Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Федеральное агентство
по техническому регулированию и
метрологии (Росстандарт)
Москва
2017 год
Данный перевод выполнен ФБУ «КВФ «Интерстандарт» Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии согласно лицензии Американского общества по
материалам и их испытаниям (ASTM International) 100 Ваrr Harbor Drive, West Conshohocken, PA
19428, USA. ASTM International не утверждает и не подтверждает эти переводы, и при любых
обстоятельствах в качестве оригинальной версии может рассматриваться только английская
версия со знаком копирайта ASTM International. Копирование указанных переводов какой-либо
Стороной, кроме ASTM International или ФБУ «КВФ «Интерстандарт», строго запрещено в
соответствии с законодательством США и международным авторским правом.
This translation is executed by FBU “CIC “Interstandard” of Federal Agency on Technical Regulating and
Metrology under the license of American Society for Testing and Materials (ASTM International) 100 Ваrr
Harbor Drive, West Conshohocken, PA 19428, USA. ASTM International does not approve and does not
confirm these translations and in any cases only the English version published with a sign of ASTM
International copyright can be considered as the original version. Reproduction of the specified
translations by any Party, except for ASTM International or FBU “CIC “Interstandard”, is strictly forbidden
according to the USA legislation and international copyright.
Обозначение E 1444/E1444M–16ε1
1. Область применения
1
Данная методика находятся в ведении Комитета ASTM E07 по неразрушающим испытаниям и в
непосредственной ответственности Подкомитета E07.03 по методам проникающих жидкостей и
магнитопорошковой дефектоскопии.
Настоящее издание утверждено 1 июня 2016 г. Опубликовано в июне 2016 г. Первоначально стандарт
утвержден в 1991 г. Последнее предыдущее издание утверждено в 2012 г. как E 1444-12.
DOI:10.1520/E1444_E1444M-16ε1.
Краткое описание изменений приведено в конце текста данного стандарта
1
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
2
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
2. Ссылочные документы
2
Для поиска стандартов ASTM, на которые даны ссылки, посетите вебсайт ASTM www.astm.org или
свяжитесь со Службой заказов ASTM по адресу service@astm.org. В отношении информации о томе
Ежегодника стандартов ASTM см. страницу Document Summary на сайте ASTM.
3
Можно получить в Американском обществе по методам неразрушающего контроля (ASNT), P.O. Box
28518, 1711 Arlingate Ln., Колумбус, OH 43228-0518, http://www.asnt.org.
3
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
4
Копии стандартов, спецификаций, чертежей и публикаций, требуемых изготовителями в связи с
приобретением спецификации, должны предоставляться в процессе контрактной деятельности или по
поручению соответствующего должностного лица.
5
Может быть получено в SAE International (SAE), 400 Commonwealth Dr., Warrendale, PA 15096-0001,
http://www.sae.org.
4
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
дефектоскопии
2.5 Федеральные стандарты:4,6
FED-STD-313 Руководство по безопасному обращению с материалами
(MSDS), подготовка и представление на рассмотрение
FED-STD-595 Цвета
2.6 Военные стандарты:4,6
MIL-STD 45562A Требования к системам калибровки
A-A-59230 Жидкость, магнитопорошковая дефектоскопия, суспензия
2.7 Документ OSHA:7
29 CFR 1910.1200 Информация о вредности (опасности)
2.8 Документ ANSI:4,8
ANSI/NCSL Z 540-1 Общие требования к калибровочным лабораториям и
измерительному оборудованию для испытаний
2.9 Документ ISO:
ISO 10012-1 Системы менеджмента измерений - требования к процессам
измерений и измерительному оборудованию9
2.10 Документ AIA:
NAS 410 NAS Сертификация и квалификация персонала для проведения
неразрушающего контроля10
2.11 Контракты DoD— Если не указано иное, то публикации принятых
DoD документов приведены в издании DoDISS (Департамент индекса защиты
спецификаций и стандартов), указываемом в запросе.
2.12 Порядок приоритетности — В случае разногласий между текстом
6
Может быть получено в столе заказов документов по стандартизации, DODSSP, Bldg. 4, Section D, 700
Robbins Ave., Филадельфия, PA 19111-5098, http://dodssp. daps. dla.mil.
7
Может быть получено у Управляющего документацией Издательства Правительства США, 732 N. Capitol
St., NW, Mail Stop: SDE, Вашингтон, DC 20401, http://ww.access.gpo.gov.
8
Может быть получено в Национальной конференции лабораторий по стандартизации, 1800 30th St. Suite
305b, Боулдер, CO. 80301.
9
Может быть получено в Международной организации по стандартизации (ISO), 1, ch. De Voie-Creuse, CP
56, CH-1211 Женева 20, Швейцария, http://www.iso.org.
10
Может быть получено в Американской ассоциации аэрокосмической промышленности, Inc. (AIA), 1000
Wilson Blvd., Suite 1700, Арлингтон, VA 22209-3928, http://www.aia-aerospace.org.
5
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
3. Терминология
4. Значение и использование
5. Общая методика
6
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
7
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
8
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
9
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
10
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
организацией можно использовать AMS 2641 (тип II). Если это заранее
обусловлено, то нефтяной носитель суспензии должен обладать однозначно
выраженными характеристиками, указанными в A-A-59230.
5.5.4 Кондиционированный носитель на водной основе — Если в качестве
носителя суспензии для магнитных частиц используется вода, то используемые
реагенты для кондиционирования должны соответствовать AS 4792.
Необходимое увлажнение должно определяться с помощью испытания на
разрыв водяной пленки (см. 7.2.2). Более гладкие поверхности обычно требуют
большего процента смачивающего реагента, чем грубые поверхности.
Пенообразование в ванне должно быть минимизировано до такой степени,
чтобы не было влияния на процесс исследования.
5.5.4.1 Реагенты для кондиционирования носителя на водной основе —
Любые реагенты, добавляемые с любой целью к водному носителю, должны
соответствовать требованиям изготовителя частиц.
5.5.5 Концентрация частиц — Концентрация частиц в ванне с суспензией
должна быть указана в письменной процедуре. Концентрации частиц вне
диапазона от 0,1 до 0,4 мл в 100-мл пробе для флуоресцентных частиц и от 1,2
до 2,4 мл в 100-мл пробе для нефлуоресцентных частиц использовать не
следует. Флуоресцентные и нефлуоресцентные частицы нельзя использовать
вместе.
5.6 Безопасность — Безопасное обращение с магнитными частицами
(сухими или мокрыми), нефтяными носителями, водяными ваннами и
концентратами кондиционеров воды регулируется Руководством по
безопасному обращению с материалами (MSDS) поставщика. Руководство по
безопасному обращению с материалами, соответствующее 29 CFR 1910.1200
или эквивалентное, должно предоставляться поставщиком каждому
пользователю и должно быть подготовлено в соответствии с FEDSTD-313.
5.6.1 Воспламеняемость — Точка воспламенения нефтяных носителей
должна соответствовать AMS 2641, для носителей типа I. В MSDS поставщиков
11
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
12
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
13
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
14
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
15
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
16
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
17
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
18
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
19
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
20
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
21
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
22
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
23
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
24
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
7. Контроль качества
25
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
26
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
27
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
28
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
29
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
30
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
[13,5 кг] с расстоянием между ножками от 2 до 4 дюймов [от 50 до 100 мм] или
50 фунтов [22,5 кг] с расстоянием между ножками от 4 до 6 дюймов [от 100 до
150 мм].
7.4.5 Невидимое излучение — Используемые для исследования деталей
портативные, переносные и постоянно закрепленные источники невидимого
излучения должны проверяться на выходной сигнал с частотой проверки,
указанной в таблице 1, а также после замены излучающей колбы. Может
допускаться и более длительный период между проверками, если органом по
проведению неразрушающего контроля или его делегатом подготовлен
соответствующий план, обосновывающий такое удлинение периода.
Минимальная приемлемая интенсивность излучения составляет 1000 мкВт/см2
при расстоянии 15 дюймов [38,1 см] от передней части фильтра до поверхности
датчика. Все фильтры невидимого излучения следует при необходимости
заменять или каким-то другим образом корректировать.
ПРИМЕЧАНИЕ 2 — Некоторые источники ультрафиолетового излучения, кроме
использующих пары ртути, например, микроразрядные, свтодиодные источники и т.п.,
продемонстрировали такие эмиссионные характеристики, как избыточный видимый свет, а
также такую интенсивность ультрафиолетового излучения, которая может привести к
флуоресцентному обесцвечиванию, вуалевым бликам и т.п., каждый из которых может
существенно снизить надежность исследования.
7.4.5.1 Невидимое излучение, использующее светодиодный источник
ультрафиолетового излучения, должен соответствовать требованиям Методики
E 3022.
7.4.5.2 Используемое для проверки деталей невидимое излучение с
питанием от аккумулятора должно проверяться на интенсивность до начала
использования и после каждого использования.
7.4.6 Гауссметры — Все индикаторы поля должны быть откалиброваны,
а их показания должны сниматься как минимум в трех точках в каждом
динамическом диапазоне и при каждой полярности, дополнительно к нулевой.
7.4.7 Измерители невидимого излучения — Все измерители должны быть
31
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
8. Ключевые слова
32
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
ПРИЛОЖЕНИЯ
(обязательные)
33
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
34
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
35
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
36
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
Внеш. диам.
0,255 дюйма
[6,48 мм]
37
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
[0,0508 мм]. Нижний латунный слой служит для обеспечения зазора в 0,0020
дюйма [0,0508 мм] от исследуемой поверхности. Латунь не является магнитным
материалом и служит только в качестве зазора и для защиты стального слоя.
Вся полоса для большей защиты может иметь полимерное покрытие.
A3.1.2 Длина полосы равна 1,95 дюйма [50 мм], а ширина - 0,47 дюйма
[12 мм].
A3.1.3 Оба типа полос в своѐм центральном стальном слое имеют три
продольных паза.
A3.1.3.1 Ширина пазов в полосе составляет 0,0075 дюйма [0,1905 мм],
0,009 дюйма [0,2286 мм] и 0,010 дюйма [0,254 мм].
A3.1.3.2 Ширина пазов в полосе для аэрокосмических целей составляет
0,003 дюйма [0,0762 мм], 0,004 дюйма [0,1016 мм] и 0,005 дюйма [0,127 мм].
A3.1.4 Центральный стальной слой полос изготовлен из магнитного
материала с высоким значением "μ".
A3.1.5 Полосы помещают на участки исследуемой детали или
поверхности. Используйте достаточное количество полос, размещая их на
разных участках, чтобы можно было охватить необходимые направления поля.
A3.2 Указания по использованию гибких слоистых полос
A3.2.1 Применение полос - Гибкие слоистые полосы, представленные в
Приложении A3, требуют специального обращения, присоединения и
обслуживания для обеспечения точности показаний направления магнитного
поля.
A3.2.2 Полосы изготавливаются из углеродистой стали высокой
проницаемости и должны быть защищены от коррозии, когда не используются.
Их следует хранить в сухом помещении. Перед размещением полосы на детали,
как полоса, так и деталь должны быть очищены и высушены.
A3.2.3 Полосу следует размещать в плотном контакте с исследуемым
материалом. Полосу можно устанавливать на месте ручным способом, либо с
использованием адгезива или ленты.
38
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
39
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
плотный контакт.
A3.2.5 Проявляйте осторожность при нанесении суспензии на полосы.
Правильные показания полос могут не сформироваться, если суспензию
наносить грубым образом.
A3.2.6 Активный центральный слой полос изготовлен из материала с
низкой удерживающей способностью и высокой проницаемостью.
Использование полос для проверки наличия остаточных магнитных полей
может осуществляться только с одобрения Уполномоченной технической
организации.
A3.2.7 Определение направления поля
Полосы обеспечивают ярко выраженные показания частиц по трем
линиям, когда они расположены таким образом, что продольная ось полосы
перпендикулярна приложенному магнитному полю. Полоса с продольной осью,
параллельной приложенному полю, не даст никаких показаний частиц.
Обратитесь к рис. A3.3 и рис. A3.4.
A3.2.7.1 При использовании полос для определения направления поля
вначале определите место для размещения полос.
A3.2.7.2 Располагайте полосу на поверхности так, чтобы она была
перпендикулярна направлению приложенного магнитного поля. А вторая
полоса может быть расположена перпендикулярно к первой.
A3.2.7.3 При использовании непрерывного метода начинайте с установки
силы тока на минимальном уровне и медленно его увеличивайте, пока не
начнут четко наблюдаться показания линий на одной или обеих полосах.
40
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
Рис. A3.4 Слабые показания частиц могут означать, что продольная ось
полосы находится под углом (θ) к приложенному магнитному полю (H),
или что приложенное поле имеет недостаточную напряженность для
генерирования показаний.
41
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
42
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
43
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
Отверстие 1 2 3 4 5 6
Диаметр 0,07 0,07 0,07 0,07 0,07 0,07
Примечание 1 [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм]
"D" 0,07 0,14 0,21 0,28 0,35 0,42
Примечание 2 [1,78 мм] [3,56 мм] [5,33 мм] [7,11 мм] [8,89 мм] [10,67 мм]
Отверстие 7 8 9 10 11 12
Диаметр 0,07 0,07 0,07 0,07 0,07 0,07
Примечание 1 [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм] [1,78 мм]
"D" 0,49 0,56 0,63 0,70 0,77 0,84
Примечание 2 [12,45 мм] [14,22 мм] [16,00 мм] [17,78 мм] [19,56 мм] [21,34 мм]
ПРИМЕЧАНИЕ 1 — Диаметры всех отверстий имеют допуск ±0,005 дюйма [±0,13 мм]. Кольца с
отверстиями с 10 по 12 являются произвольными.
ПРИМЕЧАНИЕ 2 — Допуск на расстояние D составляет ±0,005 дюйма [±0,13 мм].
ПРИМЕЧАНИЕ 3 — Все остальные размеры имеют допуск ±0,03 дюйма [±0,76 мм].
44
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
45
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
ДОПОЛНЕНИЯ
(Справочная информация)
46
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
магнитопорошковой дефектоскопии.
X1.7 Все низколегированные углеродистые стали 1000 серии (1020, 1050,
1117, 1340 и т.д.), 4000 серии (4130, 4330, 4340M и т.д.), 5000, 6000, 8000, 9000
серий, HY 80, HY 100, 9Ni-4Co и мартенситно-стареющие стали являются
ферромагнитными и могут исследоваться методом магнитопорошковой
дефектоскопии.
Специальная
Специальная
Астролой
47
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
48
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
49
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
X2.4 Устройства
X2.4.1 Закодированная магнитная среда — Процесс магнитного
кодирования может генерировать в высокой степени управляемые магнитные
градиенты. Эти градиенты, будучи закодированными в носителе данных (то
есть в карту с магнитной дорожкой), могут использоваться в качестве
индикатора эксплуатационных характеристик магнитных частиц. На рис. X2.1
показано, как частицы могут притягиваться к закодированной полосе на карте с
магнитной дорожкой.
X2.4.2 Постоянно намагниченные устройства — Трещины в постоянно
намагниченных дисках обеспечивают рассеяние магнитного потока,
необходимое для получения показаний магнитных частиц. Наблюдение
интенсивности и яркости показаний позволяет сравнивать или оценивать
эксплуатационные характеристики магнитных частиц. На рис. X2.2 показаны
50
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
51
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
Рисунок A Рисунок Б
Рис. X2.2 Типовые размеры диска (в мм), содержащего постоянно
намагниченные поверхностные трещины. В этом случае цифра (1)
указывает на более крупные трещины, образованные при шлифовании, а
цифра (2) указывает на мелкие трещины, вызванные напряжениями
(индуцированными закалкой)
Крышка
Стальные блоки
Постоянный магнит
52
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
53
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
54
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
55
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
это описано в 6.3.1.1), то длина детали при расчете соотношения L/D должна
являться фактической длиной исследуемой части детали.
X4.3.1 Продольное намагничивание с катушками, имеющими низкий
коэффициент заполнения — Если площадь поперечного сечения катушки в
десять или более раз превышает площадь поперечного сечения исследуемой
детали, то используются следующие формулы:
X4.3.1.1 Для деталей, установленных рядом с боковой поверхностью
катушки:
(X4.1)
где:
N - количество витков в катушке,
I - протекающий через катушку ток, в амперах,
K - постоянная проницаемости, равная 45000,
L - длина детали,
D - диаметр детали в тех же единицах измерения, что и длина.
X4.3.1.2 Для деталей, установленных в центре катушки:
(X4.2)
где:
N - количество витков в катушке,
I - протекающий через катушку ток, в амперах,
R - радиус катушки, в мм (или в дюймах),
K - 1690, если R выражен в мм (43000, если R выражен в дюймах),
L - длина детали,
D - диаметр детали в тех же единицах измерения, что и длина.
X4.3.2 Продольное намагничивание с кабельной обмоткой или с
катушками, имеющими высокий коэффициент заполнения — Если площадь
поперечного сечения катушки меньше двукратной площади поперечного
сечения исследуемой детали (включая еѐ пустотелые области), то применяют
56
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
следующую формулу:
(X4.3)
где:
N - количество витков в катушке,
I - протекающий через катушку ток, в амперах,
K - 35000 ампер-витков,
L - длина детали,
D - диаметр детали в тех же единицах измерения, что и длина.
X4.3.3 Продольное намагничивание с катушками, имеющими
промежуточный коэффициент заполнения — Если площадь поперечного
сечения катушки находится между двукратной и десятикратной площадью
поперечного сечения исследуемой детали, то применяют следующую формулу:
(X4.4)
где:
N - количество витков в катушке,
I - протекающий через катушку ток, в амперах,
(NI)l - значение NI, рассчитанное для катушек с низким коэффициентом
заполнения с помощью X4.3.1.1 или X4.3.1.2,
(NI)h - значение NI, рассчитанное для катушек с высоким коэффициентом
заполнения с помощью X4.3.2,
τ - отношение площади поперечного сечения катушки к площади
поперечного сечения детали. Например, если катушка имеет диаметр 10
дюймов, а деталь имеет диаметр 5 дюймов, тогда:
(X4.5)
57
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
(X4.6)
или
где:
At - общая площадь поперечного сечения детали,
Ah - общая площадь поперечного сечения пустотелых областей детали.
Для полых цилиндрических деталей это будет выглядеть следующим
образом:
(X4.6)
или
где:
OD - внешний диаметр цилиндра,
ID - внутренний диаметр цилиндра.
58
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
3/4 - 1 дюйм.
(1,91 – 2,54 см)
НАМАГНИЧИВАЮЩАЯ КАТУШКА
МАГНИТНОЕ ПОЛЕ
КОЛЬЦЕОБРАЗНАЯ ДЕТАЛЬ
ПУТЬ
ИНДУЦИРОВАННОГО
ТОКА
КОЛЬЦЕВОЙ
ДЕФЕКТ
МНОГОСЛОЙНЫЙ
СЕРДЕЧНИК (Вихревой ток показан красным цветом, а
результирующее магнитное поле показано
синим цветом)
Рисунок A Рисунок Б
ПРИМЕЧАНИЕ 1 — Только изменяющееся магнитное поле будет генерировать
результирующий вихревой ток в кольцеобразной детали, например, когда магнитное поле в
намагничивающей катушке внезапно пропадает, или когда используется бегущая волна,
например, переменный ток; никакого вихревого тока не возникает в детали при неподвижной
волне. Результирующее тороидальное магнитное поле можно использовать для выявления в
детали кольцевых неоднородностей.
59
ASTM E 1444/E1444M–16ε1
60