Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Полупроводники.
Полупроводниковые приборы
33
3. большой срок службы;
34
Рисунок 3.1 наиболее точно изображает кристаллическую решётку при
температурах, близких к абсолютному нулю. Однако уже при комнатных тем-
пературах вследствие теплового движения некоторые электроны покидают
свои места в атомах и могут участвовать в переносе заряда — как свобод-
ные электроны в металлах. При отсутствии внешнего электрического поля
они движутся хаотично в пределах всего кристалла, подобно молекулам иде-
ального газа. При этом те места, которые были покинуты электронами, тоже
способны перемещаться по решётке, захватывая электроны соседних атомов.
Такие «вакантные» места ведут себя подобно виртуальным заряженным ча-
стицам, заряд которых равен e (e — элементарный электрический заряд).
Эти частицы называют «дырками». В отсутствие электрического поля дырки
так же, как и свободные электроны, движутся хаотически в пределах всей
кристаллической решётки.
В результате хаотического блуждания свободный электрон может за-
нять вакантное место-дырку — тогда говорят, что произошла рекомбинация
электронно-дырочной пары. При постоянной температуре процессы образова-
ния и рекомбинации электронно-дырочных пар происходят в условиях дина-
мического равновесия. При увеличении температуры, концентрация свобод-
ных электронов и дырок возрастает, что ведёт к увеличению проводимости
полупроводника.
Под действием внешнего электрического поля электроны и дырки при-
ходят в направленное движение, образуя электрический ток; причём дырки
движутся в направлении силовых линий, а электроны в противоположную
сторону. Плотность j этого тока вычисляется по формуле
j enpv v q,
где n — концентрация свободных электронов (в данном случае она совпадает с
концентрацией дырок), а v и v — средние скорости направленного движения
(дрейфа) дырок и электронов соответственно.
Описанный процесс можно рас-
сматривать с точки зрения зонной тео-
рии. У полупроводников, как и у ди-
электриков, между валентной зоной и
зонной проводимости находится запре-
щённая зона. Однако её ширина соиз-
мерима со средним значением кинетиче-
ской энергии электронов, поэтому наи-
более энергичные из них могут перей-
ти из валентной зоны в зону проводимо-
сти (см. рисунок 3.2). Образующиеся при
этом свободные места в валентной зоне —
дырки — тоже могут участвовать в пере-
Рис. 3.2: Зонная структура чистого
носе заряда. Как уже было сказано, чем
полупроводника
выше температура, тем больше образует-
ся электронно-дырочных пар.
35
Заметим, что процесс перехода электронов из валентной зоны в зону
проводимости не обязательно связан с тепловым движением. У некоторых по-
лупроводников ширина запрещённой зоны сопоставима с энергией кванта ви-
димого света или ультрафиолетового излучения (Eкв hν). Поглощая квант
света, электроны приобретают энергию, достаточную, чтобы оказаться в зоне
проводимости. Чем больше интенсивность света (чем «светлее»), тем больше
электронов переходит в зону проводимости и, соответственно, больше дырок
образуется в валентной зоне, а значит тем меньше сопротивление. На основе
таких полупроводников и изготавливаются фотосопротивления.
36
водниках n-типа превалирует электрон-
ная проводимость.
Чтобы получить полупроводник p-
типа, нужно в чистый полупроводник
ввести регулярную примесь из вещества,
валентность которого ниже валентности
основного вещества кристаллической ре-
шётки. Такие примеси называются ак-
цепторными. Благодаря атомам акцеп-
торной примеси в решётке образуются
расположенные в определённом поряд-
ке места, незаполненные электронами, —
дырки. С точки зрения зонной теории это Рис. 3.4: Зонная структура полу-
означает, что появляются дополнитель- проводника p-типа
ные энергетические уровни, расположен-
ные немного выше «потолка» валентной зоны, но значительно ниже «дна»
зоны проводимости. Эти уровни легко могут заполняться электронами из ва-
лентной зоны. Тогда в валентной зоне образуются перемещающиеся с одного
подуровня на другой дырки, которые под действием электрического поля ста-
новятся основными носителями заряда.
Носители заряда, концентрация которых в полупроводнике данного ти-
па преобладает, называются основными. Неосновные носители заряда появ-
ляются в полупроводнике за счёт его собственной проводимости. Так в полу-
проводнике n-типа основными носителями являются свободные электроны, а
неосновными — дырки, в полупроводнике p-типа, наоборот, основные — дыр-
ки, а неосновные — электроны. Концентрация основных носителей заряда в
примесных полупроводниках примерно равна концентрации атомов примеси.
Плотность тока в примесных полупроводниках определяется по формуле
j env,
где e — элементарный заряд, n — концентрация основных носителей, v —
средняя скорость их направленного движения.
Роль примеси в проводимости полупроводников очень велика. Ничтож-
ное процентное содержание примеси может увеличить проводимость в тысячи
раз. Например, в чистом германии при комнатной температуре концентрация
свободных электронов примерно равна 1013 см3 , в то время как концентрация
атомов составляет 1022 см3 . Если на каждый миллион атомов германия до-
бавить один атом мышьяка, что составляет лишь 0,0001%, то в зоне проводи-
мости окажется 1016 свободных электронов на каждый кубический сантиметр
решётки, то есть в 1000 раз больше, чем в отсутствие примеси. Это увеличит
проводимость в 1000 раз. Аналогичные рассуждения можно привести и для
полупроводников p-типа.
Следует отметить, что проводимость металлов всё равно значительно
выше проводимости полупроводников, как с собственной, так и с примесной
37
проводимостью. Это объясняется тем, что концентрация свободных электро-
нов в металле равна или в несколько раз больше концентрации атомов, то есть
примерно 1022 см3 , то есть существенно больше, чем концентрация основных
носителей в полупроводниках. Поэтому удельное сопротивление металлов низ-
кое, ρмет 108 106 Омм, а полупроводников — высокое. В зависимости
от условий оно может меняться в пределах ρпп 102 106 Омм. Впрочем,
удельное сопротивление диэлектриков всё равно на несколько порядков выше,
ρдиэл 108 1012 Омм.
38
трации) и током проводимости (движением электронов и дырок под действием
контактного электрического поля). В установившемся режиме ток диффузии
равен и противоположен току проводимости, и так как в этих токах принима-
ют участие и электроны и дырки, полный ток через запирающий слой равен
нулю.
Таким образом, в окрестности p-n перехода возникает контактная раз-
ность потенциалов ∆ϕ Eк dк , где dк — толщина запирающего слоя. На ри-
сунке 3.6 изображено распределение потенциала в окрестности p-n перехода.
В действительности толщина запирающего слоя очень мала, и на рисунке мас-
штаб сильно искажён в угоду наглядности. Вообще, чем выше концентрация
основных носителей, тем больше величина контактной разности потенциалов
и тем уже запирающий слой. Например для германия характерны значения
39
Подключим положительный полюс
источника тока к полупроводнику p-
типа, а отрицательный — к полупровод-
нику n-типа (см. рисунок 3.8). В таком
случае внешнее поле, направленное от
p к n, способствует движению дырок и
электронов через p-n переход, что при-
водит к обогащению запирающего слоя
основными носителями тока и, следова-
тельно, к уменьшению его сопротивле-
ния. В то же время резко уменьшается
разность потенциалов вблизи перехода,
так как внешнее поле направлено про-
Рис. 3.8: p-n переход во внешнем
тивоположно контактному (см. рисунок
поле
3.9, пунктиром показано распределение
потенциала в отсутствие поля). Вместе
с уменьшением контактной разности по-
тенциалов, уменьшается и потенциаль-
ный барьер, который основным носите-
лям заряда необходимо преодолеть, что-
бы попасть в «чужие» для них области.
Это означает, что для создания тока, на-
правленного от p к n, достаточно прило-
жить небольшое напряжение — обычно
порядка нескольких десятых долей одно-
го вольта.
Возникающий в результате этого
ток называется прямым. Можно считать,
что он образован направленным движе-
нием только основных носителей, по- Рис. 3.9: Распределение потенциа-
скольку диффузионные токи в этом слу- ла в случае прямого тока
чае существенно превосходят токи прово-
димости. Таким образом, в полупроводнике p-типа прямой ток представляет
собой направленное движение дырок вдоль внешнего поля, а в полупровод-
нике n-типа — движение свободных электронов в противоположном направ-
лении.
Заметим, что во внешних проводах (металлических) движутся только
электроны. Они перемещаются в направлении от «минуса» источника и ком-
пенсируют убыль электронов, уходящих через запирающий слой в область p.
Из области p электроны по проводам идут к «плюсу» источника.
Теперь подключим положительный полюс источника к полупроводнику
n-типа, а отрицательный — к полупроводнику p-типа. В этом случае напря-
жённость внешнего поля сонаправлена с напряжённостью поля в запирающем
слое, следовательно потенциальный барьер растёт и становится практически
40
непреодолимым для основных носителей. Внешнее поле стремится как бы ото-
гнать дырки и электроны друг от друга, поэтому ширина запирающего слоя и
его сопротивление увеличиваются. Токи диффузии прекращаются и через за-
пирающий слой проходят только токи проводимости, то есть те, что вызваны
направленным движением неосновных носителей. Но поскольку концентрация
неосновных носителей много меньше, чем основных, результирующий ток (он
называется обратным) много меньше прямого тока.
41
Рис. 3.12: ВАХ полупроводникового диода
42
собой импульсы тока одного направления (см. рисунок 3.15).
43
Применяются также двухполупериодные выпрямители на четырёх ди-
одах, собранных по так называемой «мостиковой схеме», изображённой на
рисунке 3.18. В течение первой половины периода, когда на клемме a «плюс»,
а на клемме b «минус», первый и третий диоды открыты, а второй и четвёр-
тый заперты; ток проходит сначала через первый диод, потом через нагрузку
от точки c к d, а потом через третий диод. За вторую половину периода знаки
на клеммах a и b меняются на противоположные, первый и третий диоды за-
перты, ток идёт через открытые второй и четвёртый диоды и через нагрузку
в том же направлении, что и полпериода тому назад. Осциллограмма такого
тока изображена на рисунке 3.19. Двухполупериодные выпрямители обладают
существенно большим КПД чем однополупериодные.
Рис. 3.18: Выпрямитель со Рис. 3.19: Ток через нагрузку в схеме с двух-
сглаживающим фильтром полупериодным выпрямителем
44
Ещё лучше в качестве сглаживающего фильтра использовать и конден-
сатор, и дроссель, включённые к диодному мосту по схеме «Г-фильтра» (рису-
нок 3.22) или по схеме «П-фильтра» с двумя конденсаторами (рисунок 3.23).
Если правильно рассчитать параметры конденсаторов и дросселя в послед-
ней схеме, можно собрать почти идеальный выпрямитель, благодаря которо-
му через нагрузку будет течь практически постоянный ток. Такие схемы ис-
пользуются для питания электронных ламп в радиоприёмниках и электродов
электронно-лучевых трубок.
45
n-p-n транзисторов). В обоих случаях средняя область называется базой, одна
из крайних — эмиттером, другая — коллектором. Обозначения транзисторов
на схемах показано на рисунках 3.26-3.27.
Рис. 3.24: Плоский p-n-p транзи- Рис. 3.25: Плоский n-p-n транзи-
стор стор
Рис. 3.26: Обозначение p-n-p тран- Рис. 3.27: Обозначение n-p-n тран-
зистора на схеме зистора на схеме
46
Рис. 3.28: Схема включения транзистора p-n-p типа в активном режиме на
постоянном токе
Iэ Iк Iб .
47
Рис. 3.29: Схема включения транзистора p-n-p типа в активном режиме на
постоянном токе
48
лении вывода базы, её сопротивление имеет порядок нескольких сотен ом,
поскольку в таком токе участвует лишь небольшое количество рекомбинирую-
щих электронов и дырок (сам ток базы образован электронами, стремящими-
ся восполнить недостаток свободных электронов, образовавшийся вследствие
рекомбинации).
Так как почти все дырки, инжектированные в базу, проникают в коллек-
тор, коллекторный ток Iк отличается от тока эмиттера Iэ лишь незначительно.
Иными словами, ток базы Iб очень мал, примерно в 50 100 раз меньше, чем
эмиттерный и коллекторный. Поэтому при расчётах можно считать
Iк Iэ.
Если под действием внешних переменных напряжений один из этих трёх токов
меняется, то меняются и два других, причём выполняется соотношение
49
Принцип работы усилителя c общей базой заключается в следующем. Пе-
ременное входное напряжение меняет эмиттерный ток, что приводит к изме-
нению тока базы и тока коллектора. Ток базы остаётся пренебрежимо малым,
поэтому колебания коллекторного тока практически совпадают с колебания-
ми эмиттерного. Это приводит к синфазным колебаниям напряжения UR на
резисторе R. Поскольку напряжение на между базой и коллектором вместе с
UR составляет E2 (внутренним сопротивлением источника можно пренебречь
или включить его в R), напряжение на коллекторном переходе колеблется
в противофазе. При этом амплитуда его колебаний совпадает с амплитудой
колебаний UR , а поскольку R существенно больше сопротивления перехода
эмиттер-база, сигнал получается усиленным.
Такое описание процесса не пояс-
няет его физики на микроуровне. Дей-
ствительно, поскольку сопротивление R
постоянно, то при увеличении коллек-
торного тока напряжение на нём растёт.
Это означает, что при увеличении то-
ка, проходящего через коллекторный пе-
реход, напряжение на нём уменьшается!
Это возможно только при резком умень-
шении его сопротивления. Такое умень-
шение достигается за счёт того, что воз-
растающий коллекторный ток обогащает
запирающий слой коллекторного перехо- Рис. 3.32: Эквивалентная схема вы-
да основными носителями (в p-n-p тран- ходной цепи
зисторе — дырками). Когда коллектор-
ный ток уменьшается, запирающий слой обедняется основными носителями,
его сопротивление увеличивается. Например, изменение эмиттерного тока от
0,5 мА до 2,5 мА приводит к изменению коллекторного сопротивления от 20
кОм до 0,8 кОм.
Для удобства можно изобразить эквивалентную схему выходной цепи
(см. рисунок 3.32). На рисунке rк обозначает сопротивление коллекторного
перехода, которое меняется в процессе работы усилителя, а напряжения Uк и
UR снимаются с rк и R соответственно. При этом
E2 Uк UR .
50
Рис. 3.33: Осциллограммы токов и напряжений в процессе работы усилителя
51
Рис. 3.34: Усилитель с общей базой
52
В таком усилителе входной сигнал управляется током базы, и поэтому
коэффициент усиления по току β ∆Iк {∆Iб здесь весьма значителен. Имен-
но, поскольку ∆Iб ∆Iэ ∆Iк , имеем
β ∆Iк
∆Iб
∆Iк
∆Iэ ∆Iк
α
1α
,
53
перехода приходится лишь малая часть этого напряжения, которой, однако,
достаточно, чтобы поддерживать эмиттерный переход в открытом состоянии
(амплитуда колебаний входного напряжения также мала).
Если по каким-либо причинам эмиттерный и коллекторный токи возрас-
тают до значений больших допустимого, то транзистор сильно нагревается.
А так как полупроводники по своим проводящим свойствам обладают высо-
кой чувствительностью к изменению температуры (чем выше температура,
тем выше проводимость), перегрев приводит к дальнейшему увеличению то-
ка, из-за чего транзистор нагревается ещё больше и быстро выходит из строя.
Чтобы воспрепятствовать этому, последовательно с эмиттером подключают
резистор, сопротивление которого того же порядка, что и у эмиттерного пе-
рехода (см. рисунок 3.37). Когда ток возрастает сверх меры, увеличивается
падение напряжения на сопротивлении R3 . Следовательно, напряжение на
эмиттерном переходе уменьшается, а вместе с ним ослабевает и эмиттерный
ток.
54