β, γ – критические индексы магнитного фазового перехода, заряда электрона, T = 2π r – период обращения электрона по ор-
R, L, C – сопротивление, индуктивность, конденсатор (емкость), v
Ф – магнитный поток, бите, ν – скорость вращения. Соответствующий этому току орби-
ξ, U – эдс, напряжение. тальный магнитный момент равен:

71 72
© www.phys.nsu.ru
SI evr Спин – это внутреннее свойство элементарной частицы, как
ml = =− , (1) заряд и масса, т. е. микрочастица не может "расстаться" со сво-
Pl c 2c
им спином, как не может потерять часть заряда или массы. Клас-
где S = π r 2 – площадь орбиты2. сической модели спина не существует, но для качественного пони-
Помимо магнитного элек- мания этого явления можно провести аналогию с вращением Земли
+
трон имеет орбитальный меха- вокруг собственной оси.
r
нический момент количества Спину соответствует спиновый магнитный момент m s , направ-
e V движения электрона
I ленный противоположно моменту количества движения p s Проек-
ml pl = me rv , (2)
ция спинового магнитного момента электрона на направление век-
где me – масса покоя электрона. тора H так же может иметь только два значения (± ms ). По чисто
Рис. 1. Модель атома с элек-
троном, вращающимся по ок- В уравнения (1) и (2) входит квантовым причинам отношение спинового магнитного момента к
ружности произведение vr , поэтому меж- механическому
ду магнитным m l и механиче- e
ms = − ps (4)
ским p l моментами существует простое соотношение me c
e в два раза больше, чем отношение для орбитальных моментов (4).
ml = −
pl . (3)
2me c Полный магнитный момент электрона складывается из орбитально-
Полученное соотношение содержит только фундаментальные по- го магнитного момента, связанного с движением электрона вокруг
стоянные (отношение заряда к его массе), не зависит от радиуса ор- ядра и спинового (собственного) магнитного момента.
биты, поэтому оно справедливо для любой формы орбиты и для В любом атоме имеется несколько электронов, поэтому его сум-
многоэлектронных атомов. Знак минус в выражении (3) означает, марный момент количества движения и полный магнитный момент
что векторы магнитного и механического моментов при орбиталь- являются некоторой комбинацией спиновых и орбитальных момен-
ном движении направлены в противоположные стороны, что обу- тов. Направление суммарного магнитного момента всегда противо-
e положно направлению момента количества движения, а их отноше-
словлено отрицательным зарядом электрона. Множитель − =γ ние может принимать значения в интервале от −e/mec до –e/2mec. В
2me c
общем виде соотношение между суммарными магнитным и механи-
называется орбитальным магнитомеханическим (гиромагнитным)
ческим моментами имеет вид:
отношением для электрона.
Кроме орбитального механического движения электрон обла- ⎛ e ⎞
ms = − g ⎜ ⎟ ps ,
дает собственным моментом количества движения (механическим)
⎝ 2me c ⎠
ps , называемым спином, проекция которого на направление вектора
где множитель g характеризует состояние атома. Для чисто орби-
B имеет только два значения: +ħ/2 и –ħ/2, (ħ – постоянная Планка).
тальных моментов g равно единице, для чисто спиновых – 2, а для
сложной системы, подобной атому, значение g находится между
2
Практически во всех работах, посвященных исследованиям магнитных ними.
свойств, используется гауссова (абсолютная) система единиц, поэтому в данном Ядро атома состоит из протонов и нейтронов, каждый их кото-
теоретическом разделе все соотношения будут записаны только в одной (гауссо- рых также обладает механическим и магнитным моментом. Маг-
вой) системе.
нитный момент любого атома есть векторная сумма магнитных мо-

73 74
© www.phys.nsu.ru
ментов микрочастиц, входящих в данный атом. Поскольку магнит- Магнитное поле в среде B складывается из магнитного поля,
ный момент протонов и нейтронов много меньше магнитного мо- создаваемого внешним (для среды) макроскопическим j током, ко-
мента электронов, то можно считать, что магнитные свойства атома торым могут быть токи проводимости среды, токи электронных и
в основном определяются магнитными свойствами его электронной ионных пучков, токи, текущие по проводам; и собственного поля,
оболочки. обусловленного молекулярными jµ токами. Поскольку молекуляр-
Следовательно, происхождение магнитного момента свободного
атома обусловлено: ные токи и, вызванные ими магнитные поля, очень неоднородны в
• орбитальным движением электронов относительно ядра, малых (порядка расстояния между молекулами) участках простран-
создающим орбитальный магнитный момент; ства, то поле в среде характеризуется средним его значением по
объему, содержащему большое число молекул. Для вычисления
• спиновым магнитным моментом электронов;
макроскопического поля необходимо усреднить непрерывно ме-
• магнитным моментом ядра, который создается спиновыми
няющиеся молекулярные микротоки, заменив их макроскопически-
моментами протонов и нейтронов.
ми токами, непрерывно меняющимися в пространстве, которые на-
Твердое тело представляет совокупность огромного количества зываются токами намагничивания. Плотность такого тока обознача-
атомов, магнитные моменты которых определяется не только мик- ется jm . Тогда уравнение для магнитного поля в среде будет иметь
рочастицами, принадлежащими данному атому, но и их взаимодей-
вид:
ствием с частицами соседних атомов. Из изложенного следует, что

все тела в той или иной степени магнитны, т. е. обладают магнит- rotB = ( j + jm ) . (6)
ными свойствами. c
Заменив в уравнении (6) jm на его значение из выражения (5), и
2. Магнитное поле в веществе объединив оба члена с ротором, получим:
При помещении магнетика в однородное внешнее магнитное по- 4π
rot(B − 4π M ) = j. (7)
ле происходит его намагничивание, т. е. магнетик становится ис- c
точниками магнитного поля. Причиной намагничивания является Введем вспомогательный вектор H
то, что в веществе существуют гипотетические электрические токи, H = B − 4π M . (8)
замыкающиеся в пределах каждого атома (молекулярные токи), ко- Тогда уравнение (7) примет вид:
торые создаются орбитальным и спиновым движением заряженных 4π
частиц внутри самих атомов. rotH = j. (9)
c
Основным соотношением для теории магнитных процессов в
После введения вектора H , из уравнений выпали молекулярные
среде является уравнение, устанавливающее связь намагниченности
токи, остались только токи проводимости, которые при проведении
с молекулярными токами
эксперимента можно контролировать. В этом и состоит смысл вве-
jµ = c ⋅ rotM , (5) дения вспомогательного вектора H [10, стр.234].
здесь jµ – плотность молекулярных токов, M – вектор намагничен- Формально соотношение (9) совпадает с уравнением для магнит-
ности, равный векторной сумме магнитных моментов единичного ного поля в вакууме, но его физический смысл совершенно иной. В
выражении (9) H не магнитное поле, а вспомогательный вектор, и
объема вещества M =
∑ mi . ток не полный, а только внешний.
V Основным вектором в теории магнетизма является вектор B .
. Для нахождения величины магнитного поля B необходимо знать

75 76
© www.phys.nsu.ru
связь между векторами B и M , которая в общем случае является 3.1. Слабомагнитные вещества
нелинейной и имеет достаточно сложный вид. Только для парамаг- Диамагнетики
нитных и диамагнитных сред эта связь является линейной (для
ферромагнетиков только при слабых полях). Для них можно при- Диамагнетики – вещества, атомы и молекулы которых в отсутст-
нять, что M = α B , тогда формула (8) принимает вид: вие внешнего магнитного поля не обладают магнитным моментом.
Это означает, что в веществе имеет место полная взаимная компен-
H = (1 − 4πα )B = B / µ ,
сация как орбитального, так и спинового магнитного момента.
где 1 / µ = (1 − 4πα ) . В силу исторических причин принято выражать
К диамагнетикам относятся все инертные газы, водород, азот,
вектор M не через B , а через H . Приведенные выше линейные хлор и др; ряд металлов (медь, цинк, золото, висмут, ртуть и т. д.);
зависимости можно записать в виде: неметаллы (кремний фосфор, сера и т. д.), а также дерево, мрамор,
M = χH , (10) стекло, воск, нефть, вода и многие органические соединения.
B = (1 + 4πχ )H = µ H . (11) Явление диамагнетизма заключается в том, что в веществе, по-
Введенный здесь коэффициент пропорциональности χ называет- мещенном в магнитное поле, возникает магнитный момент, направ-
ся магнитной восприимчивостью, а µ = 1 + 4πχ - магнитной прони- ленный противоположно вектору магнитного поля B .
цаемостью среды. Качественно явление диамагнетизма можно объяснить как про-
Согласно выражению (8) векторы B и H имеют одинаковую явление электромагнитной индукции. Электрон, вращающийся во-
размерность, но разные названия единицы измерения. В вакууме круг ядра, ведет себя подобно петле с током. Из теории электромаг-
векторы B и H совпадают. Величину B измеряют в гауссах, а ве- нитных явлений известно, что при внесении в магнитное поле кон-
личину H − в эрстедах. Между гауссом и эрстедом нет никакой тура с током в нем индуцируется допол-
разницы. Это разные названия одной и той же величины. B
нительная ЭДС, которая приводит к из-
∆ω менению тока в контуре. В контуре, не
обладающем сопротивлением (в нашем
3. Классификация магнетиков случае движущийся по орбите электрон
pl
По природе микроносителей магнетизма и характера взаимодей- образует именно такой контур), индуци-
ствия их между собой и с внешним полем, все вещества можно раз- рованный ток сохраняется до тех пор,
делить на диамагнетики, парамагнетики, ферромагнетики, анти- r пока существует внешнее поле. Магнит-
v
ферромагнетики и ферримагнетики. Обычно диа- и парамагнетики ное поле, создаваемое индукционным
объединяются в группу слабомагнитных веществ, которые в отсут- током, противоположно внешнему полю,
ствие внешнего магнитного поля не намагничены. ∆m поэтому поле в диамагнетике меньше
В группу сильномагнитных (магнитоупорядоченных) веществ ml намагничивающего. Внешнее проявле-
входят ферро- и ферримагнетики, имеющие большую намагничен- ние диамагнетизма состоит в том, что
ность даже в отсутствие внешнего магнитного поля, а так же анти- Рис. 2. Прецессия элек- образец, помещенный в область с гради-
ферромагнетики, имеющие очень малую суммарную намагничен- тронной орбиты в маг- ентом магнитного поля, должен вытал-
ность. нитном поле киваться из области сильного магнитно-
го поля.
Более подробно диамагнетизм можно описать как результат пре-
цессии электронной орбиты атома относительно оси, проходящей
через ядро параллельно направлению вектора B . Действительно,

77 78
© www.phys.nsu.ru
если атом, имеющий один электрон, поместить в магнитное поле B , Отсюда следует, что вектор намагниченности среды M пропорцио-
то при включении поля возникнет прецессия магнитного момента и нален вектору поля H , но имеет противоположное ему направле-
плоскости орбиты вокруг направления вектора B (рис. 2). Вследст- ние (рис. 3).
вие прецессии орбиты электрон получает небольшое приращение Коэффициент пропорциональности χ называется магнитной вос-
угловой скорости ∆ω , которое зависит только от величины поля B приимчивостью
и отношения заряда электрона к его массе e M Ze 2 N R 2
me χ =− . (15)
∆v e парамагнетики 6me c 2
∆ω = = B. Магнитная восприимчивость
r 2me c
диамагнетика отрицательна и
Из этого соотношения следует, что угловая скорость прецессии
мала по величине (10-8 – 10-4).
электрона совпадает с направлением вектора B .
0 Она не зависит ни от темпера-
Вызванный прецессией дополнительный магнитный момент, так туры, ни от величины магнит-
же пропорционален приложенному полю, но направлен против век- диамагнетики H ного поля, но растёт пропор-
тора B , так как заряд электрона отрицательный ционально порядковому номе-
e2 r 2 Рис. 3. Зависимость на-
ру Z элемента (см. Приложение
∆m = − B. (12) магниченности М от поля
4me c 2 Н для диа- и парамагне-
табл. П1).
В этом и состоит суть диамагнетизма электронной оболочки. тиков Если атомы вещества не об-
ладают магнитным моментом,
Этот эффект относится ко всем электронам, находящимся в лю- то единственным источником
бой оболочке атома. Если считать, что вещество состоит из атомов намагниченности является диамагнетизм.
одного сорта, что электроны в атоме распределены сферически
симметрично и в оболочке каждого атома находится Z электронов, Поскольку электронные орбиты имеются в атоме любого веще-
то дополнительный магнитный момент одного атома равен ства, то диамагнетизм присущ всем без исключения веществам, но
проявляется только тогда, когда магнитные моменты всех электрон-
Ze 2 R 2 ных орбит и всех спинов скомпенсированы. В других случаях он
md = − H, (13)
6me c 2 перекрывается более сильным парамагнетизмом.
где R 2 – среднее значение квадрата радиуса орбиты. Парамагнетики
Примечание. Поскольку эффекты диамагнетизма и парамагне-
тизма малы, то в формуле (13) вектор B заменен на вектор H . Парамагнетики – вещества, имеющие не скомпенсированный
собственный магнитный момент микрочастиц, составляющих атом
Для получения среднего магнитного момента единицы объема (молекулу). Парамагнитные свойства проявляются у следующих
(намагниченности M ) необходимо (13) умножить на среднее число классов физических объектов:
атомов в единице объема вещества N. В результате для вектора на-
магниченности M получим: • атомы (молекулы), у которых нечетное число электронов, в
этом случае суммарный спин системы не может быть равен
Ze 2 N R 2 нулю;
M=− H = χH . (14)
6me c 2
• свободные атомы и ионы с незаполненной внутренней
электронной оболочкой;

79 80
© www.phys.nsu.ru
• некоторые соединения с нечетным числом валентных элек- намагниченность, а так же магнитная восприимчивость убывает.
тронов. Зависимость магнитной восприимчивости парамагнетиков от тем-
В отсутствие внешнего магнитного поля B магнитные моменты пературы описывается законом Кюри
отдельных атомов (молекул) парамагнетиков ориентированы равно- Nm 2 C
χ= = , (17)
вероятно по всем направлениям. Вследствие теплового движения 3kT T
направление магнитных моментов непрерывно меняется, но резуль- где С=Nm2/3k – константа Кюри, Т – абсолютная температура (тем-
тирующий средний магнитный момент парамагнитного тела в от- пература, отсчитываемая от абсолютного нуля). Обратная магнитная
сутствие внешнего магнитного поля всегда равен нулю.
При наложении внешнего, однородного магнитного поля воз-
никнут силы, ориентирующие магнитный момент каждого атома по
направлению вектора B . В зависимости от ориентации магнитного χ
момента, атом будет иметь различную магнитную энергию: 1/χ
U = −(mB) = mB cos α ,
где α – угол между направлением магнитного момента m и векто-
ром магнитного поля B . Минимальное значение энергии будет при
параллельной ориентации векторов m и B . Этой ориентации про- 0
тиводействует хаотическое тепловое движение равное кТ. В резуль-
тате установится некоторый результирующий магнитный момент, и T
тело окажется намагниченным. При комнатной температуре, не
очень сильных магнитных полях и в предположении, что между Рис. 4. Зависимость χ и 1/χ от темпера-
атомами отсутствует взаимодействие, намагниченность равна туры для парамагнетиков
Nm 2
M= H, (16) восприимчивость линейно зависит от температуры, при этом угол
3kT
N – число атомов в единице объема, k – постоянная Больцмана. (О наклона определяется величинами N и m .
замене В на Н см. примечание на стр.80). Имеются парамагнетики, для которых магнитная восприимчи-
Из полученного соотношения следует, что в слабых магнитных вость очень слабо зависит от температуры (щелочные металлы) и с
полях намагниченность парамагнетика: аномальной температурной зависимостью (титан, цирконий и др.).
• положительна; Магнитная восприимчивость парамагнетиков мала, но в отличие
• пропорциональна намагничивающему полю (см. рис. 3); от диамагнетиков всегда имеет положительные значения (см. При-
• обратно пропорциональна температуре (рис. 4). ложение табл. П1), поэтому парамагнетики втягиваются в область
При очень большом намагничивающем поле и низких температу- сильного магнитного поля.
рах, когда все магнитные моменты выстраиваются по направлению К парамагнетикам относятся газы О2 и О, соли железа, кобальта,
вектора H и намагниченность достигает предельного значения, на- никеля, щелочные металлы, а также металлы магний, кальций, алю-
ступает так называемое магнитное насыщение. миний, хром, марганец и др.
С повышением температуры, при неизменном внешнем поле,
возрастает дезориентирующая роль теплового движения молекул и

81 82
© www.phys.nsu.ru
3.2 Сильномагнитные (магнитоупорядоченные) вещества
АВ АВ
Кроме диа- и парамагнетиков, слабо реагирующих на внешнее
магнитное поле, существуют вещества, которые сильно намагничи-
ваются даже в малых магнитных полях. К сильномагнитным веще- m
ствам относятся твердые тела, обладающие следующими свойства-
ми:
• кристаллическим строением;
• наличием самопроизвольной намагниченности;
• большим положительным значением магнитной восприим- а б в
чивости χ , если для слабомагнитных веществ χ = (10-8 –
10-3), то для сильномагнитных – магнитная восприимчи- Рис.5. Типы магнитного упорядочения: а – ферромаг-
вость достигает значений 104 – 105. нитное; б – антиферромагнитное; в – ферримагнитное
• нелинейной зависимостью магнитной восприимчивости от Антиферромагнитное коллинеарное упорядочение, при котором
магнитного поля и температуры; магнитные моменты атомов располагаются антипараллельно друг
• способностью намагничиваться до насыщения при обыч- другу (рис. 5, б). Если объединить все магнитные моменты атомов,
ных температурах в слабых магнитных полях; направленные вверх, в магнитную подрешетку А, а моменты, на-
• гистерезисом – зависимостью магнитных свойств от «маг- правленные вниз, – в подрешетку В, то суммарная самопроизволь-
нитной предыстории»; ная намагниченность окажется равной нулю. Несмотря на то, что
• точкой Кюри (Нееля), т. е. температурой, выше которой каждая подрешетка имеет большую по величине спонтанную на-
вещество теряет ферромагнитные свойства. магниченность, в целом вещество ведет себя как слабомагнитное
Магнитное упорядочение (намагниченность антиферромагнетика составляет ~ 0,1% от намаг-
ниченности ферромагнетика). Типичными антиферромагнетиками
Главное отличие сильномагнитных веществ от слабомагнитных являются металлы Mn, Cr, Sm, Nd, соединения CoO, MnO, UO2 и др.
состоит в степени упорядоченности магнитных моментов. Магнит-
ное упорядочение – есть взаимное самопроизвольное (без участия Обменное взаимодействие
внешнего магнитного поля) выстраивание магнитных моментов в
веществе. Магнитное упорядочение создается электростатическим взаимо-
действием электронов, принадлежащих соседним атомам в решетке.
Различают следующие типы магнитного упорядочения.
Можно считать, что электростатическое взаимодействие электронов
Ферромагнитное, которое характеризуется параллельным распо- состоит из двух частей: классического кулоновского взаимодейст-
ложением магнитных моментов m атомов (рис. 5, а), и, соответст- вия и квантового (обменного) – зависящего от взаимного располо-
венно, большой намагниченностью. жения магнитных моментов соседних атомов. Сущность обменного
Ферромагнетизм наблюдается только у таких кристаллов, в ре- взаимодействия заключается в том, что электроны атомов, располо-
шетке которых имеются атомы с незаполненными 3d или 4f элек- женных на достаточно близком расстоянии друг от друга, подчиня-
тронными оболочками, обладающие не равным нулю значением ре- ются принципу «неразличимости тождественных частиц». Этот
зультирующего спинового магнитного момента. Такими являются принцип не имеет аналога в классической механике и заключается в
железо, никель, кобальт, некоторые редкоземельные элементы их том, что два электрона соседних атомов все время меняются места-
сплавы, а также соединения: MnS, EuO, CrTe и др. ми, и невозможно определить какой из электронов принадлежит
83 84
© www.phys.nsu.ru
данному атому. С этим обменом электронами связана энергия W обм ной ориентации спинов. В этом случае спины самопроизвольно ус-
(обменная энергия), которую можно представить в виде соотноше- тановятся параллельно, возникнет спонтанная намагниченность M s ,
ния т. е. вещество будет ферромагнитным,
W = −2 A(S1S 2 )cos α , (18) 2. Если интеграл обменного взаимодействия отрицательный
где S1 и S 2 – спиновые моменты соседних атомов, α – угол между ( A < 0 ), то обменная энергия будет минимальной при α = 1800 , т.
е. при антипараллельной ориентации спинов. Вещества с антипа-
ними, А – так называемый интеграл обменной энергии, величина раллельной ориентацией спинов называются антиферромагнети-
которого определяется структурой атома и расстоянием атомов друг ками.
от друга, т. е. размерами ячейки кристалла. Примерная зависимость
интеграла обменной энергии А от отношения межатомного расстоя- Существует значительное количество магнитоупорядоченных
ния a к радиусу r незаполненной электронной оболочки приведена веществ, в которых атомы находятся на значительном расстоянии
на рис. 6. друг от друга, и поэтому отсутствует перекрытие электронных об-
лаков и, следовательно, нет прямого обменного взаимодействия ме-
жду магнитными спиновыми моментами. Для объяснения магнитно-
A го упорядочения этих веществ существует теория так называемого
косвенного обменного взаимодействия. В ферритах, например, об-
Co
менное взаимодействие между магнитными ионами осуществляется
Ni через возбужденные ионы кислорода. Электронные оболочки маг-
Gd нитных ионов перекрываются с электронной оболочкой иона кисло-
Fe рода и, последний, как бы является «переносчиком» обменного
взаимодействия. В редкоземельных металлах «переносчиками» об-
Mn a/r менного взаимодействия между атомами являются электроны про-
Сr водимости.
Помимо обменного (близкодействующего) взаимодействия меж-
Рис. 6. Зависимость интеграла обменной энергии А от ду атомами существует дальнодействующее магнитное диполь-
отношения межатомного расстояния a к радиусу r дипольное взаимодействие. Энергия диполь-дипольного взаимодей-
ствия будет минимальной при антипараллельном расположении
магнитных моментов спинов. Следствием конкуренции этих двух
взаимодействий является то, что ферромагнитный образец разбива-
Величина интеграла обменной энергии, имеющего размерность
ется на множество маленьких областей (доменов), в которых маг-
энергии, определяет одну из основных характеристик ферровеществ
нитные моменты выстроены в одном направлении, но в двух сосед-
– температуру Кюри. Чем больше А, тем больше должна быть теп-
них областях спины устанавливаются антипараллельно. В результа-
ловая энергия для разрушения магнитного порядка. Знак этого инте-
те образуется магнитная структура, обладающая минимумом сум-
грала определяет параллельность или антипараллельность спинов в
марной энергии, при которой магнитные потоки замкнуты.
системе электронов.
Из анализа уравнения (18) следует, что в зависимости от знака Между доменами существует переходной слой (стенки Блоха), в
интеграла А получаются два вида магнитного упорядочения: котором происходит плавный переход от одного направления спи-
1. Если интеграл обменного взаимодействия положительный нов к другому. Ширина переходного слоя мала ~10-5 см. Размеры
доменов, их форма и местоположение границ определяется мини-
( A > 0 ), то минимум энергии будет при α = 00 , т. е. при параллель-
85 86
© www.phys.nsu.ru
мумом свободной энергии кристалла. Для образцов малых размеров Процесс смещения границ в слабых полях (на начальном участке
(мелкие порошки или тонкие пленки) образование доменов энерге- оа кривой намагничивания) – обратимый. Это значит, что при уве-
тически невыгодно, так как обменные силы, являющиеся коротко- личении поля границы доменов движутся в одну сторону, а при
действующими, оказываются более сильными, чем дальнодейст- уменьшении поля смещение границ будет происходить в обратном
вующие магнитные. Поэтому такие образцы существуют в намагни- направлении.
ченном состоянии, представляя собой один домен.

Механизм намагничивания Н
Н
Внесение ферромагнетика в магнитное поле приводит к его на-
магничиванию, т. е. увеличению средней намагниченности. Зависи-
мость намагниченности M от магнитного поля H для всех магни-
а б в
тоупорядоченных веществ нелинейная, соответственно магнитная
восприимчивость χ не является константой. Рис. 8. Схема, иллюстрирующая основные процессы
намагничивания: а – ненамагниченное состояние;
Если ферромагнетик, находящийся в размагниченном состоянии б – процесс смещения границ; в – процесс вращения
( M = 0 ), поместить в магнитное поле, а затем начать плавно увели-
чивать поле, то получим начальную кривую намагничивания, при-
мерный вид которой представлен на рис. 7. В более сильных полях движение границ перестает быть плав-
ным. Отдельные участки границ изменяют свое положение скачко-
Исходное состояние ( H = 0 , M = 0 ) соответствует размагничен- образно, и кривая намагничивания круто идет вверх. На этом участ-
ному состоянию тела, когда все домены ориентированы равномерно ке (аб) движение границ большей частью необратимо, что приводит
во всех направлениях (рис. 8, а). к скачкообразному изменению намагниченности (эффект Баркгау-
зена). Скачкообразное движение границ приводит к быстрому изме-
M нению намагниченности образца, что вызывает появление вихревых
Рис. 7. Основная кривая на-
г магничивания: токов, а, следовательно, к нагреванию образца.
в 0 – размагниченное состоя- В достаточно сильных полях движение границ прекращается и
б
ние; 0а – область обратимого энергетически выгодным становится поворот магнитных моментов
намагничивания; аб – необра- к направлению вектора магнитного поля (см. рис.8, в). На этом уча-
тимое смещение границ до- стке (бв) процесс намагничивания протекает медленно. И, наконец,
а менов; бв – область вращения когда в результате вращения вектор спонтанной намагниченности
магнитных моментов; вг – максимально приблизится к вектору H , намагниченность образца
парапроцесс
достигнет технического насыщения.
0 H
Если после достижения технического насыщения продолжать
Плавное увеличение магнитного поля приводит к упругому сме- увеличивать магнитное поле, то намагниченность вещества будет
щению границ доменов таким образом, что размеры доменов, маг- слабо изменяться, возрастая почти линейно. Увеличение самопроиз-
нитные моменты которых близки к направлению магнитного поля, вольной намагниченности в этом случае происходит за счет ориен-
увеличиваются за счет доменов с противоположным направлением тации магнитных моментов, дезориентированных тепловым движе-
магнитных моментов (рис. 8 б). нием. Этот участок кривой намагничивания (вг) носит название ис-
тинного насыщения и соответствует парапроцессу (название под-

87 88
© www.phys.nsu.ru
черкивает аналогию с линейной зависимостью от поля намагничен-
М
ности парамагнетика).
Следовательно, принципиальным отличием парапроцесса от на- Мr
магничивания на первых двух стадиях является то, что в этом слу-
чае возрастает величина намагниченности спонтанных областей, Рис. 9. Начальная кривая
Нс намагничивания и петля
за счет подавления магнитным полем тепловых колебаний магнит-
гистерезиса:
ных моментов атомов. Парапроцесс заметнее проявляется вблизи 0 Н Hc – коэрцитивное поле,
точки Кюри. Mr – остаточная намагни-
В ферримагнетиках, помимо рассмотренных трех стадий намаг- ченность
ничивания добавляется четвертая, суть которой состоит в индуци-
ровании магнитным полем неколлинеарного расположения само-
произвольной намагниченности подрешеток А и В. Это приводит к
увеличению магнитного момента подрешетки, направленной по Для полного размагничивания образца необходимо приложить
магнитному полю. Этот эффект возникает в ферримагнетиках толь- достаточно большое магнитное поле, называемое коэрцитивным
ко при определенных значениях магнитного поля, называемых кри- H c , направленное противоположно полю намагничивания.
тическим, и характерен для ферритов с ослабленным подрешеточ- При циклическом перемагничивании кривая намагничивания об-
ным обменным взаимодействием. разует симметричную гистерезисную петлю, которая характеризует
Для технических магнитных материалов решающее значение потери энергии на перемагничивание, обусловленные следующими
имеют первые две стадии процесса намагничивания. процессами.
Необратимым движением доменной границы. При наличии
Процесс перемагничивания внутри магнетика неоднородностей, примесей, дефектов решетки,
приводящих к местным изменениям магнитной энергии, движение
Уменьшение магнитного поля, намагнитившего ферровещество
границы домена начинается только тогда, когда внешнее магнитное
до технического насыщения, приводит к уменьшению намагничен-
поле достигает определенной (критической) величины, т. е. скачко-
ности, но на меньшую величину по сравнению с первоначальной
образно. Быстрое движение стенок влечет за собой быстрое измене-
кривой намагничивания, т. е. кривая не пойдет по тому же пути
ние магнитного поля, которое в свою очередь создает вихревые то-
(рис. 9). Эта необратимость процесса перемагничивания называется
ки, последние тратят энергию на нагревание магнетика. Другой эф-
гистерезисом.
фект состоит в том, что когда домен резко изменяется, то часть кри-
При достижении магнитным полем нулевого значения намагни-
сталлов из-за магнитострикции изменяют свои размеры. Каждый
ченность образца не обращается в нуль, а принимает некоторое зна-
быстрый сдвиг доменной стенки вызывает звуковую волну, которая
чение, называемое остаточной намагниченностью M r . Остаточная тоже уносит энергию. Благодаря таким эффектам эта часть кривой
намагниченность будет существовать бесконечно долго, если веще- намагничивания необратима, т. е. происходит потеря энергии.
ство не подвергать действию сильных магнитных полей. Информа-
Необратимым вращением магнитных моментов доменов. Это
ция, записанная на магнитных пленках от музыки до вычислитель-
происходит в материалах, состоящих из мелких зерен или из по-
ных программ, сохраняется благодаря этому физическому явлению.
рошка, т. е. в однодоменных структурах. В малых объемах образо-
вание доменной структуры энергетически невыгодно, так как слиш-
ком большую часть объема занимал бы междудоменный слой, тол-
щина которого от размера частиц не зависит. Поскольку вещество

89 90
© www.phys.nsu.ru
однодоменное, то вектор намагниченности должен перевернуться
как целое в направлении трудного намагничивания, на что требует- χ
ся большое поле и, соответственно, потери энергии на перемагничи- χмакс
вание очень велики.
Задержкой образования в образце центров перемагничивания.
Этот тип потерь в чистом виде наблюдается в однородных материа-
лах, имеющих одну ось легкого намагничивания. В них перемагни-
чивание совершается одним необратимым скачком Баркгаузена.
Обычно такие материалы имеют прямоугольную петлю гистерезиса. χ0
Петля гистерезиса, полученная при условии насыщения, называ- 0
H
ется предельной петлей, и является важнейшей характеристикой
ферромагнетика. Из неё можно определить: остаточную намагни- Рис. 10. Примерный вид зависимости
ченность M r , коэрцитивное поле H c и потери энергии за один цикл магнитной восприимчивости χ ферромаг-
нетика от магнитного поля H
перемагничивания в единице объема
1 Восприимчивость, соответствующая начальному участку кривой
4π v∫
Q= HdM эрг/см3, (19)
намагничивания (оа, рис. 7), называется начальной χ 0 , обычно на
где v∫ HdM - произведение площади петли на масштабы M и H этом участке достаточно хорошо выполняется линейная зависи-
M
(при условии M  H , что выполняется в ферромагнетиках). мость М от Н, тогда χ 0 = 0 . Дифференциальную магнитную
H0
Cредняя за период мощность потерь в образце W равна:
восприимчивость определяют как производную от намагниченности
W = QVf (20)
М по магнитному полю Н ( χ диф = dM ) для любой точки кривой
dH
где V – объём образца, f – частота изменения магнитного поля.
намагничивания.
При постепенном уменьшении амплитуды циклов перемагничива-
ния от H max до 0, координаты вершины петли опишут основную Магнитные материалы
кривую намагничивания, из которой можно определить магнитную По величине намагниченности и форме петли гистерезиса магни-
восприимчивость χ вещества на разных участках кривой намагни- тоупорядоченные материалы можно разделить на: магнитотвердые,
чивания, т. е. зависимость χ ( H ) , примерный вид которой приведен магнитомягкие и материалы специального назначения.
на рис.10. Магнитотвердые материалы имеют большую остаточную на-
Поскольку связь между намагниченностью и магнитным полем магниченность и большое коэрцитивное поле, поэтому они исполь-
нелинейная, то для характеристики ферровеществ пользуются не- зуются для изготовления постоянных магнитов.
сколькими видами магнитной восприимчивости. Наиболее часто Характерными свойствами магнитомягких материалов являются
используют понятия начальной, дифференциальной и максимальной способность намагничиваться до насыщения в слабых магнитных
магнитной восприимчивости. полях и малые потери на перемагничивание. К магнитомягким мате-
риалам относятся: электротехнические стали, пермаллои, магнито-
мягкие ферриты, магнитодиэлектрики (Прил. Табл. П2, П4).

91 92
© www.phys.nsu.ru
Процессы намагничивания магнитомягких и магнитотвердых ма- 4. Поведение спонтанной намагниченности и
териалов аналогичны: форма петли гистерезиса, остаточная намаг-
ниченность, и намагниченность насыщения примерно одинакова, а
магнитной восприимчивости при фазовых
разница в коэрцитивном поле значительна (может отличаться в 106 переходах
раз), т. е. магнитомягкие материалы имеют узкую петлю гистерезиса, Особые свойства магнитоупорядоченных веществ наблюдаются
а магнитотвердые – широкую (см. Приложение табл. П2 и П3). Это только в некотором температурном интервале. При нагревании фер-
происходит за счет того, что соотношение процессов смещения и ромагнетика выше некоторой температуры, называемой точкой
вращения в этих материалах различно. В магнитомягких материалах Кюри, самопроизвольная намагниченность исчезает и ферромагне-
намагничивание происходит в основном за счет смещения границ тик превращается в парамагнетик. При последующем понижении
доменов, а в магнитотвердых – за счет вращения. температуры ниже точки Кюри ферромагнитные свойства восста-
К магнитным материалам специального назначения относятся ма- навливаются. Это явление связано с разрушением (восстановлени-
териалы с прямоугольной петлей гистерезиса, ферриты СВЧ и дру- ем) магнитного порядка и представляет собой магнитный фазовый
гие. переход порядок – беспорядок, который принято считать переходом
Материалы с прямоугольной петлей гистерезиса используются в второго рода.3 Причиной этого перехода является тепловое движе-
устройствах автоматики, вычислительной техники, в аппаратуре те- ние, разрушающее ферромагнитное упорядочение.
леграфной и радиосвязи и т. д. Материалы с прямоугольной петлей Рассмотрим кратко суть фазовых переходов. Как известно,
гистерезиса можно разделить на три группы: ферриты, тонкие фер- при фазовых переходах 1-го рода в некотором очень узком интерва-
ромагнитные пленки и текстурованные ферромагнитные сплавы. ле температур происходит перестройка кристаллической решетки
Наиболее распространенными являются ферриты. Ферриты для уст- вещества (меняются межатомные расстояния и углы между плоско-
ройств СВЧ в зависимости от химического состава делятся на: низ- стями решетки). При этом симметрия тела изменяется скачком и
кочастотные и высокочастотные (см. Прил. табл. П5). одновременно происходит изменение состояния кристалла: меняет-
При намагничивании магнитного материала переменным полем ся внутренняя энергия и другие термодинамические величины, что
произойдет расширение петли гистерезиса за счет дополнительных приводит к скачкообразному изменению объема и к выделению
потерь на вихревые токи, которые пропорциональны квадрату час- скрытой теплоты превращения.
тоты и обратно пропорциональны удельному сопротивлению ρ ма- При фазовых переходах 2-го рода изменение симметрии тела
териала. Поэтому в высокочастотных цепях использование ферро- также происходит скачком, но состояние тела изменяется постепен-
магнитных металлов нецелесообразно, вследствие их большой элек- но. Это означает, что межатомные расстояния и углы между плос-
тропроводности. Этого недостатка лишены ферриты, так как их костями в точке перехода практически остаются неизменными. По-
удельное сопротивление в 106 – 1013 раз больше удельного сопротив- скольку состояние тела в точке фазового перехода остается практи-
ления металлов (см. табл. П4). Наибольшее применение ферриты
имеют при работе на высоких частотах и при больших скоростях пе- 3
Помимо переходов порядок–беспорядок в магнитоупорядоченных веществах мо-
ремагничивания. В электрическом отношении ферриты можно отне- гут быть переходы порядок–порядок (например, ферромагне-
сти к классу полупроводников или диэлектриков. тик−антиферромагнетик). Эти переходы могут возникать самопроизвольно при
достижении определенной температуры или под действием внешнего поля при
достижении критического значения. Причем эти переходы могут быть как 1-го,
так и 2-го рода. При достижении определенной температуры и магнитного поля в
некоторых веществах может появиться магнитная тройная точка, в которой
сосуществуют три состояния: антиферромагнитное−метамагнитное (неустой-
чивое ферромагнитное) и парамагнитное.

93 94
© www.phys.nsu.ru
чески неизменным, то переход не сопровождается выделением или
поглощением скрытой теплоты превращения, т. е. нет скачкообраз- J J
ного изменения теплоты перехода, теплового расширения, спонтан-
ной намагниченности и др.; но вторые производные по температуре
изменяются скачком.
Для описания магнитных фазовых переходов, кроме обычных
параметров (температура, давление, магнитное поле), вводится до-
полнительный параметр, называемый параметром упорядочения.
0 Т 0 б Т
При помощи этого параметра учитываются количественно те изме- а
нения термодинамического потенциала вблизи точки фазового пе-
рехода 2-го рода, которые связаны с появлением в веществе упоря- Рис. 11. Зависимость параметра упорядочения от температуры.
доченного расположения атомов разных сортов в сплавах, самопро- а – переход 1-го рода; б – переход 2-го рода.
извольной намагниченности, электрической поляризации и т. д.
Параметр упорядоченности меняется от нуля (абсолютный бес- Если для ферромагнетиков уменьшение спонтанной намагничен-
порядок) до единицы (абсолютный порядок). При охлаждении веще- ности при росте температуры происходит монотонно (рис. 12, а), то
ства ниже некоторой температуры возникает переход вещества из для ферримагнетиков температурная зависимость спонтанной на-
неупорядоченного состояния в частично упорядоченное. При даль- магниченности имеет сложный вид, который может значительно
нейшем понижении температуры наступает полный порядок. При отличаться для разных типов ферримагнетиков (см. рис. 12 б, в).
рассмотрении перехода ферромагнетик-парамагнетик в качестве
параметра упорядоченности выбирается относительная намагни- Ms Ms Ms
m
ченность J = s , где ms – удельная самопроизвольная намаг-
m0
ниченность (на 1 г вещества) при данной температуре, а m0 – ТN
удельная намагниченность при 00 К. Зависимость параметра упоря- 0
дочения от температуры приведена на рис. 11. ө Т
Рассмотрим поведение спонтанной намагниченности M s от
0 Тc Т 0 Т
температуры для различных типов магнитоупорядоченных веществ. а в
б
При абсолютном нуле температуры M s имеет максимальное значе-
ние. С повышением температуры энергия теплового движения раз- Рис. 12. Температурная зависимость спонтанной намагниченности
рушает порядок, поэтому величина спонтанной намагниченности Ms: а – для ферромагнетиков, б, в – для ферримагнетиков
начинает монотонно убывать и при некоторой температуре, назы- Сложный характер кривой намагниченности ферримагнетиков
ваемой температурой Кюри Tc для ферромагнетиков и температу- объясняется тем, что температурные зависимости спонтанной на-
рой Нееля4 TN для антиферромагнетиков, спонтанная намагничен- магниченности различных подрешеток (А, В) могут оказаться не-
ность оказывается равной нулю. одинаковыми. Характерно, что возможны случаи, когда ещё до дос-
тижения истинной точки Кюри спонтанная намагниченность обра-
щается в нуль, при некоторой температуре, называемой точкой маг-
4
точку Кюри для антиферромагнетиков иногда называют точкой Нееля
нитной компенсации θ . Точка компенсации получается при усло-

95 96
© www.phys.nsu.ru
вии, когда намагниченности подрешеток окажутся равны по вели- пературе, а разности температур ( T − Tc ). Согласно уравнению (20),
чине, но противоположны по направлению, поэтому суммарная на- понижение температуры приводит к росту магнитной восприимчи-
магниченность вещества будет равна нулю. При дальнейшем повы- вости и в точке Кюри χ должна быть бесконечной. В действитель-
шении температуры в зависимости от структуры вещества суммар-
ности при температуре Кюри магнитная восприимчивость принима-
ная спонтанная намагниченность может принимать как положи-
ет конечное значение, а для антиферромагнетика это значение явля-
тельные, так и отрицательные значения, но при температуре Нееля
ется максимальным. Дальнейшее понижение температуры приведет
она вновь обратится в нуль.
к незначительному росту восприимчивости для ферромагнетиков, и
Далее рассмотрим некоторые особенности изменения магнит-
к уменьшению – для антиферромагнетиков (рис. 13, в). По наличию
ной восприимчивости χ от температуры для различных видов маг-
излома в температурной зависимости восприимчивости обычно оп-
нетиков. Как отмечалось ранее, зависимость магнитной восприим- ределяют принадлежность вещества к антиферромагнетикам.
чивости парамагнетика от температуры (рис 13, а) описывается за- Поскольку самопроизвольная намагниченность подрешеток фер-
C римагнетика может иметь различную температурную зависимость,
коном Кюри χ = .
T то, соответственно, общая температурная зависимость магнитной
χ восприимчивости неоднозначна, и имеет сложный вид.
χ χ
Закон Кюри для парамагнетика и закон Кюри–Вейсса для ферро-
и антиферромагнетиков можно рассматривать как единый закон
Кюри. Различие только в том, что в ферромагнетике обменное взаи-
модействие стремится все магнитные моменты сделать параллель-
ными, т. е. увеличить восприимчивость, а в антиферромагнетиках
обменное взаимодействие стремится обратить намагниченность в
0 Тc 0 ТN ноль и, следовательно, уменьшить магнитную восприимчивость. Но
Т 0 Т Θ Т
надо иметь в виду, что закон Кюри–Вейсса не применим во всей об-
а б в ласти температур. Для описания магнитных свойств вещества в
Рис. 13. Кривые температурной зависимости магнитной восприимчивости χ ферромагнитном состоянии закон Кюри–Вейсса неприменим, но он
для различных магнитных материалов: достаточно хорошо описывает температурную зависимость маг-
а – парамагнетиков, б – ферромагнетиков, в – антиферромагнетиков нитной восприимчивости ферромагнетика, находящегося в пара-
магнитном состоянии.
Для магнитоупорядоченных веществ зависимость χ (T ) имеет не- Температурные зависимости спонтанной намагниченности M s и
сколько иной вид. С повышением температуры магнитный порядок магнитной восприимчивости χ при фазовых переходах второго ро-
как ферромагнетиков, так и антиферромагнетиков разрушается и да описываются степенными зависимостями:
вещество становится парамагнитным. В области высоких темпера-
M s = A(Tc − T ) β , T < Tc ; (22)
тур (в парамагнитной фазе) при T > Tc для ферромагнетиков и ан-
тиферромагнетиков имеет место закон Кюри – Вейсса 1
= B(T − Tc )γ T > Tc , (23)
C χ ,
χ= . (21)
T − Tc где А и В – константы, β и γ – критические индексы магнитного
Отличительной особенностью закона Кюри–Вейсса является то, перехода.
что магнитная восприимчивость обратно пропорциональна не тем-

97 98
© www.phys.nsu.ru
Из теории фазовых переходов 2-го рода, созданной Л. Д. Ландау
и основанной на разложении в ряд термодинамического потенциала,
5. Приложение.
следовали значения β = 1/2, γ = 1. Однако эксперименты показа-
Таблица П1
ли существенное отличие значений критических индексов от пред-
сказываемых классической теорией. Оказалось, что из-за наличия Молярная магнитная восприимчивость χА некоторых элементов
особенностей в точке фазового перехода разложение термодинами- при комнатной температуре
ческого потенциала в ряд неправомерно.
χА • 106 χА • 106
Диамагнетики Парамагнетики
cм3 / моль cм3 / моль

Неон He −2 Алюминий Al 16
Кремний Si −4 Калий K 22
Медь Cu −6 Титан Ti 150
Германий Ge −9 Платина Pt 156
Индий In − 13 Вольфрам W 41
Ксенон Xe − 42 Марганец Mn 490
Ртуть Hg − 34 Цирконий Zr 120
Висмут Bi − 280 Кислород O 1 700

Таблица П2
Магнитные свойства магнитотвердых материалов [7. стр. 178]

Марка сплава Hc, кА/м Br, Т W, кДж/м3

Fe-Ni-Al-Cu-Co 40 1,25 18
(ЮН13ДК24)

Металлокерамика 40 0,55 4,5

Микропорошки:

Сплав Mn-Bi 294 0,48 21,6

Бариевый феррит 230 0,4 15

Железо 90 0,9 14

99 100
© www.phys.nsu.ru

Таблица П3
Некоторые характеристики магнитомягких материалов
[7. стр. 99]
Таблица П4
Материал µнач, µмакс, Нс,,А/м Вs в ρ, Параметры ферритов общего применения [7. стр. 140]
поле Hs Ом·м
Параметры петли
Технически чис- 250 3500 – 4500 400 - 100 2,18 Т 10-7 Марка ма-
µнач, µмакс, fгр , ρ, гистерезиса при
тое железо 5 104 А/м териала Н = 800 А/м
МГц Ом·м
Электротехниче- 200 – 3000 – 8000 10 – 65 1,89 Т (6 – 2,5) 10-7 В, Т Вr, T Нс, А/м
ская сталь 600 3 104 А/м
20000НМ 20 000 35 000 0,1 0,001 0,35 0,11 0,24
Пермаллои:
низконикелевые (2–4)· (1,5 – 6)·104 3000НМ 3000 3 500 0,2 0,5 0,35 0,15 12
5 – 32 1,3 – 1,6 (4,5–9)10-7
(50% Ni) 2000НМ1 2100 3 500 1,5 5 0,36 0,12 25
103
высоконикеле- 1000НМ 1000 1 800 1 0,5 0,35 0,11 28
(1,5–10) (7 – 30) 104 0,65 – 4 0,7 – 0,75 (1,6–8,5)·10-7
вые (79 % Ni)
·104
Ферриты: 1000НН 1000 3 000 3 10 0,29 0,1 24
никельцинковые 10 – 40 – 7 000 1700 – 8 0,2 –0,35 108–10 400НН 400 600 12 100 0,26 0,13 56
*
2000
марганеццинковые 700 – 1 800 – 35000 28 –0,25 0,15 – 0,46 20–10-3 100ВЧ 100 280 80 105 0,35 0,15 300
*
20000 7ВЧ 7 15 600 107 0,13 0,13 2200
*при f = 100 кГц.
Примечание. Приведенные значения удельного сопротивления ρ
измерены при постоянном токе.

101 102
© www.phys.nsu.ru
Обозначение марок ферритов состоит из трех индексов: Таблица П5
1) числа, означающего номинальную величину основного па- Параметры ферритов с прямоугольной петлей гистерезиса
раметра марки (начальной магнитной проницаемости, коэр- (ППГ) [7. стр. 206]
цитивного поля и пр.);
2) букв, означающих принадлежность марки к той или иной Марка мате-
группе (магнитомягких, магнитотвердых, и других материа- Состав риала Нс, А/м Вr , T ρ, Ом·м
лов) и основной области применения (для слабых или силь-
2,1ВТ 167 0,18 5 104
ных полей и т.п.);
3) чисел 1, 2, или 3, означающих различие марок по свойствам. Mg-Mn 1,5ВТ 119 0,22 5 102
Обозначения по первым двум индексам: 1,3ВТ 103 0,23 5 102

Значение основного Назначение марки 0,9ВТ 72 0,25 2,1


параметра марки 0,7ВТ 56 0,23 2,3
НМ – магнитомягкие, низкочастотные Mg-Mn-Zn-Ca 0,3ВТ 25 0,21 2,8
Начальная магнитная
(марганец-цинковые), для слабых полей 0,12ВТ 10 0,20 2,5
проницаемость
НН – магнитомягкие, низкочастотные Li-Mg-Mn 3ВТ 240 0,23 1,9
(никель-цинковые), для слабых полей
ВЧ– магнитомягкие, высокочастотные Li-Na 100П 144 – 0,24 1,8
(никель-цинковые, литий-цинковые), для 1200
слабых полей
Mg-Mn-Ca 300П 120 – 56 0,24 1,7
НМИ – магнитомягкие, низкочастотные
Импульсная магнит-
(марганец-цинковые), импульсные
ная проницаемость Примечание. Для всех ферритов, кроме ферритов на основе Li-
ННИ – магнитомягкие, низкочастотные Na, цифры в обозначениях марок соответствуют номинальному зна-
(никель-цинковые), импульсные чению Hc в эрстедах; буквы ВТ (вычислительная техника) указыва-
ВЧИ – магнитомягкие, высокочастотные ют на прямоугольность петли гистерезиса.
(никель-цинковые, литий-цинковые),
импульсные

Среднее значение СЧ – сверхвысокочастотные


длины волны

Коэрцитивное поле, Э ВТ – с прямоугольной петлей

103 104
© www.phys.nsu.ru

Работа 4.4 по ней ток, r – средний радиус тороида. Величину тока I1 можно
определить по падению напряжения на сопротивлении R1 :
Изучение свойств магнитоупорядоченных
U
веществ I1 = 1 .
R1
Цель работы – изучение процессов намагничивания и перемаг- Измерив индуктивное напряжение в другой катушке, можно оп-
ничивания ферромагнетиков и ферритов, определение основных ределить поле B внутри образца. Найдем связь наведенной во вто-
характеристик этих материалов (коэрцитивного поля, остаточной рой катушке ЭДС ε с магнитным полем В. Согласно закону ин-
намагниченности, магнитной проницаемости, потери на перемагни-
⎛ dΦ ⎞
чивание) и их сравнение. дукции Фарадея, наведенная в катушке ЭДС ε = − N 2 ⎜ ⎟ , про-
⎝ dt ⎠
Оборудование: исследуемые образцы, трансформатор, лабора- порциональна производной по времени магнитного потока Ф , ко-
торный автотрансформатор (ЛАТР), соленоид, реостат, магазин со-
торый связан с магнитным полем B соотношением Ф = ВS , (S –
противлений, магазин ёмкостей, переходной модуль, персональный
площадь витка), т. е.
компьютер, генератор низких частот, осциллограф, макетная плата с
ферритами. ⎛ dB ⎞
ε = − N2S ⎜ ⎟, (24)
⎝ dt ⎠
1. Экспериментальная установка и методика измерений
здесь N2 – число витков вторичной катушки. Для перехода к вели-
Для проведения эксперимента по определению свойств магнито- чине В необходимо уравнение (24) проинтегрировать, для чего в
упорядоченных веществ необходимо иметь образец в виде тора с эксперименте используется RC цепь (см. рис. 1).
намотанными на него двумя катушками (рис.1). Через одну катушку Уравнение Кирхгофа для такой цепи имеет вид:
пропускается ток I, который создает намагничивающее поле H, оп- 1
T
dI
C ∫0
ределяемое уравнением ε = I 2 R2 + I 2 dt + L2 2 ≡ I 2 R2 + U c + U L . (25)
dt

vC∫ Hdl = I (СИ), vC∫ Hdl = c I СГС). ( I 2 - ток во вторичной цепи). Если параметры R2 и C подобрать
Примечание. В данной работе далее все формулы будут приведены в так, чтобы выполнялось условие U C << ε и U L << ε , то падение
системе СИ. напряжения на сопротивлении R2 будет равно U R ≈ ε (t ) , и, соответ-
В образце тороидальной формы, с радиусом поперечного сече- ственно, ток
ния существенно меньшим радиуса тора (в замкнутой магнитной
ε (t )
цепи) и с намагничивающей катушкой намотанной равномерно по I2 = . (26)
всей длине, создается доста- R2
R2
точно однородное магнитное При этих условиях, напряжение на конденсаторе с точностью до
N1 числового множителя равно интегралу от входного напряжения.
С поле, равное, H= I1 , T
2π r 1
U C = ∫ I 2 dt =
1
ε ( t ) dt .
R2C ∫0
(27)
R1 где N1 – суммарное число C
витков намагничивающей Подставив в полученное выражение уравнение (21), получим
Рис. 1. Схема для изучения
свойств магнетиков катушки, I1 – протекающий

105 106
© www.phys.nsu.ru
N2 S N S ский расчет коэффициента размагничивания очень сложен и может
UC = − B=− 2 B , (28) быть выполнен только для однородно намагниченного эллипсоида
R2 C τ
вращения.
( τ = R2 C называется постоянной времени интегрирующей цепоч- Сравнивая кривые намагничивания тел различных форм и разме-
ки). ров, можно сделать вывод, что чем короче и толще образец, тем бо-
Мы рассмотрели случай, в котором катушки намотаны непосред- лее пологий вид имеет кривая намагничивания. Отсюда следует, что
ственно на образец, т. е. диаметры образца и катушек примерно при больших воздушных зазорах ход кривой намагничивания опре-
одинаковы. При проведении эксперимента по определению магнит- деляется не только магнитными свойствами материала, но и конст-
ных свойств веществ достаточно часто используются образцы ци- рукцией цепи. Магнитная проницаемость тела всегда меньше маг-
линдрической формы, для намагничивания которых применяются нитной проницаемости вещества и меньше зависит от намагничи-
соленоиды (рис. 2). Магнитное поле длинного соленоида, у которого вающего поля, а так же от изменений, вызванных внешними причи-
длина l много больше диаметра d, определяется по формуле: нами (температурой, механическими напряжениями и т. д.).
H = N1 I1 l . (29)
В этом варианте возникают следующие проблемы. 2. Регистрация петли гистерезиса
• Во-первых, применимость формулы (29), т. е. можно Регистрация петли гистерезиса ферромагнетика производится на
ли используемый нами соленоид считать длинным? установке, схема которой приведена на рис.2:
• Во-вторых, диаметры витков соленоида и образца
могут значительно отличаться и, соответственно, какое из них надо
учитывать при расчете? Ответы на эти вопросы найдите самостоя-
тельно.
• Кроме того, в образцах с разомкнутой магнитной це-
пью имеется воздушный зазор, который, как правило, обладает
большим магнитным сопротивлением по сравнению с остальной
частью цепи. Наличие зазора может существенно изменить ход кри-
вой намагничивания, значение магнитной восприимчивости и дру-
гие свойства.
В теле с воздушным зазором при его намагничивании возникают
магнитные полюсы, которые создают размагничивающее поле H 0 ,
направленное противоположно внешнему полю H , и поэтому ос-
лабляет его. Истинное поле H i внутри образца равно: H i = H − H 0 .
В области не слишком сильных полей, когда намагничивание од- Рис. 2. Схема установки для наблюдения петли гистерезиса:
нородно по всему образцу, размагничивающее поле можно считать Тр – трансформатор; ЛАТР – лабораторный автотрансформатор; L1 –
пропорциональным намагниченности M с коэффициентом пропор-
циональности N , называемым коэффициентом размагничивания намагничивающая катушка; L2 – измерительная катушка; O – исследуе-
(размагничивающим фактором) H 0 = NM . мый образец; R1 – измерительное сопротивление; R2 и C – сопротивле-
Коэффициент размагничивания зависит от формы образца: воз- ние и конденсатор интегрирующей цепочки; ПМ – переходной модуль вир-
растает с уменьшением длины и увеличением толщины. Теоретиче- туального осциллографа, ПК – персональный компьютер.

107 108
© www.phys.nsu.ru
Исследуемый образец O помещается в длинную катушку L1 симальный получаемый ток не должен превышать предельного тока
для автотрансформатора.
(соленоид) через которую протекает ток I1 . Величина поля H , воз-
2. Регистрация петли гистерезиса ферромагнетика осуществляет-
буждаемого этим током, равна H = N1 I1 l (l – длина соленоида).
ся виртуальным осциллографом персонального компьютера, кото-
Если последовательно с первичной обмоткой включить известное рый позволяет записывать получаемые данные в файл для дальней-
сопротивление R1 , то напряжение, снимаемое с этого сопротивле- шей обработки. Наблюдаемые сигналы подключаются к переходно-
ния, будет пропорционально полю H му модулю. Подробно о работе с виртуальным осциллографом
Rl можно познакомиться в приложении.
U X = I1 R1 = 1 H . (30)
N1 3. Для изучения свойств ферритов используются аналогичные
Если это напряжение подать на X вход осциллографа (регистра- установки, смонтированные на макетных платах. Каждый макет со-
тора), то отклонение луча по горизонтали будет пропорционально держит катушки L1 и L2 , намотанные непосредственно на феррито-
полю H .
вые кольца, и сопротивления R1 , R2 . Магазин емкостей C под-
В средней части соленоида намотана короткая измерительная ка-
тушка L2 с числом витков N 2 , к которой подключена интегрирую- ключается к соответствующим клеммам макета. В качестве источ-
ника используется генератор синусоидального сигнала. Регистрация
щая R2 C цепочка. Из соотношения (28) следует: петли гистерезиса производится осциллографом, петля гистерезиса
R C
B = − 2 Uc. (31) и основная кривая намагничивания с экрана зарисовываются на
N 2S кальку.
Если напряжение U c подать на вход Y осциллографа (регистра- Данные катушек, размеры образцов, и величины сопротивлений
указаны на макетных платах.
тора), то на экране осциллографа (монитора) получится зависимость Все вычисления рекомендуется выполнять в системе СИ, затем
B( H ) . сделайте перевод в СГС.
Питание установки, предназначенной для изучения свойств фер- В системе СИ величина B измеряется в теслах (Тл): 1 Тл =104
ромагнетиков, осуществляется переменным напряжением с часто- Гс, поле H не имеет самостоятельного названия и измеряется в ам-
той 50 Гц, что позволяет получить на экране осциллографа полную
перах на метр (А/м); 1 А/м = 4π10-3 Гс. Константа µ0 , называемая
петлю гистерезиса.
−7
Плавное изменение амплитуды тока, а, следовательно, и поля H , магнитной постоянной, равна µ0 = 4π 10 Тл·м/А,
от 0 до H max , соответствующего насыщению образца, позволяют по
Контрольные вопросы (допуск к эксперименту)
координатам вершины петли получить основную зависимость
B( H ) и построить график функции дифференциальной магнитной 1. Назовите основные свойства магнитоупорядоченных веществ
и методы их определения.
проницаемости от магнитного поля H :
2. Чем определяется форма петли гистерезиса и потери на пере-
µ ( H ) = (1 µ0 ) ⋅ dB dH . (32) магничивание?
3 Какова роль трансформатора в схеме рис. 2?
Примечания. 1. Сопротивление R1 ограничивает ток в соленои- 4 Почему вторичная катушка имеет малую длину и как оценить
де, поэтому не следует его делать слишком большим. Однако мак- влияние взаимной индуктивности катушек L1 и L2 на резуль-
таты эксперимента?

109 110
© www.phys.nsu.ru
3. Задания максимальных напряжений каналов. Обычно ±5 В X
Задание 1. Получение петли гистерезиса предельного канала и ±0,2 В для Y канала. В окне Scale введите мно-
цикла перемагничивания, определение коэрцитивного житель 10 для X канала (для учета встроенного делите-
поля H c , остаточного магнитного поля Br , потери энер- ля) и 1 для Y канала.
• Установите скорость считывания точек осциллограмм (Sam-
гии на перемагничивание образца Q , и средней за период ple Rate) и число точек на одной осциллограмме (Samples
мощности потерь W . per Channel). Число точек для периодического сигнала
1. Соберите схему представленную на рис. 2. Выберите набор целесообразно задать соответствующим одному периоду.
стержней из одного материала, но разной длины. Поместите Для частоты 50 Гц рекомендуется установить скорость
в соленоид исследуемый образец, длина которого равна дли- считывания 10000 с-1 и количество точек на осцилло-
не соленоида. Установите величины R2 и C 5 согласно ус- грамме равным 200.
ловию выполнения интегрирования. Особое внимание уде- 4. Запустите виртуальный осциллограф и, регулируя ток через
лите правильности подключения сигналов к входам пере- соленоид увеличением напряжения на ЛАТРе, получите на
ходного модуля. Сигналы амплитудой выше 42 В, слу- экране осциллографа петлю гистерезиса с участком насыще-
чайно поданные на вход без делителя, приведут к повре- ния. Остановите осциллограф ContXY.vi кнопкой Stop на
ждению платы NI 6010 в компьютере! лицевой панели.
2. Откройте в программе LabView файл виртуального осцилло- 5. Откройте файл виртуального осциллографа SingleXY.vi, ус-
графа ContXY.vi (циклический режим). На экране монитора тановите такие же параметры, как и для осциллографа
появится лицевая панель виртуального осциллографа. Перед ContXY.vi, и запустите его. На экране осциллографа появит-
запуском необходимо проверить и отредактировать его па- ся петля гистерезиса. Сохраните изображение экрана в файл
раметры. Редактирование элементов виртуального прибора в формате .bmp, используя контекстное меню: Data Opera-
осуществляется с помощью курсора мыши, который может tions Ö Export Simplified Image. С помощью курсора опре-
принимать различный вид. Для переключения используется делите значения напряжения, соответствующие коэрцитив-
паллета Tools, которую необходимо вывести на экран. Под- ному полю H c и остаточному магнитному полю Br .
робно о работе с виртуальными осциллографами необходи- 6. На лицевой панели «поднимите» включатель XYfile и запус-
мо прочитать в приложении “Виртуальный осциллограф в тите осциллограф. В появившемся диалоговом окне задайте
программе LabView “. имя файла (с учетом пути в вашу директорию). Данные то-
3. Внесите необходимые изменения в параметры работы вир- чек петли гистерезиса будут записаны в указанный файл в
туального осциллографа (если они не видны на экране, вос- текстовом формате. «Опустите» включатель XYfile. По
пользуйтесь полосами прокрутки): формулам (7) и (8) рассчитайте коэффициенты преобразова-
• Установите режим и значения физических каналов, ния величины напряжения по оси Y в магнитное поле B , а
обычно это differential, Dev1/a0 для X канала и напряжения по оси X в поле H . Используя полученные ко-
Dev1/a1 для Y канала. эффициенты и данные постройте в Excel (или другой про-
• Установите необходимые значения для минимальных и

5
Для уменьшения влияния собственных помех платы NI 6010 рекомендуется выбрать ёмкость
C ≥ 50 мкФ

111 112
© www.phys.nsu.ru
грамме) петлю гистерезиса в виде B ( H ) 6, рассчитайте зна- Задание 3. Повторите эксперимент для стержней, длина
чения коэрцитивного поля H c и остаточного магнитное по- которых меньше длины соленоида (два образца).

ля Br . При импорте файла в Excel (Данные Ö импорт Нанесите предельные петли гистерезиса и основные кривые на-
магничивания для всех трёх образцов на один рисунок. Сравните
внешних данных Ö импортировать данные) в качестве полученные осциллограммы и объясните их различие.
разделителя установите знак табуляции.
7. Определите площадь петли гистерезиса и рассчитайте поте- Задание 4. Запишите петлю гистерезиса предельного
ри энергии на перемагничивание для единицы объёма Q за цикла перемагничивания, основную кривую намагничи-
цикл (см. формулу 12). Определите объем образца и рассчи- вания и постройте график зависимости µ ( H ) для ферри-
тайте среднюю мощность потерь W . Оцените погрешность тов.
полученных значений.
Используя макетные платы с ферритовыми кольцами, генератор
переменного тока и осциллограф, проведите эксперимент для этих
Задание 2. Построение основной кривой намагничивания
материалов.
и зависимости µ ( H ) .
4. Содержание отчёта
Основная кривая намагничивания является геометрическим ме- Отчёт должен содержать следующие данные:
стом точек вершин циклов, полученных при различных амплитудах • расчетные формулы;
переменного поля. Для получения координат этих точек в осцилло- • схему измерительной установки, значения установ-
графе SingleXY.vi предусмотрен включатель XYend. Создайте пус- ленных сопротивлений и ёмкости;
той текстовый файл и укажите его в окне Path. «Поднимите» вклю- • зафиксированные предельные гистерезисные петли и
чатель XYend. Далее каждый запуск осциллографа будет добавлять основные кривые намагничивания для всех исследуемых образ-
в файл новую пару значений X Y . Ток через соленоид следует по- цов;
степенно увеличивать с помощью ЛАТРа от нулевого до значения
• графики зависимости µ (H ) , значения остаточного
соответствующего насыщению. Интервал поворота рукоятки ЛАТРа
следует подобрать заранее. Количество точек должно быть доста- поля Br , коэрцитивного поля H c , потерь на перемагничивание
точным для подробного отображения кривой (не менее 20), особое Q за период и среднюю мощность потерь W .
внимание следует уделить точкам вблизи нуля. Постройте основную
кривую намагничивания в виде B( H ) . Далее проведите сглажива-
ние экспериментальных точек и получите зависимость дифференци-
альной магнитной проницаемости µ (H ) по формуле (32).

6
Получить петлю гистерезиса в виде B( H ) можно непосредственно на экране виртуального
осциллографа, если внести рассчитанные коэффициенты в окна Scale (с учётом встроенного
делителя).

113 114
© www.phys.nsu.ru
ной намагниченности и при достижении температуры Кюри Tc , Ms
Работа 4.5 должна обратиться в нуль.
Из классической теории фазовых переходов[1, глава 16, 3, глава
Изучение магнитной восприимчивости гадо- 3] следует, что в области температур выше точки Кюри ферромаг-
линия вблизи точки Кюри нетики должны подчиняться закону Кюри – Вейсса
C
Цель работы: Понять суть метода дифференциального транс- χ=
форматора, получить температурную зависимость магнитной вос- T − Tc . (33)
приимчивости, определить температуру Кюри и критический ин- Эта зависимость несколько напоминает закон Кюри для парамагне-
декс магнитной восприимчивости. C
тиков χ = , но магнитная восприимчивость χ в формуле (33) об-
T
1. Краткая теория ратно пропорциональна не абсолютной температуре T , а разности
Точка Кюри – это температура, при которой изменяется фазовое температур (T − Tc ) .
состояние вещества. В данной работе изучается фазовый переход из Опыт показал, что в области высоких температур, при T > Tc (в
ферромагнитного состояния – в парамагнитное на примере измене- парамагнитной области), линейная зависимость обратной воспри-
ния магнитной восприимчивости χ от температуры. На рис. 1
имчивости 1 от температуры T достаточно хорошо выполняется
приведен теоретический вид зависимости спонтанной намагничен- χ
ности Ms ниже точки Кюри и магнитной восприимчивости χ выше (см. рис. 2). Но в непосредственной близости к точке Кюри, при
приближении к ней со стороны высоких температур, имеется значи-
тельное отклонение от линейной зависимости (вблизи точки Кюри
Мs χ имеется изгиб). Оказалось, что переход из ферромагнитного состоя-
1/χ
ния – в парамагнитное происходит не сразу, а постепенно. Вещество
находится в промежуточном состоянии между ферромагнетным и
парамагнетным в некотором интервале температур выше точки
Кюри (так называемой переходной области). Для чистых ферромаг-
нитных материалов этот интервал температур небольшой, для спла-
вов же он значительно шире.
0 Тк Т Вероятная схема, объясняющая это явление состоит в том, что
вблизи точки Кюри при T ≥ Tc ещё существуют «группы» парал-
Рис. 1. Температурная зависимость спонтанной лельных спинов (аналог капелек жидкости в паре), которые и при-
намагниченности М s, магнитной восприимчивости χ
и обратной восприимчивости 1/χ для ферромагнетика
водят к бóльшему значению магнитной восприимчивости. Из-за на-
по теории молекуляриого поля личия теплового движения «группы» спинов очень подвижны, т. е. в
одних местах они исчезают – в других появляются. При температу-
точки Кюри. При абсолютном нуле температуры спонтанная намаг- рах выше точки Кюри время жизни ориентированных спинов очень
ниченность ферромагнетика Ms имеет максимальное значение. При мало. Предполагаемые причины существования «групп» спинов:
повышении температуры возрастает дезориентирующая роль тепло- • флуктуации концентрации примесей по объему образца;
вого движения, что приводит к монотонному уменьшению спонтан-

115 116
© www.phys.nsu.ru
• неоднородные механические деформации, приводящие к ис- Таблица 1
кажениям решетки. Критические значения показателей степени в законе Кюри-
Для определения границ переходной области, помимо ферромаг- Вейсса для некоторых ферромагнетиков [1.стр.546]
нитной точки Кюри Tcф , вводится парамагнитная точка Кюри Tcп ,
Вещество γ β Тк
которая устанавливает верхнюю границу переходной области.
Парамагнитная точка Кюри определяется экстраполяцией линейно- Fe 1,33 0,34 1 043
го участка кривой 1 = f (T ) до пересечения с осью температуры Co 1,21 − 1 388
χ
Ni 1,35 0,42 627,2
(рис.2). Gd 1,3 − 292,5
CrO2 1,63 − 386,5
1/ χ CrBr3 1,215 0,368 32,56
EuS − 0,33 16,50

В соответствии с выражением (35) магнитная восприимчивость в


точке Кюри должна быть бесконечной. В действительности для ре-
альных образцов она принимает конечное значение χ0, поэтому ве-
личину γ определяют из соотношения
1 1
Tcп , Т − = B(T − Tc )γ . (36)
χ χ0
Рис. 2. Зависимость обратной магнитной Для определения величины критического индекса магнитной
восприимчивости от температуры восприимчивости γ необходимо:
• получить экспериментальную зависимость магнитной
Температурные зависимости спонтанной намагниченности Ms и восприимчивости от температуры (см. рис.4), после обра-
магнитной восприимчивости χ описываются следующими выраже- ботки которой найти температуру Кюри Tс и соответст-
ниями: вующее значение χ0;
M s = A(Tc − T ) β , T < Tc ; (34) • зная значения Tc , и χ0, построить график зависимости

1 lg ⎛⎜ 1 − 1 ⎞⎟ от lg (T − Tc ) и по угловому коэффициен-
= B(T − Tc )γ , T > Tc , (35) ⎝ χ χ0 ⎠
χ
ту прямой определить значение γ.
где А и В – константы, β и γ – критические индексы магнитного
перехода, которые в парамагнитной области равны: β = 1/ 2, γ = 1. 2. Эксперимент
Вблизи точки Кюри Tc значения критических индексов существен- Оборудование. Генератор низкой частоты, селективный уси-
но отличаются от теоретических (см. табл.1). литель, катушка взаимной индуктивности, магазин взаимной индук-
тивности, пробирка с исследуемым веществом, термопара, нагрева-

117 118
© www.phys.nsu.ru
тель, источник питания нагревателя, блок регистрации, персональ- 6
ный компьютер. 2
T
Блок регистрации состоит из аналого-цифрового преобразо-
вателя (АЦП), с двумя измерительными каналами, один из которых 1
4 5 U 7 8
предназначен для измерения температуры с помощью термопары, AC

другой – для измерения напряжения. Блок регистрации имеет циф-


ровую связь по последовательному каналу с персональным компью- 3
тером.

2.1. Описание установки


Рис. 3. Схема установки для измерения зависимости магнитной
В данной работе изучается температурная зависимость маг- восприимчивости от температуры:
нитной восприимчивости гадолиния. Выбор материала определился 1 – генератор низкой частоты; 2 – катушка взаимной индуктивности;
тем, что его точка Кюри расположена в области комнатных темпе- 3 – магазин взаимной индуктивности; 4 – пробирка с образцом;
ратур. Вблизи точки Кюри намагниченность и соответствующая ей 5 – селективный усилитель; 6 – термопара; 7 – блок регистрации;
магнитная восприимчивость малы по величине, поэтому для прове- 8 – персональный компьютер
дения эксперимента необходимо использовать достаточно точный
метод измерения. Очень высокие требования предъявляются к па- Если исследуемый образец (4) поместить внутрь катушки, то
раметрам нагревательной системы и стабилизации температуры. ЭДС во вторичной обмотке увеличится, и на выходе дифференци-
Это объясняется тем, что в области точки Кюри, где спонтанная на- ального трансформатора появится напряжение, величина которого
магниченность исчезает, малейший градиент температуры по объ- пропорциональна магнитной восприимчивости образца. Это напря-
ему (длине) образца может привести к искажению результатов жение поступает на вход селективного усилителя (5) и измеряется
измерения, вследствие того, что отдельные части образца могут на- встроенным в усилитель вольтметром. Селективный (избиратель-
ходиться и в ферромагнитном и в парамагнитном состояниях. По- ный) усилитель имеет высокий коэффициент усиления только в том
этому для установления теплового режима образца требуется значи- случае, если он достаточно точно настроен на частоту генератора,
тельное время. что необходимо учитывать при подготовке установки к работе7.
Для измерения магнитной восприимчивости используется метод В катушке находится нагреватель, подключенный к источнику
дифференциального трансформатора, схема установки которого постоянного тока (на схеме не показан). Температура измеряется
приведена на рис. 3. Ток от генератора низкой частоты (1) поступает хромель-алюмелевой термопарой (6), помещенной в пробирку с ис-
в последовательно соединенные первичные обмотки катушки вза- следуемым веществом. Регистрация температурной зависимости
имной индуктивности (2) и магазина взаимной индуктивности (3). магнитной восприимчивости производится блоком регистрации (7)
Вторичные обмотки катушки и магазина индуктивности включены и отображается на экране монитора ПК (8).
встречно, поэтому возникающие в них ЭДС вычитаются. При опти-
мальной настройке катушек индуктивности (при равенстве коэффи-
7
циентов взаимной индуктивности) без образца выходное напряже- Селективный (избирательный) усилитель предназначен для усиления сигналов в
узкой полосе частот. Его коэффициент усиления К(f) имеет частотную характе-
ние дифференциального трансформатора должно быть равно нулю.
ристику, подобную характеристике резонансного контура. Резонансная частота
усилителя может перестраиваться. Использование селективного усилителя по-
зволяет ослабить все шумы и наводки, частота которых не совпадает с селек-
тивной.

119 120
© www.phys.nsu.ru
Контрольные вопросы (допуск к эксперименту) от напряжения с образцом). Если в процессе настройки образец зна-
1. Объясните необходимость использования метода дифференци- чительно нагрелся, то охладите его до температуры ~ 10 °С.
ального трансформатора. Примечание. Перед помещением пробирки в катушку необходи-
2. Поясните суть встречного включения катушек. мо удалить воду со стенок пробирки.
3. Что такое селективный усилитель?
4. Докажите, что напряжение, поступающее на вход усилителя, Запуск программы и запись экспериментальных данных
пропорционально магнитной восприимчивости. 1. Включите компьютер. Проведите отмену пароля. Найдите на
5. Нарисуйте ожидаемый вид зависимости. рабочем столе пиктограмму (иконку) с подписью "Temp_Vol", и
6. Почему скорость нагрева образца должна быть малой? двойным нажатием левой клавиши мыши раскройте программу из-
мерения зависимости напряжения от температуры. Кнопкой с изо-
2.2. Методика проведения эксперимента
бражением "⇒" запустите программу.
Настройка установки 2. Поместите пробирку с охлажденным образцом внутрь катушки
Соберите схему, показанную на рис. 3. Включите приборы, уста- и запишите зависимость магнитной восприимчивости (в относи-
новите на генераторе частоту ~ 60 Гц и подайте ток в намагничи- тельных единицах) от температуры. Нагрев образца до комнатной
вающую катушку. Выставьте на магазине взаимной индуктивности температуры должен происходить естественным образом! После
значение ~ 10 мГн. Настройте избирательный усилитель на частоту установления комнатной температуры включите источник питания
работы генератора. Для этого ручками регулировки частоты ∇ – нагревателя, установите на источнике величину тока, равную 300
«грубо» и ∇∇ – «плавно» добейтесь максимального показания мА, напряжение − 1,5 В и продолжите измерения до температуры ~
встроенного в усилитель вольтметра. Затем магазином взаимной 35 °С. Скорость нагрева образца не должна превышать 1 град / мин,
индуктивности скомпенсируйте ЭДС катушки. Если нескомпенси- что соответствует начальному току через нагреватель ~ 0,3 А. При
рованность напряжения составляет ~(2 – 5) % от шкалы вольтметра, достижении температуры ~ 25 °С величину тока можно увеличить
то установка готова к проведению эксперимента. до 0,4 А, затем до 0,5 А.
Примечание. По окончании настройки установки, во избежание 3. По окончании эксперимента нажмите кнопку STOP&Write и
нарушения компенсации (появления ЭДС индукции во вторичной це- сохраните файл под своим именем с расширением .dat, который
пи) в процессе измерений, не рекомендуется изменять положение не можно найти в директории: С:/LabWork/<имя>.dat.
только магазина взаимной индукции и катушек индуктивности, но Примечание. В области температуры Кюри, где спонтанная
и соединительных проводов. намагниченность исчезает, малейший градиент температуры по
Поместив пробирку с образцом в сосуд, заполненный смесью во- образцу может привести к искажению характера температурной
ды со льдом, охладите её до максимально низкой температуры (тем- зависимости магнитной восприимчивости. Поэтому при проведе-
пературу рекомендуется проконтролировать термометром). Вставь- нии эксперимента требуется медленный нагрев образца.
те пробирку внутрь катушки, и регулировкой тока в первичных об-
мотках и коэффициента усиления избирательного усилителя добей- 2.3. Обработка экспериментальных данных
тесь максимального значения выходного напряжения, измеряемого Обработку экспериментальных данных можно провести средст-
встроенным вольтметром. При удалении пробирки с образцом из вами Excel, Mathcad, Matlab.
катушки остаточное напряжение должно быть малым (не более 5 % 1. Используя экспериментальные данные, постройте график за-
висимости магнитной восприимчивости χ от температуры T во

121 122
© www.phys.nsu.ru
всём диапазоне температур (рис. 4). Проведите касательные к фер- ратурной области (при T > Tc ) до пересечения с осью температур
ромагнитной, переходной и парамагнитной областям и определите:
определит значение парамагнитной точки Кюри Tcп (см. рис.2).
:
Сравните значение Tcп с полученным в п.1.
χ Тсф 4. Постройте графики зависимости lg( 1 − 1
χ χ 0 ) от lg(T − Tc ) :
• во всем диапазоне температур выше температуры Кюри,
χ0 Тс • вблизи точки Кюри (в переходной области).
Используя метод наименьших квадратов, проведите прямые и по
Тсп угловому коэффициенту определите критический индекс магнитной
восприимчивости γ . Объясните разницу. Сравните полученный ре-
зультат с табличным значением.
∆Т Т 5. Зная температуру перехода Tc , оцените величину энергии об-
менного взаимодействия.
Рис. 4. Определение температуры фазового перехода
2.4. Содержание отчета
• низкотемпературную точку Tcф , соответствующую фер- Отчет должен содержать следующие измеренные данные, ре-
ромагнитному состоянию, зультаты их обработки и анализа:
• высокотемпературную точку Tcп , соответствующую па- – расчетные формулы;
– схему измерительной установки;
рамагнитному состоянию, – график температурной зависимости магнитной восприимчиво-
• интервал температур ∆Т, соответствующий переходной сти;
области, – график зависимости величины обратной магнитной восприим-
• температуру фазового перехода Tc , и соответствующее чивости от температуры;
– график зависимости первой и второй производной магнитной
значение χ 0 . Полагаем, что эти значения соответствуют
восприимчивости от температуры;
середине участка касательной с максимальным накло- – значение температуры Кюри Tc ;
ном.
– значение энергии обменного взаимодействия;
2. Более точно температуру Кюри можно определить по графи-
кам первой и второй производной восприимчивости от температу- – график зависимости lg( 1 − 1 ) = f (lg(T − T )) во всем диа-
χ χ0 c
ры. Перед вычислением производных выполните сглаживание по-
пазоне температур выше точки Кюри;
лученной экспериментальной зависимости. (О методах сглаживания
см. Выпуск 1). – график зависимости lg( 1 − 1 ) = f (lg(T − Tc )) в переходной
χ χ0
3. Постройте график зависимости 1 = f (T ) во всей области области;
χ
– значение критического индекса γ с указанием погрешности и
температур, по которому оцените парамагнитную точку Кюри. Ли-
нейная аппроксимация экспериментальных данных в высокотемпе- сравнение с табличными данными.

123 124
© www.phys.nsu.ru
Библиографический список
1. Ч. Киттель. Введение в физику твердого тела. М.: Наука, 1978. Приложение. Виртуальный осциллограф в
2. К. П. Белов. Магнитные превращения. М.: ФМ, 1959. программе LabView
3. В. А. Боков. Физика магнетиков. Санкт-Петербург, 2002.
Использование аналого-цифровых преобразователей (АЦП) мно-
4. А. А. Преображенский. Магнитные материалы и элементы. М.. гофункциональной платы сбора данных National Instrumens NI 6010
Высшая школа, 1976. позволяет регистрировать осциллограммы сигналов на экранах вир-
5. И. Н. Мешков, Б. В. Чириков. Электромагнитное поле. Ч. 1. Но- туального осциллографа в YT и XY режимах средствами программ-
восибирск: Наука, 1987. ного комплекса LabView /1/.
6. Э. Парселл. Электричество и магнетизм. М.: Наука, 1983. Наблюдаемые сигналы подключаются к X и Y входам переходного
(Берклеевский курс физики, Т. 2). модуля, содержащего соединительный блок NI CB-37F-LP. Специ-
альным многожильным кабелем (SH37F-37M) блок соединён непо-
7. Фишер М. Природа критического состояния. М.: Мир, 1968
средственно с платой NI 6010, установленной в слот расширения
8. Князев Б. А., Черкасский В. С. Начала обработки эксперимен- компьютера типа PCI. Максимальный диапазон принимаемых сиг-
тальных данных. Новосибирск: НГУ, 2005. налов ± 5В, поэтому для сигналов большей амплитуды используют-
9. Методы физических измерений. Ред. Р.И. Солоухин. Новоси- ся делители, которые уменьшают сигналы до регистрируемого диа-
бирск: Наука, 1975. пазона. Сигналы амплитудой выше 42 В приводят к выходу платы
10. Д. В. Сивухин. Общий курс физики. Электричество. Т.3, часть 1. из строя.
М.Наука, 1996. Файлы виртуальных приборов (ВП) обычно находятся на рабо-
чем столе и в указанной вам директории. Виртуальный осциллограф
ContXY.vi работает в циклическом режиме, удобном при настройке
схемы. Виртуальный осциллограф SingleXY.vi работает в однократ-
ном режиме и предусматривает запись в текстовый файл экспери-
ментальных данных. На компьютере необходимо завести свою ра-
бочую директорию, в которой будут сохраняться файлы получае-
мых данных (сохранять до сдачи работы преподавателю!). Рекомен-
дуется скопировать файлы виртуальных приборов в эту же папку и
воспользоваться ими. В этом случае можно самостоятельно модер-
низировать программу, добавляя дополнительные функции.
Для запуска программы виртуального осциллографа достаточно
сделать двойной щелчок мышкой на соответствующем файле. Либо
запустить программу LabView и открыть соответствующий файл.
Появится лицевая панель вашего виртуального осциллографа. Перед
запуском проверьте и отредактируйте параметры работы ВП. Редак-
тирование элементов виртуального прибора осуществляется курсо-
ром мыши, который может принимать различный вид. Для пере-
ключения используется паллета Tools, если вы не видите её на экра-
не, то вызовите её через меню View Ö Tools Palette. Для управле-
125 126
© www.phys.nsu.ru
ния отдельными элементами выберите инструмент Operate цикла. Осциллограф SingleXY.vi может быть запущен в цикличе-
ском режиме кнопкой , однако для его остановки придется вос-
Value. Кроме того, часто используются инструменты Posi-
пользоваться кнопкой Abort Execution без корректного завер-
tion/Size/Select и Edit Text, их предназначение понятно из на- шения цикла.
звания. Доступ к свойствам любого объекта происходит при нажатии
Установите режим работы каналов (Input Terminal Configuration) правой клавишей на выбранном объекте (контекстное меню). При
и укажите используемые физические каналы (Physical Channel). редактировании свойств экрана осциллографа можно выбрать мас-
Обычно это дифференциальный (differential) режим, Dev1/a0 для штабы шкал по X,Y (Scale) или включить режим
X входа и Dev1/a18 для Y входа. автомаcштабирования (AutoScale).
Установите необходимые пределы измерений напряжения Для определения координат точек на экране необходимо исполь-
(Minimum Value и Maximum Value). Собственные диапазоны АЦП зовать курсор. При отсутствии окна курсора необходимо поставить
±5 В , ±1 В и ±0,2 В. Измерение напряжений выходящих за пределы галочку в контекстном меню экрана (Visible Items Ö Cursor
±5 В возможно с помощью делителей, соответствующие коэффици- Legend) и в появившемся окне создать курсор (Create cursor). Ко-
енты необходимо ввести в окна множителей для каналов (Scale) для личество цифр в показаниях курсора определяется свойствами
правильного отображения сигналов. шкал X , Y (Properties Ö Format and Precision Ö Digits).
Установите скорость считывания точек осциллограмм (Sample Для определения координат точек на экране необходимо исполь-
Rate) и число точек на одной осциллограмме (Samples per Channel). зовать курсор. При отсутствии окна курсора необходимо поставить
При использовании двух и более каналов максимальная скорость галочку в контекстном меню экрана (Visible Items Ö Cursor
составляет 16600 с-1. Максимальная скорость 200000 с-1 может быть Legend) и в появившемся окне создать курсор (Create cursor). Ко-
получена только при использовании одного канала. Число точек для личество цифр в показаниях курсора определяется свойствами
периодического сигнала целесообразно задать соответствующим шкал X,Y (Properties Ö Format and Precision Ö Digits).
одному периоду. Например, для частоты 50 Гц рекомендуется уста- Сохранить изображение экрана в файл в формате .bmp можно
новить скорость считывания 10000 с-1 и количество точек на осцил- используя контекстное меню экрана осциллографа: Data Operations
лограмме равным 200. Ö Export Simplified Image.
Следует отметить, что установленные значения не сохраняются Для получения точек петли гистерезиса в осциллографе
при закрытии файла ВП, даже если сохранить файл. Необходимо SingleXY.vi предусмотрен включатель XYfile. После его включения
сделать их значениями по умолчанию (Щелкнуть на данных пра- сделайте запуск и данные будут записаны в файл, имя которого вы
вой клавишей Ö date operations Ö make current value default). зададите в диалоговом окне.
Для запуска виртуального осциллографа необходимо нажать ле- Для получения координаты правой крайней точки петли гистере-
вую клавишу мыши на кнопке Run на инструментальной зиса в осциллографе SingleXY.vi предусмотрен включатель XYend.
панели. Для остановки осциллографа ContXY.vi, работающего в При этом вы должны заранее создать пустой текстовый файл и ука-
циклическом режиме, предназначена кнопка Stop на лицевой пане- зать его в окне Path. Далее каждый запуск осциллограф будет до-
ли. Использование кнопки Abort Execution нежелательно, так бавлять в файл новую пару значений X Y .
как вызывает немедленную остановку без корректного завершения При обработке результатов средствами LabView можно добавить
на лицевую панель существующего или нового ВП необходимые
8
Плата NI 6010 поддерживает 8 аналоговых входов в дифференциальном режиме или 16 в элементы управления и индикаторы, выбрав их в подпалитре палит-
обычном, что позволяет при необходимости использовать другие каналы. Информацию о ры Controls (вызывается правой клавишей мыши) и перетащив на
контактах аналоговых входов интерфейсной платы можно получить с помощью программы
Measurement & Automation в окне Connection Diagram.
лицевую панель. Далее, необходимо вызвать окно блок-диаграммы

127 128
© www.phys.nsu.ru
через меню Windows Ö Show Block Diagram. В окне отображены
терминалы элементов управления и индикаторов. Блок-диаграмму
дополните необходимыми функциями из подпалитры палитры
Functions и соедините проводниками данных при помощи инстру-
мента Connect Wire . Подробнее о создании и редактировании
ВП можно прочитать в книге /2/ и на сайте /3/.

Библиографический список

1. http://www.ni.com
2. Дж. Тревис LabVIEW для всех. М: ПриборКомплект,2004.
3. http://picad.com.ua/lesson.htm.

129

Вам также может понравиться